材料测试方法智慧树知到期末考试答案章节答案2024年江苏大学

材料测试方法智慧树知到期末考试答案+章节答案2024年江苏大学电子束作用于样品时深度大于10nm的位置不会产生二次电子。

答案:错晶体中的一部分相对于另一部分按特定的对称关系生长在一起，即形成了超点阵斑点。

答案:错SEM的分辨率主要取决于物理信号而不是衍射效应和球差。

答案:对采用约翰逊型聚焦法能够实现X射线完全聚焦的原因是分光晶体的衍射晶面曲率半径等于聚焦圆曲率半径。

答案:错一般情况下，凭借某一个晶带的衍射斑点，可以确定晶体的基本结构。

答案:错电子束作用于样品产生散射实际上是受到电子和原子核的库仑力作用而发生偏转。

答案:对消像散器形成的矫正磁场在强度上可调，在方位上不可调。

答案:错衬度是显微图像中不同区域的明暗差别

答案:对利用选区电子衍射可以在多晶体样品中获得单晶体衍射花样。

答案:对结构因子F是晶体结构对衍射强度的影响因素。

答案:对当晶体内部的原子或离子产生有规律的位移或不同原子产生有序排列时，有可能使本来消光的斑点出现，衍射花样中也将出现相应的额外斑点。

答案:对投影镜是用来形成第一幅高分辨电子显微图像或电子衍射花样。

答案:错通过倒易原点的倒易平面只有一个。

答案:对物镜光阑通常安装在物镜的背焦面上。

答案:对背散射电子产额的主要影响因素有（）。

答案:入射电子能量;样品原子序数;样品倾斜角度爱瓦尔德球图解法中，能够描述入射束方向、衍射束方向和衍射晶面倒易矢量之间相对几何关系的参数是（

）。

答案:k;;k′二次电子产额主要影响因素有（）。

答案:二次电子能谱特性;样品倾斜角度;入射电子能量波谱仪与能谱仪相比，能谱仪优点有（）。

答案:分析速度快;没有机械传动部件;检测效率高;对样品表面没有特殊要求透射电子显微操作中，对于样品的要求以下说法正确的是（）。

答案:组织结构能够代表大块样品;表面效应可忽略;杜绝腐蚀和氧化EBSD探头采集（），重构后获得样品微区组织和织构等信息

答案:菊池花样面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是

答案:8在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的原子核外电子是（）。

答案:二次电子在SEM中，二次电子像衬度最亮的区域是（）。

答案:和电子束成60°的表面对于体心立方点阵，采用（

）方法进行衍射花样标定比较简便。

答案:比值法采用离轴光线成像的是（

）

答案:暗场像在单晶体电子衍射花样标定过程中，利用以下哪个参数确定对应的晶面（

）。

答案:d值为实现对X射线聚焦，约翰逊型聚焦法中分光晶体需要满足（）。

答案:分光晶体衍射晶面的曲率半径=倍聚焦圆半径R计算晶带轴指数的基本原理是（

）。

答案:晶带定理选区光阑应该加在什么位置以实现选取电子衍射操作？

答案:物镜的像平面SEM中物镜是弱磁透镜，可为样品室和透镜之间预留检测器安装空间。

答案:对调节中间镜使中间镜的物平面和物镜的像平面重合，实现电子衍射操作。

答案:错高分辨透射电子显微术（HRTEM）是材料分子级别显微组织结构的相位衬度显微术。

答案:错聚光镜光阑一般安装在物镜的后焦面上。

答案:错闪烁体计数器探测信号是基于信号作用于闪烁体产生光、所产生的光作用于光敏阴极而产生电信号来实现探测的。

答案:对EBSD技术可广泛应用于显微组织及织构分析，其中织构可采用极图、反极图及取向分布函数描述。

答案:对超点阵斑点一般出现在无序固溶体禁止反射的位置，强度一般较高。

答案:错尽管物质的种类有千千万万，但却没有两种衍射花样完全相同的物质。

答案:对零层倒易面上的各倒易矢量都和晶带轴r=[uvw]垂直（⊥r）

答案:对机械抛光减薄法在减薄时应该留有在最终减薄时应该去除的硬化余量。

答案:对未知晶体结构衍射花样标定时，应该在几个不同的方位摄取衍射花样，测低指数斑点的R值。

