材料科学：材料分析测试技术真题

材料科学：材料分析测试技术真题

1、单选(江南博哥)洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是()

A、晶粒大小对衍射强度的影响

B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响

C、衍射线位置对衍射强度的影响

D、试样形状对衍射强度的影响

本题答案：B

2、问答题简述X射线产生的基本条件。

解析：①产生自由电子；

②使电子做定向高速运动；

③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。

3、单选若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效放

大倍数是()o

A.1000；

B.10000；

C.40000；

D.600000c

本题答案：C

4、单选对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有()

A、200

B、220

C、112

D、111

本题答案：C

5、问答题某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来，其e较高

抑或较低？相应的d较大还是较小？

解析：背射区线条与透射区线条比较0较高，d较小。产生衍射线必须符合布

拉格方程2dsinO=A,对于背射区属于20高角度区，根据d=、/2sin。，。

越大d越小。

6、问答题什么叫“相干散射"、"短波限”？

解析：相干散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每

个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉

现象称为相干散射。

短波限，连续X射线谱在短波方向有一个波长极限，称为短波限入0.它是由光

子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线。

7、名词解释点分辨率与晶格分辨率

解析：点分辨率是电镜能够分辨的两个物点间的最小间距；晶格分辨率是能够分

辨的具有最小面间距的晶格像的晶面间距。

8、名词解释中心暗场像

解析：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与

成像的方法，称为暗场成像，所得图象为暗场像。如果物镜光阑处于光轴位置,

所得图象为中心暗场像。

9、单选要分析基体中碳含量，一般应选用()电子探针仪，

A.波谱仪型

B.能谱仪型

本题答案：A

10、问答题磁透镜的像差是怎样产生的？如何来消除和减少像差？

解析：像差分为球差，像散，色差.球差是磁透镜中心区和边沿区对电子的折射

能力不同引起的.增大透镜的激磁电流可减小球差.像散是由于电磁透镜的周向

磁场不非旋转对称引起的.可以通过引入一强度和方位都可以调节的矫正磁场来

进行补偿.色差是电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的.稳定加速

电压和透镜电流可减小色差.

11、问答题产生X射线需具备什么条件？

解析：实验证实：在高真空中，凡高速运动的电子碰到任何障碍物时，均能产生

X射线，对于其他带电的基本粒子也有类似现象发生。

电子式X射线管中产生X射线的条件可归纳为：1,以某种方式得到一定量的自

由电子；2,在高真空中，在高压电场的作用下迫使这些电子作定向高速运动；3,

在电子运动路径上设障碍物以急剧改变电子的运动速度。

12、问答题什么是消光距离？影响晶体消光距离的主要物性参数和外界

条件是什么？

解析：消光距离：由于透射波和衍射波强烈的动力学相互作用结果，使10和Ig

在晶体深度方向上发生周期性的振荡，此振荡的深度周期叫消光距离。影响因素：

晶胞体积，结构因子，Bragg角，电子波长。

13、问答题原子发射光谱是怎么产生的？其特点是什么？

解析:原子的外层电子由高能级向低能级跃迁,能量以电磁辐射的形式发射出去，

这样就得到发射光谱。原子发射光谱特点是线状光谱。

14、问答题试述X射线衍射单物相定性基本原理及其分析步骤？

解析：X射线物相分析的基本原理是每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构，

即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。因此，从布

拉格公式和强度公式知道，当X射线通过晶体时，每一种结晶物质都有自己独特

的衍射花样，衍射花样的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强

度I来表征。其中晶面间距值d与晶胞的形状和大小有关，相对强度I则与质点

的种类及其在晶胞中的位置有关。通过与物相衍射分析标准数据比较鉴定物相。

单相物质定性分析的基本步骤是：

（1）计算或查找出衍射图谱上每根峰的d值与I值；

（2）利用I值最大的三根强线的对应d值查找索引，找出基本符合的物相名称

及卡片号；

（3）将实测的d、I值与卡片上的数据一一对照，若基本符合，就可定为该物相。

15、问答题球差、像散和色差是怎样造成的？如何减小这些像差？哪些

是可消除的像差？

解析：1,球差是由于电磁透镜磁场的近轴区与远轴区对电子束的会聚能力的不

同而造成的。一个物点散射的电子束经过具有球差的电磁透镜后并不聚在一点，

所以像平面上得到一个弥散圆斑，在某一位置可获得最小的弥散圆斑，成为弥散

圆。还原到物平面上，则半径为

rs=l/4Csa3

rs为半径，Cs为透镜的球差系数，a为透镜的孔径半角。所以见效透镜的孔径

半角可减少球差。

2,色差是由于成像电子的波长(能量)不同而引起的。一个物点散射的具有不

同波长的电子，进入透镜磁场后将沿各自的轨道运动，结果不能聚焦在一个像点

上，而分别交在一定的轴向范围内，形成最小色差弥散圆斑，半径为

rc=Cca|AE/E|

Cc为透镜色差系数，a为透镜孔径半角，AE/E为成像电子束能量变化率。所

以减小△£/£、a可减小色差。

3,像散是由于透镜磁场不是理想的旋对称磁场而引起的。可减小孔径半角来减

少像散。

16、单选为了减小物镜的球差，往往在物镜的背焦面上安放一个()

A、第二聚光镜光阑

B、物镜光阑

C、选区光阑

D、索拉光阑

本题答案：B

17、单选透射电镜成形貌像时是将()

