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德信诚培训网更多免费资料下载请进: 好好学习社区可控硅元器件检验标准1、适用范围:适用于我公司生产电子开关及同类型产品中采用可控硅的基本要求、检验方法、检查水平(IL)、可接收质量水平(AQL)、检验规则。并按相应规定将各种规格可控硅进行选择。序号检验项目标准内容检验方法ILAQL%值MINMAJCR封装晶体管封装外观无损伤、无沙眼、无废边等缺陷存在。参样品目视游标卡尺放大镜S-40.1切筋切筋准确,无毛边、毛刺等缺陷。参照样品S-44.引脚晶体管管脚无断裂、氧化现象,引脚间无搭焊,折弯1次后不能有断裂痕迹。参照样品S-44.印记可控硅印记清晰正确且牢固。参照样品S-44.芯片面积打开可控硅查看芯片应与封样品一致。参照样品及下表参数S-40.1可焊性上锡面积大于应上锡面积的95%,且在引线上端润湿的情况下,焊料能自由流动槽焊法:240S-40.653、单向可控硅电参数检验:2、外观检验:表1:序号检验项目检测方法MCR308TO-92MCR100-8TO-92MCR22-8TO-92YCR02TO-92LILAQL%值MINMAJCR芯片面积mm2游标卡尺放大镜0.8X0.80.9X0.91.3X1.31.5X1.5S-40.1断态重复峰值电压VDRMIR=50μAQT-2图示仪≥600V≥600V≥600V≥600VS-40.1通态峰值电压VTM1.1
-1.7V1.1
-1.7V1.1
-1.7V1.1
-1.7VS-44.维持电流IHIT=0.1A,IGT=0.12mA5mA5mA5mA5mAS-44控制极触发电流IGTIVAK=6V,RL=100Ω10-100uA10-100uA10-100uA10-100uAS-40.1控制极触发电压VGTIVAK=6V,RL=100Ω0.4-0.8V0.5-0.8V0.5-0.8V0.5-0.8VS-44.表2
续表2序号检验项目检测方法MCR308TO-92MCR100-8TO-92MCR22-8TO-92YCR02TO-92LILAQL%值MINMAJCR控制极不触发电压VGDVDRM=400V,
RGR=1KΩ,0.1V0.1V0.1V0.1VS-44.通态平均电流IT自制夹具QT-2图示仪0.6A0.8A1.5A2.0AⅡ0.1通态不重复浪涌电流ITSM≥6A≥8A≥15A≥20AS-40.65结温TJ红外温度测试仪110110110110S-40.65反向重复峰值电压VRRMIR=50μAQT-2图示仪≥600V≥600V≥600V≥600VⅡ0.65脚位排列万用表AGKAGKAGKAGKⅡ0.14、双向可控硅电参数检验:表3:序号检验项目检测方法MCR97A6TO-92BT134TO-220BT136TO-220BTA06TO-220ILAQL%值MINMAJCR芯片面积mm2游标卡尺放大镜1.3X1.31.9X1.92.5X2.52.9X2.9S-40.1断态重复峰值电压VDRMQT-2图示仪IR=50μA≥600V≥600V≥600V≥600VS-40.1通态峰值电压VTMIT=6A1.1
-1.7V1.1
-1.7V1.1
-1.7V1.1
-1.7VS-44.
续表3:序号检验项目检测方法MCR97A6TO-92BT134TO-220BT136TO-220BTA06TO-220ILAQL%值MINMAJCR维持电流IHIT=0.1A,IGT=20mA8mA15mA15mA50mAS-44.控制极触发电流IGTIVAK=6V,RL=100Ω1-10mA1-10mA1-10mA1-15mAS-4.0.1控制极触发电压VGTIVAK=6V,RL=100Ω0.7-1.5V0.7-1.5V0.7-1.5V0.7-1.5VS-44.通态平均电流IT自制负载夹具QT-2图示仪12A4A6AⅡ0.1通态不重复浪涌电流ITSM≥6A≥8A≥15A≥20AS-40.65结温TJ红外温度测试仪110110110110S-40.65反向重复峰值电压VRRMIR=50μAQT-2图示仪≥600V≥600V≥600V≥600VⅡ0.65脚位排列万用表A1AA1AA1AA1A0.15、双向可控硅电参数检验:表4:序号检验项目检测方法BTA08TO-220BTA10TO-220BTA12TO-220BTA16TO-220ILAQL%值MINMAJCR芯片面积mm2游标卡尺放大镜3.2X3.23.3X3.33.5X3.53.9X3.9S-40.1断态重复峰值电压VDRMQT-2图示仪≥600V≥600V≥600V≥600VS-40.1通态峰值电压VTMIT=6A1.1
-1.7V1.1
-1.7V1.1
-1.7V1.1
-1.7VS-44.
续表4:序号检验项目检测方法BTA08TO-220BTA10TO-220BTA12TO-220BTA16TO-220ILAQL%值MINMAJCR维持电流IHIT=0.1A,IGT=20mA50mA50mA50mA50mAS-44.控制极触发电流IGTIVAK=6V,RL=100Ω10-30mA10-30mA10-30mA10-30mAS-40.1控制极触发电压VGTIVAK=6V,RL=100Ω0.7-1.5V0.7-1.5V0.7-1.5V0.7-1.5VS-44.通态平均电流IT自制负载夹具QT-2图示仪810A12A1Ⅱ0.1通态不重复浪涌电流ITSM≥80A≥100A≥120A≥160AS-40.65结温TJ红外温度测试仪110110110110S-44反向重复峰值电压VRRMIR=50μAQT-2图示仪≥600V≥600V≥600V≥600VⅡ4.脚位排列万用表A1AA1AA1AA1AⅡ0.16、检验规则:6.1对元器件用游标卡尺或电参数测量部分,每批次记录20-100个数据,合格与不合格数据必须如实记录,以便于查证。
6.2所有来料质量是否符合本标准规定,由品质部IQC检验人员依照下表对来料进行检验。检验项目接收让步接收退货来料送样确认表1-4所有参数合格表1-4中AQL=0.1IT=Ⅱ所有参数合格样品确认单未经品质部、开发部、采购部确认装机试验(10只以上相关产品)合格客户检验报告及相关技术资料样品确认单批量采购表1-4中AQL=0.1的所有参数所有参数合格或芯片面积和IT值均为合格芯片面积合格或IT值合格客户不同意让步接收不合格装机试验(5只相关产品)合格合格客户检验报告采购部下发给客户相关订单6.3来料通过检验合格后,方可投入批量生产,需要让步接收或退货按公司相关程序文件要求执行6.4引用标准GB/T2828.1-2003逐批检验计数抽样程序及抽样表7、本标准使用注意:7.1本标准
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