- 现行
- 正在执行有效
- 1998-07-16 颁布
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基本信息:
- 标准号:ISO 8785:1998 EN/FR
- 标准名称:产品几何规范 (GPS) 表面缺陷 术语、定义和参数
- 英文名称:Geometrical Product Specification (GPS) — Surface imperfections — Terms, definitions and parameters
- 标准状态:现行
- 发布日期:1998-07-16
文档简介
一、表面缺陷的分类
1.不规则度:是指物体表面几何形状的不规则程度。
2.表面粗糙度:是指物体表面纹理的粗糙程度。
3.表面波纹度:是指物体表面呈现出的波浪形或弯曲形。
二、相关术语
1.粗糙度:表示表面不平滑的程度。
2.微观不平度十点高度:是指用直径为0.05mm的量块测得的表面粗糙度。
3.轮廓高度:表示物体表面轮廓的不连续程度。
三、相关参数
1.Ra:是一种用于粗糙度的测量单位,相当于在一定视角下的微观不平度的最大高度。
2.Rz:用于测量更粗糙的表面,是垂直于轮廓面的两维的几何峰谷距的高度。
3.表面缺陷的三维描述:为了精确地描述物体的表面缺陷,可以采用三维的参数如Rq,Rmax等来描述。
四、表面缺陷的标准测量方法
ISO8785标准规定了多种测量方法,包括比较样块法,比较光切法,接触式干涉法等,以及计算机辅助测量技术等。
以上是ISO8785:1998EN/FRGeometricalProductSpecification(GPS)—Surfaceimperfections—Terms,definitionsand
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