• 现行
  • 正在执行有效
  • 2025-03-19 颁布
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【正版授权-英/法语版】 IEC 63185:2025 EN-FR Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 63185:2025 EN-FR
  • 标准名称：低损耗介电基底复介电性的测量——平衡式圆盘谐振器法
  • 英文名称：Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2025-03-19

文档简介

IEC63185:2025是一个国际电工委员会（IEC）制定的标准，主要用于测量低损耗介质基片的复介电常数。这是一个针对平衡式圆盘谐振器（balanced-typecirculardiskresonator）方法的测量标准。具体来说，该方法使用了一个平衡式圆盘谐振器电路来检测和分析在给定的介质基片上施加的电磁波。

这个标准的主要步骤包括：

1.准备测试样品：样品应该是一个低损耗的介质基片，其特性应该与所测量的电磁波频率相匹配。

2.安装和校准测试系统：包括电磁波源、样品放置平台、测量设备（如平衡式圆盘谐振器电路）和数据处理系统。所有设备都需要进行校准以确保准确测量。

3.施加电磁波：通过电磁波源向样品施加特定频率和模式的电磁波。

4.测量和分析：使用测量设备检测施加的电磁波在样品上的反射和传输，通过分析这些数据可以得出样品的复介电常数。

5.数据处理和结果解释：根据测量数据，使用适当的算法和模型进行数据处理，得到样品的复介电常数的具体数值和相关特性。

这个标准对于研究和生产涉及到介质基片的应用（如无线通信、光学、生物医学等）具有重要的意义，因为它提供了精确测量介质基片电

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