A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合

B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合

C、关闭中间镜

D、关闭物镜

本题答案：B

18、问答题衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于

什么？

解析：衍射线在空间的方位主要取决于晶体的面网间距，或者晶胞的大小。衍射

线的强度主要取决于晶体中原子的种类和它们在晶胞中的相对位置。

19、问答题和波谱仪相比，能谱仪在分析微区化学成分时有哪些优缺

点？

解析：能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS),波谱仪全称为波长分散谱仪(WDS)o

Si(Li)能谱仪的优点：

(1)分析速度快

能谱仪可以同时接受和检测所有不同能量的X射线光子信号，故可在几分钟内分

析和确定样品中含有的所有元素。

(2)灵敏度高

X射线收集立体角大，由于能谱仪中Si(Li)探头可以放在离发射源很近的地方

(10cm左右)，无需经过晶体衍射，信号强度几乎没有损失，所以灵敏度高。

此外，能谱仪可在低入射电子束流条件下工作，这有利于提高分析的空间分辨率。

(3)谱线重复性好

由于能谱仪结构比波谱仪简单，没有机械传动部分，因此稳定性和重复性好。

(4)对样品表面没有特殊要求

能谱仪不必聚焦，因此对样品表面没有特殊要求，适合于粗糙表面的分析工作。

能谱仪的缺点：

(1)能量分辨率低

峰背比低。由于能谱仪的探头直接对着样品，所以由背散射电子或X射线所激发

产生的荧光X射线信号也被同时检测到，从而使得Si(Li)检测器检测到的特

征谱线在强度提高的同时，背底也相应提高，谱线的重叠现象严重。故仪器分辨

不同能量特征X射线的能力变差。能谱仪的能量分辨率(160eV)比波谱仪的能

量分辨率(5eV)低。

(2)分析元素范围限制

带镶窗口的探测器可探测的元素范围为UNa~92U,而波谱仪可测定原子序数从

4-92之间的所有元素。

(3)工作条件要求严格

Si(Li)探头必须始终保持在液氨冷却的低温状态，即使是在不工作时也不能中

断，否则晶体内Li的浓度分布状态就会因扩散而变化，导致探头功能下降甚至

完全被破坏。

20、问答题什么是光电效应？光电效应在材料分析中有哪些用途？

解析：光电效应是指：当用X射线轰击物质时，若X射线的能量大于物质原子对

其内层电子的束缚力时，入射X射线光子的能量就会被吸收，从而导致其内层电

子被激发，产生光电子。材料分析中应用光电效应原理研制了光电子能谱仪和荧

光光谱仪，对材料物质的元素组成等进行分析。

21、问答题何谓衬度？TEM能产生哪几种衬度象，是怎样产生的，都

有何用途

解析：衬度是指图象上不同区域间明暗程度的差别。TEM能产生质厚衬度象、衍

射衬度象及相位衬度象。质厚衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度

的差异而形成的，适用于对复型膜试样电子图象作出解释。晶体试样在进行电镜

观察时，由于各处晶体取向不同和(或)晶体结构不同，满足布拉格条件的程度

不同，使得对应试样下表面处有不同的衍射效果，从而在下表面形成一个随位置

而异的衍射振幅分布，这样形成的衬度，称为衍射衬度。衍衬技术被广泛应用于

研究晶体缺陷。如果透射束与衍射束可以重新组合，从而保持它们的振幅和位相,

则可直接得到产生衍射的那些晶面的晶格象，或者一个个原子的晶体结构象。这

就是相位衬度象，仅适于很薄的晶体试样(Q100A)。

22、名词解释溅射

解析:入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时,

就引起表面粒子(原子、离子、原子团等)的发射，这种现象称为溅射。

23、单选透射电镜中聚光镜的作用是()

A、电子源

B、会聚电子束

C、形成第一副高分辨率电子显微图像

D、进一步放大物镜像

本题答案：B

24、问答题叙述用X射线仪检测的误差来源。

解析：用X射线仪检测时，误差是不可避免的，但是应使误差对结果的影响最小

化。若要获得精确的点阵常数，首先是获得精确的X射线衍射线条的0角。不

同的衍射方法，0角的误差来源不同。消除误差的方法也不同。

误差可以分为系统误差和偶然误差。系统误差是由试验条件所决定的，随某一函

数有规则的变化。偶然误差是由于测量者的主观判断错误以及测量仪表的偶然波

动或干扰引起的，没有固定的变化规律。德拜照相法的系统误差的主要来源有:

（1）相机半径误差；（2）底片收缩（或伸长）误差；（3）试样偏心误差；（4）

试样对X射线的吸收误差；（5）X射线折射误差。

用衍射议法精确测定点阵常数，衍射角的0角系统误差来源有：未能精确调整

仪器；计数器转动与试样转动比；（2：1）驱动失调；0角00位置误差；试样

放置误差；试样放置误差，试样表面与衍射仪轴不重合；平板试样误差，因为平

面不能代替聚焦圆曲面；；透射误差；入射X射线线轴向发散度误差；仪器刻度

误差等。

用衍射议法时，影响实验精度和准确度的一个重要问题是合理地选择实验参数。

其中对实验结果影响较大的狭缝光阑、时间常数和扫描速度等。

25、问答题同一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来其0较高

还是较低？相应的d较大还是较小？既然多晶粉末的晶体取向是混乱

的，为何有此必然的规律

解析：其0较高，相应的d较小，虽然多晶体的粉末取向是混乱的，但是衍射

倒易球与反射球的交线，倒易球半径由小到大，0也由小到大，d是倒易球半径

的倒数，所以。较高，相应的d较小。

26、单选单晶体电子衍射花样是（）o

A.规则的平行四边形斑点；

B.同心圆环；

C.晕环；

D.不规则斑点。

本题答案：A

27、单选能提高透射电镜成像衬度的光阑是（）

A、第二聚光镜光阑

B、物镜光阑

C、选区光阑

D、索拉光阑

本题答案：B

28、单选在正方晶系中，晶面指数｛100｝包括几个晶面（）o

A.6；

B.4；

C.2

D.1；o

本题答案：B

29、问答题为什么说X衍射线束的强度与晶胞中的原子位置和种类有

关？

解析：因为X射线强度取决于结构因子F,而结构因子会因晶胞中的原子位置和

种类而不同。所以说X衍射线束的强度与晶胞中的原子位置和种类有关。

30、问答题原子散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数与

其原子序数有何关系？

解析：原子散射因数f是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波

的振幅。也称原子散射波振幅。它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一

个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。它反映了原子将X射线向某一个方向散

射时的散射效率。原子散射因数与其原子序数有何关系，Z越大，f越大。因此，

重原子对X射线散射的能力比轻原子要强。

31、单选样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（）

A、1：1

B、2：1

C、1：2

D、没有确定比例

本题答案：B

32、问答题为什么说从衍射观点看有些倒易点阵也是衍射点阵，其倒易

点不是几何点？其形状和所具有的强度取决于哪些因素，在实际上有和

重要意义？

解析：倒易点阵中的一个点代表的是正点阵中的一组晶面。衍射点阵是那些能产

生衍射（去掉结构消光）的倒易点阵。衍射点阵中倒易点不是几何点，其形状和

强度取决于晶体形状和倒易体与厄瓦尔德球相交的位置。根据衍射花样可以推测

晶体形态或缺陷类型以及衍射偏离布拉格角的程度。

33、单选当t=5s/2时，衍射强度为（）o

A.Ig=O；

B.Ig<0；

C.Ig>0；

D.Ig=lmaxo

本题答案：D

34、问答题照明系统的作用是什么？它应满足什么要求？

解析：照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置组成。它的

作用是提供一束亮度高、照明孔经角小、平行度好、束流稳定的照明源。它应满

足明场和暗场成像需求。

35、问答题测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成30。

角，则计数管与人射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的

自由表面呈何种几何关系？

解析：60度。因为计数管的转速是试样的2倍。辐射探测器接收的衍射是那些

与试样表面平行的晶面产生的衍射。晶面若不平行于试样表面,尽管也产生衍射,

但衍射线进不了探测器，不能被接收。

36、问答题什么是分辨率，影响透射电子显微镜分辨率的因素是哪些？

解析：分辨率：两个物点通过透镜成像，在像平面上形成两个爱里斑，如果两个

物点相距较远时，两个Airy斑也各自分开，当两物点逐渐靠近时，两个Airy

斑也相互靠近，直至发生部分重叠。根据LoadReyleigh建议分辨两个Airy斑的

判据：当两个Airy斑的中心间距等于Airy斑半径时，此时两个Airy斑叠加，

在强度曲线上，两个最强峰之间的峰谷强度差为19除人的肉眼仍能分辨出是两

物点的像。两个Airy斑再相互靠近，人的肉眼就不能分辨出是两物点的像。通

常两Airy斑中心间距等于Airy斑半径时，物平面相应的两物点间距成凸镜能分

辨的最小间距即分辨率。

影响透射电镜分辨率的因素主要有：衍射效应和电镜的像差（球差、像散、色差）

等。

37、单选电子衍射成像时是将（）。

A.中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合；

B.中间镜的物平面与与物镜的像平面重合；

C.关闭中间镜；

D.关闭物镜。

本题答案：A

38、问答题实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以

Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片。

解析：实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用

比样品中主元素的原子序数大2%（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。选择

滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，以滤掉KB

线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。

以分析以铁为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，同时选用Fe和Mn

为滤波片。

39、问答题能谱仪、俄歇谱仪和X光电子能谱仪都可作成分分析，它们

各自的特点如何？

解析：能谱仪分析的是微区成分，分析范围为11-92的元素，若开皱窗能分析

5-92的元素，分析精度可达5%；。

俄歇谱仪分析的是极表层的成分，分析深度只有Inm.

X光电子能谱仪也是分析表层成分，但X光电子能谱仪可以提供元素价态。

40、问答题你如何用学过的光谱来分析确定乙快是否已经聚合成为聚乙

块？

解析：可采用红外光谱测试，观察是否有共规双键生成；可采用紫外光谱测定，

以确定是否有共规双键生成，以及一些共粗双键长度的信息。

41、单选立方晶系｛100｝晶面的多重性因子为（）

A、2

B、3

C、4

D、6

本题答案：D

42、单选可以消除的像差是（）。

A.球差;

B.像散;

C.色差；

D.A+Bo

本题答案：B

43、问答题简要说明多晶（纳米晶体）、单晶及非晶衍射花样的特征及

形成原理。

解析:单晶花样是一个零层二维倒易截面，其倒易点规则排列，具有明显对称性，

且处于二维网络的格点上。因此表达花样对称性的基本单元为平行四边形。单晶

电子衍射花样就是（uvw）*0零层倒易截面的放大像。多晶面的衍射花样为：各

衍射圆锥与垂直入射束方向的荧光屏或照相底片的相交线，为一系列同心圆环。

每一族衍射晶面对应的倒易点分布集合而成一半径为1/d的倒易球面，与Ewald

球的相惯线为园环，因此，样品各晶粒｛hkl｝晶面族晶面的衍射线轨迹形成以入

射电子束为轴、20为半锥角的衍射圆锥，不同晶面族衍射圆锥2。不同，但各

衍射圆锥共顶、共轴。非晶的衍射花样为一个圆斑。

44、问答题什么叫干涉面？当波长为人的X射线在晶体上发生衍射时,

相邻两个(hkl)晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的

波程差又是多少？

解析：晶面间距为d'/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。当

波长为人的X射线照射到晶体上发生衍射，相邻两个(hkl)晶面的波程差是nA,

相邻两个(HKL)晶面的波程差是入o

45、单选当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选()

