LCM整合部新人.ppt

1、2002/09,Shuyu Tsai,1,教育站別：Aging C檢 D檢,LCM I INT新進人員教育訓練,2002/09,Shuyu Tsai,2,Aging簡介,Aging目的： 將組裝完成的模組進行高溫通電的測試，並以特定的pattern篩檢，將品質較不穩定的不良品即早篩出，以確保產品出貨品質。,2002/09,Shuyu Tsai,3,目前廠內所使用的Aging Type： 1.In-Line-Aging 2.Batch Type Aging Aging時間：4hr Aging溫度：555(50 5) 冷卻時間：1hr(將模組降至常溫),2002/09,Shuyu Tsai,4,I

2、n-Line-Aging and Batch Type Aging 主要差異：,In-Line-Aging： 優點：1.減少人員作業工時 2.適合單一機種作業 缺點：1.成本高 2.維修較不易,2002/09,Shuyu Tsai,5,Batch Type Aging： 優點：1.機台成本較低 2.產品類別更換較容易 3.機台維修較容易 缺點：1.耗費較多的人力與工時 2.機台較佔空間,2002/09,Shuyu Tsai,6,在Aging較常見的defect：,1.電氣性不良： S Line Defect、畫面異常、階調不良等 2.PANEL面內問題： 如注入口氣泡、白光等,2002/09,

3、Shuyu Tsai,7,C檢簡介,C檢目的： LCM製程經過高溫Aging後冷卻1hr(約降至常溫2325)進行模組出貨前的功能檢測(檢視有無電氣性異常)及品味判定(輝點、暗點、mura、異物等),2002/09,Shuyu Tsai,8,C檢檢測條件： 溫度：255 溼度：2575% 檢驗者與待檢驗產品間距約3550cm 品位檢查照明度：100200 Lux(在panel表面上量側) 檢驗者與待檢驗產品間角度：先已正視角檢驗，在以上(15度)下(15度)，左(45度)右(45度)視角進一步確認,2002/09,Shuyu Tsai,9,各pattern主要檢測內容： 全黑：輝點、線缺陷、纖

4、維異物等 全白：暗點、異物、線缺陷等 灰階：階調不良、 function不良、線缺陷等 50%Gray：mura 、黑白點 、 CF不良等 Color bar：色序誤 R(G)(B) ：暗點,2002/09,Shuyu Tsai,10,等級判定主要依據： 文件編號： 14013018 LCM產品分類規格表 文件編號： 14011020 Monitor出貨檢查基準書 文件編號： 14004044 出貨檢查基準書 for Fujitsu 文件編號： 14001036 NoteBook模組出貨檢查基準書,2002/09,Shuyu Tsai,12,CASE study 1,1.電氣不良分析： 17“

5、E4發現階調不良 action ：1.確認不良現象： 2.追查發生異常原因： 發現有不正常的訊號，經追查後發現TAB已 被B/L鋁背板的毛邊刺傷。,2002/09,Shuyu Tsai,13,3.追蹤B/L發生異常原因： 3-1發現廠內並不會造成此不良，判定追蹤原 材受入是否已有異常。 3-2確認異常來源為原材受入不良，即時通知 IQC協同廠商CHECK。 3-3持續追蹤廠商是否已改善、是否將此issue 平行展開至其他module。,2002/09,Shuyu Tsai,14,CASE study 2,2.cell異常分析： 發現不明mura action：1.確認不良現象：,2002/09,Shuyu Tsai,15,2.確認是否為固定位置或有panel模號相關性 3.確認LCM製程是否有可能造成相關不良 4.通知前製程工程師確認是否為前廠異常造成 5.確認異常品判定依據 6.教育現場人員判定水準,2002/09,Shuyu Tsai,16,D檢,目的： 檢驗module於完成LCM製程後出貨前 的外觀檢查，確認產品的外觀是否有 不良(如偏光板刮傷、鐵件刮傷、螺絲 鎖附是否有欠品、標籤是否破損. 等) ，並且更換出貨時所使用之硬式保護膜。,2002