耳温枪温度传感器

3T/CASMEXXXXX—XXXX耳温枪温度传感器本标准规定了耳温枪温度传感器（以下简称传感器）的术语和定义、分类、型号、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于耳温枪温度传感器。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温GB/T2423.3-2016环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验GB/T2423.7-2018环境试验第2部分:试验方法试验Ec:粗率操作造成的冲击（主要用于设备型样GB/T2423.10-2019电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc:振动(正弦)GB/T2423.22-2012环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化GB/T2423.23-2013环境试验第2部分：试验方法试验Q：密封GB/T2829-2002周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)GB/T4937.14-2018半导体器件机械和气候试验方法第14部分：引出端强度（引线牢固性）GB/T6663.1-2007直热式负温度系数热敏电阻器第1部分：总规范GB/T13584-2011红外探测器参数测试方法3术语和定义下列术语和定义适用于本文件。3.1耳温枪温度传感器Eartemperatureguntemperaturesensor由单元热电堆芯片与热敏电阻或其他处理电路通过封装构成的红外传感器。4技术要求4.1工作环境要求传感器的工作环境要求如下：——工作温度：-20℃~85℃;——贮存温度：-40℃~120℃4T/CASMEXXXXX—XXXX——相对湿度：≤85%；——大气压力：86kPa～106kPa。4.2标准测试条件传感器的检测应在下列标准测试条件下进行：——温度：15℃~30℃;——相对湿度：10%～80%；——大气压力：86kPa～106kPa。如与标准条件不同，应在检测报告中注明。4.3外观按5.2进行检验，传感器的外观应符合如下要求：a）传感器表面应清洁、光滑，无目视可见的瑕疵、锈蚀和损伤，标志应清晰完整、准确；b）传感器滤光片通光区域无裂缝、破损、可移动污物，麻点或不可移动污物直径小于25um，数量少于10粒，划痕宽度小于5um、长度小于100um，数量少于3条，滤光片贴合窗口胶水溢出不大于30um；c）封装外壳及引脚不可有可移动污物、镀金层脱落、变形、氧化及针孔。4.4外形尺寸按5.3进行检验，推荐的传感器的外形尺寸如下：a）TO金属管壳封装：TO46、TO39、TO5、TO56、TO41、TO18，其各尺寸公差不超过±0.1mm；b）SMD陶瓷管壳封装：3.8mm*3.8mm、4.8mm*4.8mm、5.0mm*5.0mm、5.5mm*5.5mm，其各尺寸公差应不超过±0.1mm；c）其他封装形式的，外形尺寸不做限定，但应符合小型化、扁平化的外观要求，其各尺寸公差应不超过±0.1mm。4.5性能特性传感器的性能特性要求应符合表1的规定。表1传感器性能特性要求性能特性要求检验方法输出信号（mV）0.2~25.4.1响应率（V/W）5.4.2热电堆电阻（kOhm）≤1505.4.3噪声（nV/Hz½)5.4.4噪声等效功率（nW）≤归一化探测率（cm•Hz1/2/W）≥1×1085.4.6热响应时间（ms）5.4.75.4.8光谱响应范围温度检测：5.5μm～14气体检测：根据被测气体实际光谱确定；火焰探测：4.3μm。5.4.9温度检测：14μm；5.4.95T/CASMEXXXXX—XXXX气体检测：根据被测气体实际光谱确定；火焰探测：4.3μm。热敏电阻阻值（kΩ)100±3%5.4.10热敏电阻温度系数（K）3950±1%5.4.11贮存温度范围(℃)-40～1204.6.1、4.6.2工作温度范围(℃)-20～854.6.3、环境性能4.6.1低温贮存按GB/T2423.1-2008的规定的方法进行。试验温度（-40±5）℃,贮存时间1000h，试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。4.6.2高温贮存按GB/T2423.2-2008的规定的方法进行。试验温度（120±5）℃,试验时间1000h，试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。4.6.3低温工作按GB/T2423.1-2008的规定的方法进行。试验温度（-20±5）℃,工作时间96h。试验时检测传感器的输出信号、热电堆电阻和热敏电阻应满足表1的要求。试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。4.6.4高温工作按GB/T2423.2-2008的规定的方法进行。试验温度（85±5）℃,工作时间96h。试验时检测传感器的输出信号、热电堆电阻和热敏电阻应满足表1的要求。试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。6T/CASMEXXXXX—XXXX4.6.5温度循环按GB/T2423.22-2012规定的方法进行。温度循环期间传感器不加电，按以下条件循环不少于10a)（-40±5）℃保持30分钟；b)（25±5）℃保持3分钟；c)（120±5）℃保持30分钟；d)（25±5）℃保持3分钟。试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。4.6.6高温高湿按GB/T2423.3-2016规定的方法进行。试验温度（60±5）℃,试验湿度（85±5%试验时间1000h，试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。