A.Cu；

B.Fe；

C.Ni；

D.Moo

本题答案：C

46、问答题多重性因子的物理意义是什么？某立方晶系晶体，其｛100｝

的多重性因子是多少？如该晶体转变为四方晶系，这个晶面族的多重性

因子会发生什么变化？为什么？

解析：多重性因子的物理意义是等同晶面个数对衍射强度的影响因数叫作多重性

因子。某立方晶系晶体，其｛100｝的多重性因子是6?如该晶体转变为四方晶系

多重性因子是4；这个晶面族的多重性因子会随对称性不同而改变。

47、问答题如何进行紫外光谱的定量分析？

解析：首先确定定量时的紫外吸收峰波长，然后需要配制一系列不同浓度的标准

溶液并测定其吸光度数据，获得工作曲线。测试待测样品获得吸光度数据，对比

工作曲线计算得到待测样品的浓度。

48、问答题紫外光谱常用来鉴别哪几类有机物？

解析:普通紫外光谱用来鉴别具有共辗双键、电荷迁移跃迁和配位场跃迁的物质。

但紫外光谱常作为辅助的鉴别手段。

49、问答题简述连续X射线产生实质。

解析：假设管电流为10mA,则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10(16)个，

如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同，并且绝大多数达到靶上的电子

要经过多次碰撞，逐步把能量释放到零，同时产生一系列能量为hv(i)的光子

序列，这样就形成了连续X射线。

50、单选测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方

法是()O

A.外标法;

B.内标法；

C.直接比较法；

DK值法。

本题答案：C

51、问答题分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？(1)用CuKaX

射线激发CuKa荧光辐射；(2)用CuKRC射线激发CuKa荧光辐射；(3)

用CuKaX射线激发CuLa荧光辐射。

解析：根据经典原子模型，原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上，在稳定

状态下，每个壳层有一定数量的电子，他们有一定的能量。最内层能量最低，向

外能量依次增加。

根据能量关系，M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差，K、L层之间的

能量差大于M、L层能量差。由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差，

所以KB的能量大于Ka的能量，Ka能量大于La的能量。

因此在不考虑能量损失的情况下：

（1）CuKa能激发CuKa荧光辐射；（能量相同）

（2）CuKB能激发CuKa荧光辐射；（KB〉KA.

（3）CuKa能激发CuLa荧光辐射；（Ka>lA.

52、问答题什么是丝织构，它的极图有何特点？

解析:丝织构是一种晶粒取向轴对称分布的织构，存在于拉、轧或挤压成形的丝、

棒材及各种表面镀层中。其特点是多晶体中各种晶粒的某晶向［uvw］与丝轴或镀

层表面法线平行。丝织构的极图呈轴对称分布

53、单选中心暗场像的成像操作方法是（）o

A.以物镜光栏套住透射斑；

B.以物镜光栏套住衍射斑；

C.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。

本题答案：C

54、名词解释结构因子

解析：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数。

55、单选当偏离矢量S<0时，倒易点是在厄瓦尔德球的（）。

A.球面外;

B.球面上；

C.球面内；

D.B+Co

本题答案：A

56、问答题特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同？某物质的K

系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长？

解析：特征X射线与荧光X射线都是由激发态原子中的高能级电子向低能级跃迁

时，多余能量以X射线的形式放出而形成的。不同的是：高能电子轰击使原子处

于激发态，高能级电子回迁释放的是特征X射线；以X射线轰击，使原子处于激

发态，高能级电子回迁释放的是荧光X射线。某物质的K系特征X射线与其K

系荧光X射线具有相同波长。

57、问答题聚光镜、物镜、中间镜和投影镜各自具有什么功能和特点？

解析：聚光镜：聚光镜用来会聚电子抢射出的电子束，以最小的损失照明样品，

调节照明强度、孔径角和束斑大小。一般都采用双聚光系统，第一聚光系统是强

励磁透镜，束斑缩小率为10T5倍左右，将电子枪第一交叉口束斑缩小为

61—5口m；而第二聚光镜是弱励磁透镜，适焦时放大倍数为2倍左右。结果在

样品平面上可获得*2-10um的照明电子束斑。

物镜：物镜是用来形成第一幅高分辨率电子显微图象或电子衍射花样的透镜。投

射电子显微镜分辨率的高低主要取决于物镜。因为物镜的任何缺陷都将被成相系

统中的其他透镜进一步放大。物镜是一个强励磁短焦距的透镜（f=l-3mm），它

的放大倍数高，一般为100-300倍。目前，高质量的物镜其分辨率可达0.1mm

左右。

中间镜：中间镜是一个弱励磁的长焦距变倍率透镜，可在0-20倍范围调节。当

放大倍数大于1时，用来进一步放大物镜像；当放大倍数小于1时，用来缩小物

镜像。在电镜操作过程中，主要利用中间镜的可变倍率来控制电镜的总放大倍数。

如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上得到一幅放大像，这

就是电子显微镜中的成像操作；如果把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合，在

在荧光屏上得到一幅电子衍射花样，这就是电子显微镜中的电子衍射操作。

投影镜：投影镜的作用是把中间镜放大（或缩小）的像（或电子衍射花样）进一

步放大，并投影到荧光屏上，它和物镜一样，是一个短聚焦的强磁透镜。投影的

励磁电流是固定的，因为成像的电子束进入透镜时孔径角很小，因此它的景深和

焦长都非常大。即使改变中间竟的放大倍数，是显微镜的总放大倍数有很大的变

化，也不会影响图象的清晰度。

58、问答题试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花

样、样品吸收与衍射强度（公式）、衍射装备及应用等方面比较衍射仪

法与德拜的异同点。

解析：入射X射线的光束：都为单色的特征X射线，都有光栏调节光束。

不同：衍射仪法：采用一定发散度的入射线，且聚焦半径随2。变化，德拜法:

通过进光管限制入射线的发散度。试样形状：衍射仪法为平板状，德拜法为细圆

柱状。试样吸收：衍射仪法吸收时间短，德拜法吸收时间长，约为10~20h。记

录方式:衍射仪法采用计数率仪作图，与计算机连接可实现自动记录和衅谱处理,

德拜法采用环带形底片成相，而且它们的强度（I）对（2。）的分布（1-26曲

线）也不同，衍射仪图谱中强度或直接测量精度高，且可获得绝对强度；衍射装

备：衍射仪结构复杂成本高，德拜法结构简单造价低；应用：衍射仪与计算机连

接，通过许多软件可获得各种信息而得到广泛应用。

59、问答题一种化合物含有两个基团与各含一个基团的两种化合物的混

合物，其红外谱图有大的差别吗？为什么？

解析：若该化合物中的两个基团是孤立的，通常两种测试样品的红外谱图没有大

的差别，因此测试红外光谱时应尽可能把样品的各组份完全分离后测试。

60、问答题红外光谱的近期发展有哪些？

解析：付立叶红外及差谱技术，红外二向色性，二维相关红外，动态红外光谱和

表面红外技术等。

61、单选用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）

A.X射线透射学；

B.X射线衍射学；

C.X射线光谱学

本题答案：B

62、单选扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（）o

A.波谱仪；

B.能谱仪；

C.俄歇电子谱仪；

D.特征电子能量损失谱。

本题答案：B

63、问答题谢乐公式B=kA/tcose中的B、Lt、8分别表示什么？该公

式用于粒径大小测定时应注意哪些问题？

解析：B为半高宽或峰的积分宽度，X为入射X射线波长，t为粒径大小，0为

表示选用X射线位置

①这是运用X射线来测定晶粒大小的一个基本公式。B为衍射峰的宽，t表示晶

粒的大小。可见当晶粒变小时，衍射峰产生宽化。一般当晶粒小于10-4cm时，

它的衍射峰就开始宽化。因此式适合于测定晶粒＜10-5cm,即100纳米以下晶粒

的粒径。因此，它是目前测定纳米材料颗粒大小的主要方法。虽然精度不很高，

但目前还没有其它好的方法测定纳米级粒子的大小。

②一般情况下我们的样品可能不是细小的粉末，但实际上理想的晶体是不存在的,

即使是较大的晶体，它经常也具有镶嵌结构在，即是由一些大小约在10-4cm嵌

晶块组成。它们也会导到X射线衍射峰的宽化。

64、单选测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是（）o

A.保持同步1：1；

B.2：1；

C.1：2；

D.1：0o

本题答案：B

65、问答题说明多晶、单晶及厚单晶衍射花样的特征及形成原理。

解析：多晶衍射花样是晶体倒易球与反射球的交线，是一个个以透射斑为中心的

同心圆环；单晶衍射花样是晶体倒易点阵去掉结构消光的倒易杆与反射球的交点,

这些点构成平行四边形衍射花样；当单晶体较厚时，由于散射因素的影响会出现

除衍射花样外的一明一暗线对的菊池衍射花样。

66、问答题红外测试样品需尽可能把游离水驱除干净。含游离水样品的

红外谱图中在哪两个波数范围会出现吸收峰？

解析：把样品放入U0C烘箱中干燥至少2小时，并抽真空；含游离水样品的红

外谱图在3000-3800cm-l1590-1690cm-l存在吸收峰。

67、名词解释消光距离国

解析：晶体内透射波与衍射波动力学相互作用，使其强度在晶体深度方向上发生

周期性振荡，振荡的深度周期叫消光距离。

68、问答题透射电镜主要由几大系统构成？各系统之间关系如何？

解析：四大系统：电子光学系统，真空系统，供电控制系统，附加仪器系统。其

中电子光学系统是其核心。其他系统为辅助系统。

69、问答题产生电子衍射的必要条件与充分条件是什么？

解析：产生电子衍射的充分条件是FhklWO,

产生电子衍射必要条件是满足或基本满足布拉格方程。

70、问答题试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途？

解析：获取衍射花样的三种基本方法是劳埃法、旋转晶体法和粉末法。劳埃法主

要用于分析晶体的对称性和进行晶体定向；旋转晶体法主要用于研究晶体结构；

粉末法主要用于物相分析。

71、问答题总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。

解析：简单点阵不存在系统消光，体心点阵衍射线的系统消光规律是（h+k+l）

偶数时出现反射，（h+k+l）奇数时消光。面心点阵衍射线的系统消光规律是h,

k,1全奇或全偶出现反射，h,k,1有奇有偶时消光。答：简单点阵不存在系统

消光，体心点阵衍射线的系统消光规律是（h+k+1）偶数时出现反射，（h+k+1）

奇数时消光。面心点阵衍射线的系统消光规律是h,k,1全奇或全偶出现反射,

h,k,1有奇有偶时消光。

72、问答题点分辨率和晶格分辨率在意义上有何不同？

解析：点分辨率和晶格分辨率都是表征透射电子显微镜放大本领的参数，但点分

辨率的测定与透镜的总放大倍数有关，是将伯、伯一钺或伯一铝等金属或合金,

用真空蒸发的方法可以得到粒度为5〜10A、间距为2〜10A的粒子，将其均匀地

分布在火胶棉（或碳）支持膜上，在高放大倍数下拍摄这些粒子的像，然后经光

学放大（5倍左右），从照片上找出粒子间最小间距，除以总放大倍数得到；而

晶格分辨率的测定要求制作标样（采用外延生长的方法制得的定向单晶薄膜）并

拍摄其晶格像，由已知的样品晶面间距得到具体的衍射晶面，这种方法是条纹干

涉像，不是真正的点分辨率。

73、单选菊池线可以帮助（）o

A.估计样品的厚度；

B.确定180°不唯一性；

C.鉴别有序固溶体；

D.精确测定晶体取向。

本题答案：D

74、问答题制备复型的材料应具备什么条件？

解析：（1）复型材料本身必须是非晶态材料。

（2）复型材料的粒子尺寸必须很小。

（3）复型材料应具备耐电子轰击的性能，即在电子束照射下能保持稳定，不发

生分解和破坏。

75、问答题什么是双光束衍射？电子衍衬分析时，为什么要求在近似双

光束条件下进行？

解析：双光束衍射：倾转样品，使晶体中只有一个晶面满足Bragg条件，从而产

生衍射，其它晶面均远离Bragg位置，衍射花样中几乎只存在大的透射斑点和一

个强衍射斑点。原因：在近似双光束条件下，产生强衍射，有利于对样品的分析

76、问答题如何用红外光谱跟踪二氧化硅湿凝胶变为干凝胶的过程？

解析：可采用在线跟踪测试，分别测试不同时间样品的红外谱图；其次，若变化

过程很慢，可采用不同时间取样来测试，综合图谱以获得跟踪结果。

77、单选PDF卡片中，数据可靠程度最低的用（）表示

A、i

B、★

C、O

D、C

本题答案：C

78、单选物镜光阑安放在（）

A、物镜的物平面

