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  • 2013-06-25 颁布
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【正版授权-英语版】 ISO/TS 17915:2013 EN Optics and photonics - Measurement method of semiconductor lasers for sensing_第1页
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基本信息:

  • 标准号:ISO/TS 17915:2013 EN
  • 标准名称:光学和光子学 用于传感的半导体激光器的测量方法
  • 英文名称:Optics and photonics — Measurement method of semiconductor lasers for sensing
  • 标准状态:废止
  • 发布日期:2013-06-25

文档简介

ISO/TS17915:2013是一个关于半导体激光器传感器的测量方法的规范。它主要关注于半导体激光器在各种环境条件下的性能和稳定性。以下是该标准的主要内容:

1.概述:标准首先对半导体激光器传感器的测量方法进行概述,包括其目的、范围和应用领域。

2.测量设备:标准要求使用适当的测量设备,如光谱仪、光电探测器、温度控制器等。这些设备需要符合相关的校准和精度要求。

3.环境条件:标准规定了用于测试的稳定和可重复的环境条件,包括温度、湿度、振动和污染水平。

4.测试程序:测试程序包括以下步骤:a)激光器的安装和连接;b)设定和监控环境条件;c)启动激光器并记录初始读数;d)进行一系列的测试循环,每个循环包括不同的工作条件;e)在每个循环结束后,记录读数并分析结果。

5.结果解释:根据测试结果,标准提供了半导体激光器性能和稳定性的评估方法。它还提供了如何解读测试数据,以及如何确定最佳工作条件的信息。

6.误差分析:标准还考虑了测试过程中的误差来源,并提供了如何减少和/或管理这些误差的方法。

7.报告:测试结果应以易于理解的方式报告,包括必要的图表和数据表格。

8.特殊情况:标准还考虑了某些特殊情况,例如激光器的损坏或性能异常,以及在极端环境条件下使用激光器的情况。

这就是ISO/TS17915:2013ENOpticsandphotonics—Measurementmethodofsemiconductorlasersforsensing的主要内容。它提供了一种

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