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文档简介
1.任务来源及简要过程
1.1任务来源
团体标准T/CSTMXXXXX-2022《微波参数在高温、低温、
温度循环、湿度载荷下的测试方法》,为广东省重点领域研
发计划《5G通信用关键材料测试评价技术研究与设备开发项
目》中测试技术的研究成果。根据项目要求,调研《微波参
数在高温、低温、温度循环、湿度载荷下的测试方法》相关
的国内外标准,并进行微波参数在高温、低温、温度循环、
湿度载荷下的测试方法技术研究与方法标准化工作。该标准
主要由工业和信息化部电子第五研究所(以下简称电子五所)
起草,由中国材料与试验团体标准委员会电子材料领域委员
会(CSTM/FC51)归口。
1.2工作过程
5G通信是新一代信息技术发展的主要方向,作为下一个
万亿规模的战略性新兴产业,对我国成为全球移通信技术的
领跑者起到不可估量的作用。随着毫米波通讯,卫星导航,
汽车雷达,5G移动网络技术的高速发展,通信系统工作的环
境也变得越来越恶劣。例如,当飞行器在高速飞行和变速飞
行时,飞行器温度将发生剧烈变化,温度传递会使其周围的
印制板的温度也发生变化,影响其性能;工作在极地气候的
通信系统,由于极地恶劣的环境影响通信系统的工作性能。
同时,随着环境温度的升高,铜的电导率降低,介质材料的
损耗角正切增大,印制电路板的传输损耗随着温度的升高而
增加。印制板材料的不同,温度对其传输损耗和特性阻抗的
影响也不同。通信系统的工作环境复杂多变,覆铜板和印制
电路微波参数会随着环境的变化出现波动,特别是随着通信
频率的不断提升,微波电路对板材微波参数的波动更为敏感,
相关测试方法受到生产企业与使用单位的广泛关注。因此,
非常有必要编制一套关于覆铜板和印制电路板高温、低温、
温度循环、湿度载荷下微波参数的测试方法标准,填补该领
域的空白。
根据《5G通信用关键材料测试评价技术研究与设备开发
项目》的项目进度,2021年3月成立《微波参数在高温、低
温、温度循环、湿度载荷下的测试方法》标准的工作团队,
2021年6月团队开展《微波参数在高温、低温、温度循环、
湿度载荷下的测试方法》标准制定工作。根据项目的进度,
着手调研环境载荷下微波参数测试方法的相关标准和文献,
于2022年4月完成了标准《微波参数在高温、低温、温度
循环、湿度载荷下的测试方法》草稿的编制。本标准的主要
起草单位为工业和信息化部电子第五研究所,标准主要参与
单位为电子科技大学、成都恩驰微波科技有限公司、浙江华
正新材料股份有限公司(以下简称浙江华正),其中电子五
所牵头开展标准起草与技术研究,浙江华正参与标准起草与
方法验证,电子科技大学参与技术研究,成都恩驰微波科技
有限公司参与方法验证。
2.标准化对象简要情况及制修订标准的原则
2.1标准化对象简要情况
本标准试验方法适用于覆铜板和印制电路板高温、低温、
温度循环、湿度载荷下微波参数的测试,其微波参数包括:
传输损耗、特性阻抗、介电常数、介质损耗角正切值和无源
互调测试PIM。目前国内针对覆铜板和印制电路板高温、低
温、温度循环、湿度载荷下对微波参数影响的评价方式和测
试方法均没有明确的标准规定。因此,非常有必要编制一套
关于覆铜板和印制电路板高温、低温、温度循环、湿度载荷
下微波参数的测试方法标准,对比国内外现有标准情况,本
标准改进优化的地方:a)该方法提出了覆铜板与印制电路
板两个层级的微波参数在不同环境老化下测试方法,更为系
统完整;b)提出传输损耗和特性阻抗环境载荷下的测试方
法,明确了环境载荷下在线测试系统搭载方法,操作步骤以
及样品在环境箱内稳定时间,填补了测试方法的空白;c)
提出基材无源互调测试PIM的测试方法,明确测试样品需求,
将现有标准覆盖对象从无源或微波元器件拓展到高频基材。
2.2制修订标准的原则
按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准
化文件的结构和起草规则》给出的规则,注重相关标准的协