答案:对入射束与试样内各晶面相对位向不同不会造成衍射强度的明显差异。

答案:错波谱仪是逐一接收元素的特征波长进行成分分析；能谱仪是同时接收所有元素的特征X射线进行成分分析的。

答案:对对于给定原子，其Kα线的波长比Kβ线波长短。

答案:错二次电子的产额随样品的倾斜度成变化，倾斜度最小，二次电子产额多。

答案:错布拉格方程的一般形式是2dsin2θ=λ。

答案:错高分辨显微像的衬度由透射波与衍射波的相位差决定。

答案:对场发射电子枪比热发射电子枪亮度更高，束斑尺寸更小，电子束相干性更好。

答案:对点阵参数精确测定时，应尽可能选取高角度的衍射线。

答案:对HRTEM是透射束和衍射束干涉形成的衬度，反应了晶体的周期性排列。

答案:对以下哪些是倒易阵点指数的约束条件（

）。

答案:非结构消光;满足晶带定理X射线衍射方法有

答案:粉末多晶法;德拜法;周转晶体法;劳厄法关于选区电子衍射，以下说法正确的是（

）。

答案:在物镜的像平面上插入选区光阑实现。;电镜在获得显微图像之后需要切换为电子衍射模式获得衍射花样;需要现在成像模式获得放大的显微图像入射电子束穿过样品经物镜聚焦成像，在

上形成衍射花样，在

上形成显微图像。

答案:物镜背焦面;像平面以下哪些可以用来搭载样品？

答案:铜网;载网支持膜;微栅膜;碳支持膜X射线衍射仪常规测量中衍射强度的测量方法有哪些？

答案:连续扫描;步进扫描体心立方晶体的衍射条件和消光条件分别是

和

。

答案:（H+K+L）偶数;（H+K+L）奇数在衍射分析中，θ的名称可以是

答案:掠射角;衍射半角;布拉格角下列哪些信号可通过电子束与固体物质作用产生？

答案:特征X射线;二次电子;背散射电子;俄歇电子关于电子衍射与X射线衍射的说法，以下正确的是（

）。

答案:电子衍射的散射能力高;X射线的衍射角相对较大衍射仪法中的试样形状是

答案:块状粉末多晶电磁透镜可用于（）的聚焦。

答案:电子束零层倒易面的法线和正空间中的晶带轴[uvw]是（

）关系。

答案:重合EBSD中CCD探头采集来自样品表面（）薄层的衍射花样。

答案:几十纳米当入射束不严格满足布拉格方程的时候，衍射情况应该是

。

答案:产生弱衍射束（）、检测信号类型和检测部位原子序数是影响SEM分辨率的三大要素。

答案:电子束斑大小SEM及TEM中配备的成分分析附件中最常见的仪器是（）。

答案:能谱仪（

）决定透射电子显微镜分辨率的高低。

答案:物镜EBSD中衍射花样通过Hough变换，是将实测的菊池线转成（）。

答案:空间的点电子衍射的衍射角一般为多少？

答案:rad以下哪个不属于高分辨透射电子显微镜的改进方向？

答案:增加球差用来进行晶体结构分析的X射线学分支是

答案:X射线衍射学薄晶体样品应该用

来获得满意的图像反差。

答案:衍射衬度关于高分辨透射电子显微术，以下说法错误的是（

）。

答案:增大了样品台的倾转角当单色X射线照射多晶试样时，衍射线将分布在一组以入射线为轴的圆锥面上，圆锥面的顶角为

答案:4θEBSD菊池花样形成，是试样所激发（）电子满足布拉格方程，发生衍射效应的结果。

答案:背散射SEM镜筒中聚光镜及物镜均为（）。

答案:电磁透镜用爱瓦尔德球图解说明电子衍射过程中，以下错误的是（）。（）

答案:k是衍射波的波矢量晶体正空间中的点阵晶面对应倒易空间中的点。

答案:对脉冲高度分析器可以剔除那些对衍射分析不需要的干扰脉冲，从而达到降低背底和提高峰背比的作用

答案:对X射线衍射法测定结晶度是通过测定样品中晶相与非晶相的衍射方位来实现的

答案:错X射线衍射方法有哪些？

答案:周转晶体法;劳埃法;粉末法非晶物质的衍射图由少数漫散峰组成

答案:对假设电子从灯丝上逸出时的能量为0，请问在加速电压为10000V时电子最终的能量大约是多少？

答案:10000eV材料的内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定

答案:第一类应力（宏观应力）当X射线将某