B、物镜的像平面

C、物镜的背焦面

D、物镜的前焦面

本题答案：C

79、问答题X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？

解析：X射线学分为三大分支：X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。

X射线透射学的研究对象有人体，工件等，用它的强透射性为人体诊断伤病、用

于探测工件内部的缺陷等。

X射线衍射学是根据衍射花样，在波长已知的情况下测定晶体结构，研究与结构

和结构变化的相关的各种问题。

X射线光谱学是根据衍射花样，在分光晶体结构已知的情况下，测定各种物质发

出的X射线的波长和强度，从而研究物质的原子结构和成分。

80、问答题晶格条纹像和结构像有何异同点？二者成像条件有何不同？

解析：晶格像是以透射波和同晶带的衍射波干涉生成晶格条纹，晶格像广泛用在

晶格缺陷、界面、表面和相变等领域的研究上，期刊杂志上发表的大多数高分辨

电镜图像是二维晶格像。

结构像是透射束加多个衍射束在平行晶带轴条件下成像，要满足谢尔策欠焦。结

构像最大特点是像衬度可以直接观察到单胞中原子及其排列的情况，或与模拟像

进行比较可以确定衬度与样品原子及排列的对应关系，因此结构像可以在原子尺

度上定量研究晶体结构和缺陷结构。

81、问答题什么是缺陷不可见判据？如何用不可见判据来确定位错的布

氏矢量？

解析：缺陷不可见判据是指：。确定位错的布氏矢量可按如下步骤：找到两个操

作发射gl和g2,其成像时位错均不可见，则必有glb=0,g2b=0o这就是说,

b应该在gl和g2所对应的晶面(hlklll)he(h2k212)内，即b应该平行于这

两个晶面的交线，b=glXg2,再利用晶面定律可以求出b的指数。至于b的大

小，通常可取这个方向上的最小点阵矢量。

82、问答题现代分析型电镜具有那些功能？如何在材料微观分析中运用

这些功能？

解析：现代分析电镜主要指透射电子显微镜及其外围分析设备。简称分析型透射

电镜，AEMo其主要功能除进行形貌观察、衍衬分析外，还能够利用能谱仪、电

子能量损失谱进行成分分析。还可以利用相应的样品台，在透射电镜中作原位观

察、加热相变观察、冷却相变观察和拉伸试验。会聚束电子衍射也是分析型电子

显微镜的附加功能。

83、名词解释衍射衬度

解析：入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后，样品内不同部位组织的成像电

子束在像平面上存在强度差别的反映。

84、名词解释俄歇电子

解析：X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原子(实际是

离子)处于激发态，将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程，此过

程发射的电子。

85、问答题试述衍射仪在入射光束、试样形状、试样吸收，以及衍射线

记录等方面与德拜法有何异同？测角仪在工作时，如试样表面转到与入

射线成30。角时;计数管与入射线成多少度角？

解析：衍射仪记录花样与德拜法有很大区别。首先，接收X射线方面衍射仪用辐

射探测器，德拜法用底片感光；其次衍射仪试样是平板状，德拜法试样是细丝。

衍射强度公式中的吸收项四不一样。第三，衍射仪法中辐射探测器沿测角仪圆转

动，逐一接收衍射；德拜法中底片是同时接收衍射。相比之下，衍射仪法使用更

方便，自动化程度高，尤其是与计算机结合，使得衍射仪在强度测量、花样标定

和物相分析等方面具有更好的性能。

测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30°角时，计数管与入射线成60

度角。因为工作时，探测器与试样同时转动，但转动的角速度为2：1的比例关

系。

86、名词解释相机常数

解析：定义K=LA,称相机常数，其中L为镜筒长度，入为电子波长。1、明场

像：让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫明场成像，

所得到的像叫明场像。

87、问答题你如何用学过的光谱来分析确定乙快是否已经聚合成了聚乙

焕？

解析：可采用红外光谱测试，观察是否有共辄双键生成；可采用紫外光谱测定，

以确定是否有共轨双键生成，以及一些共辄双键长度的信息

88、问答题举例说明紫外吸收光谱在分析上有哪些应用。

解析：(1)定性分析：max：化合物特性参数，可作为定性依据；有机化合物紫

外吸收光谱：反映结构中生色团和助色团的特性，不完全反映分子特性；计算吸

收峰波长，确定共扼体系等；甲苯与乙苯：谱图基本相同；结构确定的辅助工具；

(2)定量分析：依据：朗伯-比耳定律：吸光度：A=bco有机化合物结构的辅助

解析。

(3)可获得的结构信息.如：(1)200-400nm无吸收峰。饱和化合物，单烯。

(2)270-350nm有吸收峰(e=10-100)醛酮n-“*跃迁产生的R带。(3)250-300nm

有中等强度的吸收峰(£=200-2000),芳环的特征吸收(具有精细解构的B带)。

(4)200-250nm有强吸收峰(£104),表明含有一个共趣体系(K)带。共趣

二烯：K带(230nm)；不饱和醛酮：K带230nm,R带310-330nm,260nm,300nm,

330nm有强吸收峰，3,4,5个双键的共辗体系

89、单选已知一位错线在选择操作反射gl=(110)和g2=(111)时，

位错不可见，那么它的布氏矢量是()o

A.b=(0-10)；

B.b=(1-10)；

C.b=(0-11)；

D.b=(010)o

本题答案：B

90、问答题欠焦量和样品厚度对相位衬度有何影响？

解析：欠焦量是影响相位衬度的关键因素，只有在最佳欠焦量下(满足谢尔策欠

焦条件)才能获得高相位衬度；样品厚度也是影响相位衬度的重要因素，随样品

厚度增加，透射波和衍射波的振幅、相位随之而变，成像机制也发生改变，逐渐

由相位衬度转变为振幅衬度。

91、问答题子束入射固体样品表面会激发哪些信号？它们有哪些特点和

用途？

解析：主要有六种：

1）背散射电子：能量高；来自样品表面几百nm深度范围；其产额随原子序数增

大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。

2）二次电子：能量较低；来自表层5—10nm深度范围；对样品表面化状态十分

敏感。不能进行成分分析.主要用于分析样品表面形貌。

3）吸收电子：其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反；与背散射电子的

衬度互补。吸收电子能产生原子序数衬度，即可用来进行定性的微区成分分析.