调统一。在充分研究消化国内外相关标准和文献的基础上,
结合实际,同时考虑试验方法标准的“科学性”、“前瞻
性”、“适用性”、实施检测的可行性基础上,研究制订满
足行业使用需求的《微波参数在高温、低温、温度循环、湿
度载荷下的测试方法》团体标准,弥补行业内对覆铜板和印
制电路板微波参数在高温、低温、温度循环、湿度载荷下的
测试方法的空白。
3.国内外标准研究现状分析
目前,国内外针对覆铜板和印制电路板高温、低温、温
度循环、湿度载荷下微波参数(传输损耗、特性阻抗、介电
常数、介质损耗角正切值和无源互调PIM)的测试方法均没
有明确的标准规定。
对于单项的微波参数测试方法目前国内外的相关标准
有IPC-TM-6502.5.5.5.12A:2012《TestMethodsto
DeterminetheAmountofSignalLossonPrintedBoards》、
IPC-TM-6502.5.5.14:2021《MeasuringHighFrequency
SignalLossandPropagationonPrintedBoardswith
FrequencyDomainMethods》、IPC-TM-6502.5.5.7A:2004
《CharacteristicImpedanceofLinesonPrintedBoards
byTDR》、CPCA/Z5101-2015《印制板特性阻抗时域反射测
定指南》、以及IEC62037《PassiveRFandMicrowaveDevices
IntermodulationLevelMeasurement》。IPC-TM-650
2.5.5.5.12A和IPC-TM-6502.5.5.14:2021提出了传输线传
输损耗的测试方法,以上两个标准描述了印制电路板传输损
耗的多种测试方法和测试原理。但是没有描述环境载荷下的
测试方法和环境对微波参数的影响,同时这两个标准在测试
原理上有详细的描述,但是对于测试操作性不强。
IPC-TM-6502.5.5.7A和CPCA/Z5101-2015提出了特性阻抗
测试方法,没有描述环境载荷下的测试方法和环境对特性阻
抗测试。IEC62037提出器件的PIM测试方法,该方法只针
对射频器件和微波器件,没有提出对印制电路板的PIM测试,
对于印制电路板PIM的测试目前国内还没有相关标准。综上
所述,针对以上情况分析,编制能满足对覆铜板和印制电路
板高温、低温、温度循环、湿度载荷下微波参数的测试标准
是非常有必要。
4.标准主要内容的确定和分析
《微波参数在高温、低温、温度循环、湿度载荷下的测
试方法》团体标准是对环境应力条件下覆铜板和印制电路板
重要微波参数的测试方法要求。本标准的涉及的测试项目包
括:环境测试方法、传输损耗、特性阻抗、介电常数、损耗
角正切值和无源互调测试PIM等。
4.1环境测试方法
该项测试主要是确定该标准环境试验的测试准则,GB/T
2423.1-2008、GB/T2423.2-2008、GB/T2423.22-2012和
GB/T2423.3-2006详细的描述了高温、低温、温度变化和恒
定湿试验的测试方法和要求以及试验程序。该标准的环境测
试方法主要参考GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008、GB/T
2423.22-2012和GB/T2423.3-2006方法开展,测试条件可
根据样品服役条件或者委托单位要求确定。
4.2传输损耗
该项测试主要用于测量由印刷电路板传输线的导体、结构
和材料特性引起的信号传输损耗,并将印制板放置于环境试
验箱中,检测它的传输损耗来测定印制板的老化情况。对传
输损耗的环境老化的影响,做了两种方法的描述,方法A是
样品完成环境老化试验后出箱,将试样应置于105℃﹢5℃
/-2℃高温干燥箱中烘干处理2h+10min/-0min。测试前将测
试试样放置在测试环境内冷却至室温30min后,再对样品的
测试,这种方法排除了样品吸湿性对传输损耗的影响,只对
环境老化后对样品性能变化进行测试。方法B是样品完成环
