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Failureanalysismethodofthermalimaging-assistedpositioningforconductive2023-06-21发布2023- 1 1 1 2 2 3 3 3 3 3 39.3切片分析 5 6请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中国材料与试验标准化委员会电子材料标准化领域委员会（CSTM/FC5本文件由中国材料与试验标准化委员会电子材料领域覆铜板材料标准化技术委员会导电阳极丝热成像辅助定位失效分析方法导电阳极丝conductiveanodic金属离子在电场的作用下，沿玻纤/树脂间隙移动，析出金属和化合物，形成漏电通道的现象，漏a)镀覆孔到镀覆孔b)镀覆孔到内层导体c)内层导体到内红外传感器收集到样品表面热发射数据后，呈现的图像即红外热点CAF失效导致绝缘电阻降低，通电时会因为发热产生微弱的红外能量，高灵敏度的红外探测器能品表面温度分布将发生周期性变化，结合算法可以2d)分析软件具有锁相热成像（Lock-否则，需要重新模拟试验直至阻值低于108Ω,然后再按照9.2～9.3进行试验。9.2.1连接电源9.2.2选择镜头9.2.3调节镜头测试电压和限流初始值应设置较低数值，防止CAF被高电流破坏，建议初始测试电压设置为9.2.5调节测试参数电阻越大，设置的测试电压越大，设置电压建议不超过CAF9.2.6设置电源方波周期9.2.7开始测试4a)热量聚集初期b)热量聚集末期c)热量扩散初期d)9.3.1水平研磨分析9.3.2垂直研磨分析水平研磨分析找到CAF的层次位置后，可以开始垂直的研磨分析，垂直研磨5c)当CAF呈细小的丝状时，平行细丝方向研磨时容易损坏细丝，可跳过9.3.2a）步骤，直接进行e）分析结果：包含但不限于红外热点与样品外观叠加图和

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