4）透射电子：透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进行微区成

分分析。

5）特征X射线：用特征值进行成分分析，来自样品较深的区域

6）俄歇电子：各元素的俄歇电子能量值很低；来自样品表面l—2nm范围。它适

合做表面分析。

92、问答题为什么特征X射线的产生存在一个临界激发电压？X射线管

的工作电压与其靶材的临界激发电压有什么关系？为什么？

解析：要使内层电子受激发，必须给予施加大于或等于其结合能的能量，才能使

其脱离轨道，从而产生特征X射线，而要施加的最低能量，就存在一个临界激发

电压。X射线管的工作电压一般是其靶材的临界激发电压的3-5倍，这时特征X

射线对连续X射线比例最大，背底较低。

93、问答题如何区分红外谱图中的醇与酚羟基的吸收峰？

解析：它们的吸收峰的峰位不同。酚羟基在3610cmT和1200cm-l存在吸收峰，

醇羟基则分别在3620-3640和1050T150cmT范围内存在吸收；而且含酚羟基的

物质存在苯环的特征吸收峰。

94、问答题物相定性分析的原理是什么？对食盐进行化学分析与物相定

性分析，所得信息有何不同？

解析：物相定性分析的原理：X射线在某种晶体上的衍射必然反映出带有晶体特

征的特定的衍射花样（衍射位置0、衍射强度I）,而没有两种结晶物质会给出

完全相同的衍射花样，所以我们才能根据衍射花样与晶体结构一一对应的关系，

来确定某一物相。

对食盐进行化学分析，只可得出组成物质的元素种类（Na,Cl等）及其含量，

却不能说明其存在状态，亦即不能说明其是何种晶体结构，同种元素虽然成分不

发生变化，但可以不同晶体状态存在，对化合物更是如此。定性分析的任务就是

鉴别待测样由哪些物相所组成。

95、单选粉末照相法所用的试样形状为（）

A、块状

B、分散

C、圆柱形

D、任意形状

本题答案：C

96、名词解释蓝移

解析：当有机化合物的结构发生变化时，其吸收带的最大吸收峰波长或位置（

最大）向短波方向移动，这种现象称为蓝移（或紫移，或“向蓝”）。

97、单选能帮助消除180。不唯一性的复杂衍射花样是（）o

A.高阶劳厄斑；

B.超结构斑点；

c.二次衍射斑；

D.李晶斑点

本题答案：A

98、问答题陶瓷纳米/微米颗粒的红外光谱的分析样品该如何制，为什

么？

解析：陶瓷纳米/微米颗粒与KBr压片制备测试样品，也可采用红外光谱的反射

式测试方法直接测试粉状样品。

99、单选如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（）。

A.六方结构；

B.立方结构；

C.四方结构；

D.A或B。

本题答案：D

100.单选M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（）

A.Ka；

B.KB；

C.Ky；

D.Lao

本题答案：B

101、问答题X射线的本质是什么？是谁首先发现了X射线，谁揭示了

X射线的本质？

解析：X射线的本质是一种横电磁波；伦琴首先发现了X射线，劳厄揭示了X射

线的本质。

102、单选选区光阑在TEM镜筒中的位置是（）

A、物镜的物平面

B、物镜的像平面

C、物镜的背焦面

D、物镜的前焦面

本题答案：B

103、单选透射电子显微镜中可以消除的像差是（）o

A.球差;

B.像散;

C.色差。

本题答案：B

104、问答题红外谱图在1600-1700cm-l有吸收峰，则可能含有几种什

么基团？

解析：可能含有碳碳双键，或碳氧双键，或碳氮双键，或水等。

105、问答题说明透射电子显微镜成像系统的主要构成、安装位置、特

点及其作用。

解析：主要由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜和投影镜组成.

1）物镜：强励磁短焦透镜（f=『3mm）,放大倍数100—300倍。作用：形成第

一幅放大像

2）物镜光栏：装在物镜背焦面，直径20—120um,无磁金属制成。作用：A.提

高像衬度，B.减小孔经角，从而减小像差。C.进行暗场成像

3）选区光栏：装在物镜像平面上，直径20-400um,作用：对样品进行微区衍射

分析。

4）中间镜：弱压短透镜，长焦，放大倍数可调节0—20倍作用A.控制电镜总放

大倍数。B.成像/衍射模式选择。

5）投影镜：短焦、强磁透镜，进一步放大中间镜的像。投影镜内孔径较小，使

电子束进入投影镜孔径角很小。小孔径角有两个特点：A.景深大，改变中间镜放

大倍数，使总倍数变化大，也不影响图象清晰度。焦深长，放宽对荧光屏和底片

平面严格位置要求

106、问答题什么是双束近似单束成象，为什么解释衍衬象有时还要拍

摄相应衍射花样？

解析：双束近似是为了满足运动学原理，单束成像是为了获得确定操作反射下的

衍射衬度像。拍摄相应的衍射花样是为了准确地解释衍射衬度像。

107、问答题扫描电镜的分辨率受哪些因素影响？用不同的信号成像时,

其分辨率有何不同？所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的

分辨率？

解析：影响因素：电子束束斑大小，检测信号类型，检测部位原子序数.SE和HE

信号的分辨率最高，BE其次，X射线的最低.扫描电镜的分辨率是指用SE和HE

信号成像时的分辨率.

