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文档简介

实验室可靠性试验计划表,,,,,,,,7月份,,,,,,,,,,,,,8月份,,

机型,试验目的,样品接收日期,样品数量,试验项目,试验状态,测试数量,31,19,20,21,22,23,24,25,26,27,28,29,30,31,1,2,3

BT45B,第一次试产可靠性测试,2013/7/19,5PCS,常规测试,NG,20,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,自由跌落,NG,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,ESD,NG,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,盐雾,待测试,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,恒定湿热,待测试,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,温度冲击,待测试,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,高温贮存,待测试,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,高温工作,待测试,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,低温工作,待测试,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,低温贮存,待测试,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,极限充电,待测试,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,粉尘,进行中,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,数据线插拔,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,侧键寿命,待测试,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,滚筒,进行中,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,重复跌落,待测试,2,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,耳机插拔,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,电池盖插拔,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,SIM卡插拔,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,存储卡插拔,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,小球冲击,OK,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,人汗,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,水煮,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,盐雾,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,耐磨,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,螺母扭力,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,螺母拉力,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,硬度,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

,,,,百格,待测试,1,,,,,,,,,,,,,,,,,

：试验排期■：休息日,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,

"整机数量安排：

2台安排：ESD、粉尘、滚筒、小球冲击、侧键寿命，人手试验

2台安排：自由跌落、环境试验(高、低温贮存，温度冲击，恒定温热，高、低温工

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