境老化试验后立即出箱;放置在测试环境内冷却至室温,
30min内立即完成测试。还给出了环境老试验对传输损耗变
化率的计算公式,。
TL1−TL0
该项测试方法还ξ给=出了TL传0输×损10耗0在环境载荷下(高温、低
温、温循、湿热)影响,标准中给出了传输损耗在环境试验
载荷测试系统设置,如图1所示。
图1环境试验载荷测试系统设置
提出高/低和湿热温载荷下测试过程中具体的测试操作
步骤,以及根据我们在温度稳定不同时间进行对传输损耗的
测试,在分别测试温度稳定10min、20min、30min、40min、
50min不同时间之后发现温度稳定20min之后测试结果趋于
稳定。提出温循载荷下测试过程中当第一次和最后一次达到
循环温度时,需要在稳定时间的30%~70%的时间段内测试样
的传输损耗。
4.3特性阻抗
该项测试主要用于测量由印刷电路板传输线的特性阻
抗,并印制板放置于环境试验箱中,检测它的特性阻抗。对
特性阻抗的环境老化的影响,和传输损耗测试相同,给出了
两种方法的描述,方法A排除了样品吸湿性对传输损耗的影
响,只对环境老化后对样品性能变化进行测试。方法B检测
环境老化试验对样品的影响。测量特性阻抗在环境载荷下
(高温、低温、温循、湿热)影响,需要在环境箱内进行测
试,因此该标准规定了测试样品不能用手持探针测试,只能
使用微波连接器安装在测试样品上的形式。高低温箱内在线
测试必须使用耐高低温的测试电缆和转接头。
4.4介电常数、损耗角正切值
经团队调研国外领先产品的介电常数和介质损耗角正
切测试方法普遍采用带状线法测试,国内相关企业对标国外
产品时同样采用带状线法进行对比测试。其原理为两端开路
的带状传输线具有谐振电路特性,它的谐振频率f与被测介
质基板的介电常数相关,其固有的品质因数Q值与被测介质
基板的介电损耗角正切相关通过测量带状线谐振器的谐振
频率以及固有的品质因数的数值可得到介质基板的介电常
数和损耗角正切。目前行业对介电常数、损耗角正切值的带
状线法测试相对成熟的标准为国标GB/T126361990《微波介
质介电常数和介质损耗正切值的带状线测试方法》该方法测
试频带覆盖范围仅到20GHz,且以原理性描述为主,对测试
操作指导针对性不强IEC61189-2-719-2016,只涉及
0.5GHz~10GHz频段,未涉及温变条件下的介电常数、损耗角
正切值试验方法。国外IPC-TM-6502.5.5.5C1998标准有
带状线方法测试内容,其测试范围为8GHz~12.4GHz,该方法
使用的是测试片的结构,同时缺少温度系数测试方法,测试
操作性不强,且操作方法更多的是结合国外独有的设备所描
述,不利于国内相关产品的研制。
故本项测试参照团队编制的T/CSTMXXXXX-202X《高频
介质基板的介电常数和介质损耗角正切测试方法——带状
线测试法》,该标准用于测试频率在1GHz~40GHz范围内的介
电常数、损耗角正切值以及变温范围在-50℃~150℃下的介
电常数及损耗角正切值,其针对性及可操作性更强。同时在
T/CSTMXXXXX-202X《高频介质基板的介电常数和介质损耗
角正切测试方法——带状线测试法》标准基础上描述了环境
老化试验的测试方法。
4.5无源互调测试PIM
该项测试主要测量基材的无源互调测试,并测试材料进
行环境老化试验后,检测它的无源互调性能。标准提出无源
互调测试PIM,明确了基材无源互调的测试样品。无源互调
就是由两个或者两个以上的载波信号经过具有非线性相应
的无源器件是产生的,所以在该测试项目中对连接的测试焊
点提出要求:a)焊点发亮,无分层,无拉尖,无间隙,焊
点周围不能有锡珠、锡渣等氧化物;b)焊接过程中必须带
好手套或指套,防止测试样品氧化;c)焊接完成后,可用
酒精对焊点进行清洁,保证焊点的清洁。
5.知识产权情况说明
中国材料与试验团体标准T/CSTMXXXXX-202X《微波参
数在高温、低温、温度循环、湿度载荷下的测试方法》在制
定过程中不涉及国内外专利及知识
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