- 废止
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- 2004-05-05 颁布
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基本信息：
- 标准号：ISO 19318:2004 EN
- 标准名称：表面化学分析 X 射线光电子能谱 报告电荷控制和电荷校正所用的方法
- 英文名称：Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of methods used for charge control and charge correction
- 标准状态：废止
- 发布日期：2004-05-05
文档简介
X射线光电子光谱（XPS）是一种常用的表面化学分析方法，它通过测量被激发的电子发射并被探测器捕获的强度来分析表面元素的化学态。在XPS实验中，电荷控制和电荷校正是非常重要的步骤，因为电荷会影响电子发射和收集，从而影响光谱数据的准确性。
ISO19318标准详细说明了以下内容：
1.电荷控制方法：包括使用接地表面、电荷中和液、离子流等措施来控制实验环境中可能产生的电荷。
2.电荷校正方法：包括使用电荷校正软件、测量背景信号、调整电荷控制设备的参数等方法来纠正电荷对光谱数据的影响。
为了报告这些方法，ISO19318标准还规定了以下要求：
*详细说明使用的电荷控制设备和软件，包括品牌、型号、版本等信息。
*描述电荷校正过程中的所有步骤和参数调整，包括背景信号的测量和校正结果的验证。
*提供电荷控制和校正过程的流程图或照片，以便他人理解和重复实验过程。
*强调在整个实验过程中保持电荷控制的必要性，并说明如何监测和应对电荷积累的问题。
ISO19318标准提供了XPS实验中电荷控制和校正的详细指南，对于确保XPS光谱数据的准确性和可靠性具有重要意义。在进行XPS实验
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