4.6.7振动按GB/T2423.10-2019规定的方法进行，试验条件如下：a）振动频率：10Hz~55Hz；b）试验时间：每轴6小时；c）试验方向：X、Y、Z轴方向。试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。4.6.8自由跌落按GB/T2423.7-2018规定的方法进行。1m高度，自由跌落3次，Z轴垂直向下，试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：a)输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；b)热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；c)热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；d)热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。4.6.9气密性检验7T/CASMEXXXXX—XXXX按GB/T2423.23-2013规定的方法进行。利用氦质谱检漏仪对传感器进行密封性检验，试验条件如a）加压条件：550kPa；b）氦保压时间：2小时；c）保压后30分钟内完成测试。试验后检测传感器的泄漏率指标需满足如下要求：氦泄漏率小于1.0×10-9Pa.m3/s。4.6.10滤光片耐擦利用RCA耐磨仪对传感器进行耐摩擦检验，试验条件如下：a）测试负荷：55g；b）摩擦方式：间歇式；c）测试次数：150圈；d）测试速率：10圈/min。试验后检测传感器的滤光片指标需满足本规范的4.3（b）的要求。4.6.11引出端强度按GB/T4937.14-2018规定的方法进行，试验后检测传感器的引出端需满足如下要求：a）引出端镀金层无掉落或剥落；b）引出端无断裂、弯折或扭曲。4.6.12电磁兼容（规定时）按EN60601-1-2规定的方法进行。辐射场强28V/m条件下，试验后检测传感器的性能指标需满足如下要求：a）输出信号试验后相对于试验前的变化量不超过±2%；b）热电堆电阻试验后相对于试验前的变化量不超过±0.5%；c）热敏电阻阻值试验后相对于试验前的变化量不超过在±0.5%；d）热敏电阻温度系数试验后相对于试验前的变化量不超过±0.2%。5检验方法5.1气候环境条件按GB/T13584—2011的的规定。5.2外观用目检和50倍显微镜检测传感器的外观。5.3外形尺寸用卡尺、千分尺、千分表、标准规或其他标准量具仪器检测传感器的外形及关键部位的尺寸。5.4性能特性5.4.1输出信号8T/CASMEXXXXX—XXXX按GB/T13584—2011图2连接测试系统，环境温度为25℃,黑体温度为37℃,发射率为1，温度平衡状态下采用数字万用表直接测量传感器输出管脚的直流电压即为输出信号。5.4.2响应率按GB/T13584—2011中6.1的规定测试。5.4.3热电堆电阻采用数字万用表直接测量传感器输出信号管脚两端的电阻阻值。5.4.4热电堆噪声按GB/T13584—2011中6.2的规定测试。5.4.5噪声等效功率按GB/T13584—2011中6.5的规定测试。5.4.6归一化探测率按GB/T13584—2011中的规定测试。5.4.7热响应时间按GB/T13584—2011中6.6的规定测试，脉冲截止点选取最大响应的63%处。5.4.8视场角测试系统示意图如图1所示，以传感器位置为圆心，黑体点光源到传感器的距离为半径，旋转黑体点光源，测量在示波器上能探测到50%归一化输出信号电压的最大空间角度，即为视场角。5.4.9光谱响应范围和截止波长按GB/T13584—2011中6.3的方法2的规定测试。5.4.10热敏电阻阻值按GB/T6663.1-2007中4.5的规定测试，环境温度为25℃±0.05℃,在油槽中测试。5.4.11热敏电阻温度系数按GB/T6663.1-2007中4.6的规定测试，在25℃和50℃环境温度下计算。9T/CASMEXXXXX—XXXX6检验规则6.1检验分类传感器检验分为出厂检验和型式检验。6.2出厂检验6.2.1检验批一个检验批应由一个或多个生产批组成。若干个生产批组成的检验批中的产品的生产间隔时间不得超过规定的时间。6.2.2检验项目及抽样方案出厂检验应按表2规定的检验顺序和检验项目进行100%检验，检验合格后方可出厂。表2检验项目序号检验项目要求章条号出厂检验型式检验1外观4.2√√2外形尺寸4.3√√3输出信号4.4√√4响应率4.4√√5热电堆电阻4.4√√6热电堆噪声4.4√√7噪声等效功率4.4√√8归一化探测率4.4√√9热响应时间4.4√√视场角4.4√√热敏电阻阻值4.4√√热敏电阻温度系数4.4√√低温贮存4.6.1—√高温贮存4.6.2—√低温工作4.6.3—√高温工作4.6.4—√温度循环4.6.5—√高温高湿4.6.6—√振动4.6.7—√4.6.8—√气密性检验4.6.9—√滤光片耐擦4.6.10—√引出端强度4.6.11—√电磁兼容（规定时）4.6.12—√7.3型式检验T/CASMEXXXXX—XXXX7.3.1检验原则传感器具备下列情况之一时，应进行型式检验：a）新产品或老产品转厂生产的试验定型鉴定；b）正式生产后，如结构、材料、工艺等有较大改变，可能影响产品性能时；c）正常生产时，定期或积累一定产量后，应周期性的进行检验，检验周期一般应为1年；d）产品停产1年以上，恢复生产时；e）出厂检验结果与上次型式检验有较大差异时；f）大批量产品的用户要求在验收中进行型式检验时；g）国家质量监督机构提出进行型式检验的要求时。7.3.2检验项目检验项目及检验顺序按表3的规定进行。7.3.3抽样及合格判定型式检验的抽样按GB/T2829—2002中的5.8执行，以不合格品数为判断依据。样本量n=10，采用判别水平I的一次性抽样