• 现行
  • 正在执行有效
  • 2025-03-20 颁布
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【正版授权-英语版】 ISO 21456:2025 EN Determination of the residual stress of TGO layer in thermal barrier coating by photoexcitation fluorescence piezoelectric spectroscopy_第1页
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基本信息：

  • 标准号：ISO 21456:2025 EN
  • 标准名称：通过光激发荧光压电光谱测定热障涂层中的TGO残余应力
  • 英文名称：Determination of the residual stress of TGO layer in thermal barrier coating by photoexcitation fluorescence piezoelectric spectroscopy
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2025-03-20

文档简介

ISO21456:2025是一份关于通过光激励荧光压电光谱方法来测定热障涂层中TOG0层的残余应力的国际标准。下面是对该标准的详细解释：

1.**残余应力**：材料内部由于各种原因（如热膨胀、冷热交替、内部应力等）产生的应力，这些应力可能会影响材料的性能和使用寿命。

2.**热障涂层**：一种用于减少发动机热损失和改善热循环性能的涂层，通常用于高温环境中的发动机部件上。

3.**光激励荧光**：当光线照射到物质时，如果该物质具有荧光特性，就会产生荧光现象。荧光通常是物质受到特定波长光的激发后，发射出不同波长的光线。

4.**压电光谱**：一种用于测量材料成分和特性的技术，通过测量材料在受到压力或电压时的电性质变化来进行分析。

通过光激励荧光压电光谱的方法，可以测量热障涂层中的TOG0层的残余应力。这种方法的基本原理是利用光激励技术激发涂层中的荧光，然后通过分析发射的荧光波长和强度，可以推断出涂层中TOG0层的应力状态。这种方法具有高灵敏度和高精度，可以用于评估热障涂层的性能和寿命。

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