108、问答题二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相

同与不同之处？

解析：二次电子像：

1）凸出的尖棱，小粒子以及比较陡的斜面处SE产额较多，在荧光屏上这部分的

亮度较大。

2）平面上的SE产额较小，亮度较低。

3）在深凹槽底部尽管能产生较多二次电子，使其不易被控制到，因此相应衬度

也较暗。

背散射电子像：

1）用BE进行形貌分析时，其分辨率远比SE像低。

2）BE能量高，以直线轨迹逸出样品表面，对于背向检测器的样品表面，因检测

器无法收集到BE而变成一片阴影，因此，其图象衬度很强，衬度太大会失去细

节的层次，不利于分析。因此，BE形貌分析效果远不及SE,故一般不用BE信号。

109、问答题若X射线管的额定功率为1.5kW,在管电压为35kV时，容

许的最大电流是多少？

解析：1.5kW/35kV=0.043A

110、问答题X射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪

些现象中？

解析：波动性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播，反映了物质运动的连

续性;微粒性主要表现为以光子形式辐射和吸收时具有一定的质量,能量和动量,

反映了物质运动的分立性。

111.单选以气体电离为基础制造的计数器是（）

A、正比计数器

B、盖革计数器

C、闪烁计数器

D、A和B

本题答案：D

112、名词解释质厚衬度

解析：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透射电

子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同的区域，这一现象称为质厚衬度。

113、问答题要观察钢中基体和析出相的组织形态，同时要分析其晶体

结构和共格界面的位向关系，如何制备样品？以怎样的电镜操作方式和

步骤来进行具体分析？

解析：通过双喷减薄或离子减薄方法制备电镜样品，观察包括基体和析出相的区

域，拍摄明、暗场照片；采用样品倾转，使得基体与析出相的界面与电子束平行，

用选区光阑套住基体和析出相进行衍射，获得包括基体和析出相的衍射花样进行

分析，确定其晶体结构及位向关系。

114、问答题要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，应选用哪种电子

探针仪？为什么？

解析：分析钢中碳化物成分可用能谱仪；分析基体中碳含量可用波谱仪，这是因

为与波谱仪相比，能谱仪具有以下优点：能谱仪探测X射线的效率高。其灵敏度

比波谱仪高约一个数量级。在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进

行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元

素特征波长。结构简单，稳定性和重现性都很好(因为无机械传动)不必聚焦，

对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。

与波谱仪相比能谱仪具有以下缺点和不足：分辨率低：Si(Li)检测器分辨率约

为160eV；波谱仪分辨率为5—10eV能谱仪中因Si(Li)检测器的被窗口限制了

超轻元素的测量，因此它只能分析原子序数大于11的元素；而波谱仪可测定原

子序数从4到92间的所有元素。能谱仪的Si(Li)探头必须保持在低温态，因

此必须时时用液氮冷却

115、名词解释特征X射线

解析：原子的内层电子受到激发以后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能

量和波长的一种电磁波辐射。利用特征X射线可以进行成分分析。

116、单选选区光栏在TEM镜筒中的位置是()o

A.物镜的物平面；

B.物镜的像平面

C.物镜的背焦面；

D.物镜的前焦面。

本题答案：B

117、问答题若只含碳氢两种元素的一种不饱和有机物有三个双键，如

何用一种光谱来确定其双键可能的排列类型？

解析：三个双键共挽、两个共蜿和三个双键孤立三种状况，其紫外光谱吸收蜂分

别在177nm,210-230nm,260nm,由于三类物质紫外吸收峰存在很大差别，容易

确定其实际的双键排列类型。

118、问答题举例介绍STM和AFM在材料分析工作中的应用。

解析：与SEM,TEM,FIM相比，STM具有结构简单.分辨本领高等特点，可在真

空.大气或液体环境下，在实空间内进行原位动态观察样品表面的原子组态，并

可直接用于观察样品表面发生的物理或化学的动态过程及反应中原子的迁移过

程等。STM除具有一定的横向分辨本领外，还具有极优异的纵向分辨本领，STM

的横向分辨率达0.Inm,在与样品垂直的z方向，其分辨率高达O.Olnm。由此可

见，STM具有极优异的分辨本领，可有效的填补SEM,TEM,FIM的不足，而且，

从仪器工作原理上看，STM对样品的尺寸形状没有任何限制，不破坏样品的表面

结构。目前，STM已成功地用于单质金属.半导体等材料表面原子结构的直接观

察。

扫描隧道显微镜不能测量绝缘体表面的形貌。1986年G.Binnig提出原子力显微

镜（AFM）的概念，它不但可以测量绝缘体表面形貌，达到接近原子分辨，还可

以测量表面原子间的力，测量表面的弹性.塑性.硬度.粘着力.摩擦力等性质。

119、单选在待测试样中掺入一定含量的标准物质，把试样中待测相的

某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条

相比较，从而获得待测相含量的定量分析方法称为（）

A、外标法

B、内标法

C、直接比较法

D、K值法

本题答案：B

120、问答题在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力？它们的衍射谱

有什么特点？

解析：在一块冷轧钢板中可能存在三种内应力，它们是：第一类内应力是在物体

较大范围内或许多晶粒范围内存在并保持平衡的应力。称之为宏观应力。它能使

衍射线产生位移。第二类应力是在一个或少数晶粒范围内存在并保持平衡的内应

力。它一般能使衍射峰宽化。第三类应力是在若干原子范围存在并保持平衡的内

应力。它能使衍射线减弱。

121＞名词解释伸缩振动

解析：键长变化而键角不变的振动，可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。

122、单选X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（）进行

核对。

A.哈氏无机数值索引；

B.芬克无机数值索引；

C.戴维无机字母索引；

D.A或B。

本题答案：C

123、问答题“一束X射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射

方向