DB11∕T 1699-2019 在用氨制冷压力管道X射线数字成像检测技术要求

备案号：69326-2020DB11北京市市场监督管理局发布 李浩、李宏雷、陈克、刘阳、赵军、杨雷、崔本标准，主要技术特点如下：——X射线数字成像检测技术等级按图像质量分为两个级别：A级图像质量—基本技术；B级图像质——规定了管道本体剩余厚度测量内容。在用氨制冷压力管道X射线数字成像检测技术要求本标准规定了在用氨制冷压力管道本体及其焊本标准适用于公称直径不大于400mm的在用氨制冷压力管道本体剩余厚度测量凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单GB/T23901.5—2019无损检测将X射线转换为离散阵列模拟电信号、经模数转换后通过计算机显示输出X射线数字图像的电子设X射线穿透工件经探测器采集转换为数字信号输入计算机处理显示图像的一种成像方法。X射线数字探测器的的基本组成单元，即与敏感元器件对应的点。与探测器曝光量严格成正比例的像素灰度值，当探测器未曝光，对应在无被检工件、像质计放置于数字探测器之上和透照几何放大倍数接近于1时，检测系统所能分辨的最小几何尺寸细节的能力，在数值上等于X射线数字成像检测技术等级按图像质量分为5.1.1从事X射线数字成像检测的人5.1.3检测人员应了解与X射线数字成像技5.2.1.2应根据被检工件的厚度、规格、焦距大小以及是否含介质、带5.2.2.4探测器供应商应提供探测器5.2.2.5应按照具体的探测器系统规定的图像5.2.4.1图像相对灵敏度采用线型像质计进行测定，线型像质计的型号和规格应符合GB/T23901.15.2.4.2数字图像和阵列数字探测器基本空间分辨力采用双线型像质计5.2.4.3.1无包覆层、不含液态介质管道线型值）不能满足透照要求（见附录A中表A.1～A.3），应放置于靠近探测器的保温5.2.4.3.3含液态介质管道线型像质计宜放置在探测器侧5.2.4.3.4当线型像质计放置在探测器侧时，应在5.2.4.4.2焊缝双壁双影透照，双线型像质计5.2.4.4.3焊缝双壁单影或单壁单影透照，双线型像质计5.2.4.4.4管道带包覆层时，双线型像质计置于包覆层上5.2.4.4.5当双线型像质计放置在探测器侧时，应应与像质计的标记同时出现在图像上，且应在检测报告5.2.4.4.6双线型像质计金属丝与探测器的行或列成较小的夹角（2°~5°),且细丝置于外侧。在透照5.2.6.1应提供检测系统性能测试证明文件。在第一次使用前应进行检5.2.6.2在如下情况下应进行核查，核查主要指测试系统分辨力，核查方法按NB/T47013.11—20155.2.7.1应按照检测速度、检测设备和检测质量的要求，通过协调影响5.2.8.1检测环境应满足说明书中对相应检测系统的温度、湿度、接地5.2.8.4现场通风条件良好，氨浓度应在人体安全水平以下6.1.1.2不带包覆层、含液氨制冷管道对接焊缝X数字成像检测检测透照方式见图4～图6。f’——X射线源至工件之间的垂直距离；b’——工件至探测器之间的垂直距离；注：源至工件距离可采用f’代替f。6.1.2.1透照时射线束中心应垂直指向成像区中心，需要时），6.1.3.4由于结构原因不能进行多次透照时，经合同双方商定采用切线技术测量管道壁厚的透照方式见图13；采用双壁厚技术测量管道壁厚损失的透照方式见对于图1、图2、图4、图5、图7、图8、图10、图11≥7.5b23………………（1）≥15b23若规定对面状缺陷进行检测，为降低几何不清晰度，即使A级图像质量合格，射线源至被检工件表对于图7～图9、图10～图12透照方式，如果像质计相对灵敏度A.5要求，可以通过几何放大技术降低图像不清晰度。几何放大技术原如果图像相对灵敏度和不清晰度不能同时达到表A.1～表A.5的规定，可通过增加曝光量提高信噪对于小型缺陷（缺陷在射线透过方向上的尺寸Δw远远小于透照厚度补偿原则基于下列理论近μeff-有效衰减系数；为保证获得足够相对灵敏度的X射线数字图像，在以下三-6.6.4.2人工识别可通过窗位工具将计算机识别的灰度范围转6.6.5.2使用已知尺寸且经过标定的物），6.7.2.2检测图像应备份不少于两份，相应按照现场操作的实际情况详细记录检测过程的有关信息和数据。X射线数字成像检测记录除符合时间、射线机与探测器的相对关系、透照几何f)图像评定：灰度值、信噪比、图像灵敏度、图应依据检测记录出具检测报告，报告格式见N表A.1线型像质计像质值——单壁透照、表A.2线型像质计像质值——双壁双影透照、注：管道内含液态介质，应将液态介质深度折算成当量厚度后计入透照厚度w；氨液当量表A.3线型像质计像质值——双壁单影或双影透照，IQI注：管道内含液态介质，应将液态介质深度折算成当量厚度后计入透照厚度w；氨液当量表A.4图像质量A级最大不清晰度与图像注1：对于管道内不含液态介质的双壁单影透照方式，透照厚注3：最小可见IQI丝号和SR适用于接触透照。如果采用几何放大倍率透照技术见6.4节）IQI丝号和SR应在参考图像上读取。注1：对于双壁单影透照技术，透照厚度w=名义厚度t；计入透照厚度w。注3：最小可见IQI丝号和SR适用于接触透照。如果采用几何放大倍率透照技术见SR应在参考图像上读取。d………………f-射线源至工件之间的距离，mm；规定最大图像不清晰度uIm按公式（B.2）进行估算：几何放大倍率增加和/或焦点尺寸减小以降低图像不清晰度，使之几何放大倍率的正确选择应通过图像中放置于工件之上的双），），），），[2]质检总局特种设备局关于氨制3]ISO17636-2:2013（E）Non-destructivetestingofwelds—Radiographdgamma-raytechniqueswithdigitaldetindicators(wiretype)—Determinationofimagequalityvalueindicators(duplexwiretype)—Determinationofimageunsharpnessvalue[6]ISO5576Non-destruct