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GB/T21021.3—2021/I无源射频和微波元器件的互调电平测量第3部分：同轴连接器的无源互调测量(IEC62037-3:2012,PassiveRFandmicrowavedevices,intermodulationlevelmeasurement—Part3:Measurementofpassiveintermodulationincoaxialconnecto国家标准化管理委员会国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会IGB/T21021.3—2021/IEC62037本部分为GB/T21021的第3部分。本部分使用翻译法等同采用IEC62037-3:2012《无源射频和微波元器件的互调电平测量第3部———GB/T21021.1—2021无源射频和微波元器件的互调电平测量第1部分：一般要求和测量-—GB/T21021.4—2021无源射频和微波元器件的互调电平测量第4部分：同轴电缆的无源1RFandmicrowavedevices,iIEC62037-4无源射频和微波元器件的互调电平测量第4部分：同轴电缆的无源互调测量(PassiveRFandmicrowavedevices,intermodulationlevelmeasurement—Part4:MeasureIM:互调(intermodulatioa)装置1——多端口DUT2GB/T21021.3—2021/IEC62037-3:20单元宜按IEC62037-1中的规定来连接。一种可接受的扫频方法是固定f₁在传输频带的低端，从在接收带内引起IM的频率组合的高端开个比原DUT长λ/6,第二个比原DUT组件的PIM并确定具有最大PIM值的组件，应在此DUT上进行冲击试验。用作负载的电缆，试验前宜按照IEC62037-4中的试验方法进行测量，以4.4装置2注意事项用作负载的电缆，试验前宜按照IEC62037-4中的试验方法进行测量，以确定其具有合适的PIM按图1所示安装好DUT。宜按照表1进行至少5次冲击。(冲击装置见图1,跌落重物和导向管的冲击点宜沿着连接器的长度方向尽可能多地覆盖不同区域，但不必旋转DUT,否则会引起DUT连接器接口质量(最小值)g跌落高度(最小值)NGB/T21021.3—2021/IEC62037跌落重物(如黄铜棒):质量见表1

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