- 废止
- 已被废除、停止使用，并不再更新
- 2006-06-14 颁布
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基本信息：
- 标准号：ISO/IEC 10373-6:2001/AMD 4:2006 EN
- 标准名称：识别卡 测试方法 第6部分：感应卡 修正案 4：PCD 射频接口和 PICC 交变磁场暴露的附加测试方法
- 英文名称：Identification cards — Test methods — Part 6: Proximity cards — Amendment 4: Additional test methods for PCD RF interface and PICC alternating field exposure
- 标准状态：废止
- 发布日期：2006-06-14
文档简介
ISO/IEC10373-6:2001/Amd4:2006识别卡-测试方法-第6部分：近距离卡-修正4：有关RF接口的PCD和PICQ交替磁场暴露测试方法的描述：
ISO/IEC10373-6:2001/Amd4:2006是关于识别卡的标准，它规定了近距离卡（ProximityCard，简称PICC）的测试方法。修正4提供了额外的测试方法，用于评估PCD（读卡器芯片）和PICQ（近场通信芯片）的RF（无线电频率）接口和PICQ交替磁场暴露的性能。
具体来说，这些测试方法包括：
1.PCDRF接口测试：检查PCD是否能正确地与读卡器设备通信，包括数据传输速率、错误率、协议兼容性等。
2.PICC交替磁场暴露测试：模拟PICQ在实际使用中可能会遇到的交替磁场环境，评估PICQ的电磁干扰（EMI）抵抗能力，以及在各种磁场强度和变化下的性能表现。
测试过程通常包括硬件和软件方面的检查，以及在实际使用环境中的模拟测试。这些测试方法有助于确保识别卡在各种环境和应用场景中都能正常工作，提高其可靠性和稳定性。
在进行这些测试时，需要使用专门的测试设备和软件，并按照标准规定的方法和步骤进行操作。测试结果
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