GB/T 43058-2023 光伏组件氨腐蚀试验（正式版）VIP

ICS27.160GB/T43058—2023光伏组件氨腐蚀试验Ammoniacorrosiontestingofphotovoltaic(PV)modules国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会IGB/T43058—2023前言 Ⅲ 1 13术语和定义 1 1 4 4 45.3光老炼试验(适用于薄膜组件) 4 5 5 57.2晶体硅 57.3薄膜工艺 5 58.1试验设备及材料 58.2试验条件及实施 5 610最终测量 610.1通则 610.2晶体硅 610.3薄膜组件 611判定要求 711.1通则 711.2晶体硅组件 711.3薄膜组件 7 7参考文献 9图1晶体硅光伏组件氨腐蚀试验序列 2 3表1试验条件 6ⅢGB/T43058—2023本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定本文件修改采用IEC62716:2013《光伏组件氨腐蚀试验》。本文件与IEC62716:2013相比做了下述结构调整：本文件与IEC62716:2013的技术差异及其原因如下：——用规范性引用的GB/T18911替换了IEC61646:2008,以适应我国技术条件(见5.3);——用规范性引用的GB/T27025替换了ISO/IEC17025,以适应我国技术条件(见第12章);——用现行的IEC61730-2:2016替换了IEC61730-2:2004条件”(见图2);——为了与规范性引用文件相协调，将“MST13接地连续性试验”改为“MST性试验”(见图2);——为方便使用，列出了预处理技术要求具体内容(见第6章)。——图1增加了对预处理的脚注；图2删除了国际标准的注4。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。本文件由全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会(SAC/TC90)归口。控股集团股份有限公司。1GB/T43058—2023光伏组件氨腐蚀试验GB/T9789—2008金属和其他无机覆盖层通常凝露条件下的二氧化硫腐蚀试验(ISO6988:GB/T18911地面用薄膜光伏组件设计鉴定和定型(GB/T18911—2002,IEC61646:1996,IDT)GB/T27025检测和校准实验室能力的通用要求(GB/T27025—2019,ISO/IEC17025:2017,IDT)IEC61215-1-1:2021地面用光伏组件设计鉴定和定型第1-1部分：晶体硅光伏组件特殊要求[Terrestrialphotovoltaic(PV)modules—Designqualificationandtypeapproval—Part1-1:Specialre-quirementsfortestingofcrystallinesiliconphotovoltaic(PV)modules]IEC61215-1-2:2021地面用光伏组件设计鉴定和定型第1-2部分：碲化镉薄膜光伏组件特殊要求[Terrestrialphotovoltaic(PV)modules—Designqualificationandtypeapproval—Part1-2:Specialrequirementsfortestingofthin-filmCadmiumTelluride(CdTe)basedphotovoltaic(PV)modules]IEC61215-1-3:2021地面用光伏组件设计鉴定和定型第1-3部分：非晶硅薄膜光伏组件特殊要求[Terrestrialphotovoltaic(PV)modules—Designqualificationandtypeapproval—Part1-3:Specialrequirementsfortestingofthin-filmamorphoussiliconbasedphotovoltaic(PV)modules]IEC61215-1-4:2021地面用光伏组件设计鉴定和定型第1-4部分：铜铟镓硒薄膜光伏组件特殊要求[Terrestrialphotovoltaic(PV)modules—Designqualificationandtypeapproval—Part1-4:Spe-cialrequirementsfortestingofthin-filmCu(In,GA)(S,Se)2basedphotovoltaic(PV)modules]IEC61215-2:2021地面用光伏组件设计鉴定和定型第2部分：测试程序[Terrestrialphoto-voltaic(PV)modules—Designqualificationandtypeapproval—Part2:Testprocedures]IEC61730-2:2016光伏组件安全鉴定第2部分：测试要求[Photovoltaic(PV)modulesafetyqualification—Part2:Requirementsfortesting]在由相同材料、相同工艺制成的产品中选取3个相同的光伏组件样品，按照图1或图2所列的测试2GB/T43058—2023程序进行试验，图1适用于晶体硅光伏组件，图2适用于薄膜光伏组件。如图所示，其中一个样品需要作为控制组件。每次对试验样品进行测量时都应与控制组件进行比对，以便于评估氨腐蚀试验对产品的影响。如果全尺寸样品太大而不适应氨腐蚀试验的环境试验箱，应为该试验专门设计并生产一个较小的替代样品。替代样品应保证与全尺寸样品具有相同的失效机理，且制造工艺宜与全尺寸样品的制造工艺保持一致。如果是对替代样品而非全尺寸样品进行的测试，应在第12章测试报告g)中说明。试验结果仅与试验样品的构成相关。如果组件制造商使用不同材料生产的光伏组件，则应有额外的试验样品。选择样品时应确保产品系列内所使用的每一种封装材料以及构成组件外表面的任何部分均具有代表性。3个组件MST01外观检查MQT02最大功率确定绝缘试验湿漏电流试验等电位接地连续性试验2个组件1个组件控制氨腐蚀试验(按照ISO6988,用氨代替二氧化硫)MST01外观检查最大功率确定绝缘试验清洗、恢复湿漏电流试验等电位接地连续性试验旁路二极管功能试验·预处理：试验之前，光伏组件需在开路状态时暴露在自然光或模拟光下，辐照量为5kWh·m-²~5.5kWh·m-²。3GB/T43058—20233个组件MST01外观检查最大功率确定绝缘试验湿漏电流试验等电位接地连续性试验2个组件1个组件清洗、修复MST01外观检查湿漏电流试验控制等电位接地连续性试验旁路二极管功能试验标准试验条件下(非组件额定工作温度)性能测试图2薄膜光伏组件氨腐蚀试验序列4GB/T43058—20235测试程序5.1通则除旁路二极管功能试验以及薄膜组件的光老练试验外，图1、图2中包含的所有试验在相应IEC标准(详见图注)中均有详细规定(包括目的、装置、程序及要求)。测试应按图1和图2所规定的顺序进行，如有任何改变和差异应按照第12章的k)的要求详细报告。本试验的目的在于证明试验样品的旁路二极管在氨腐蚀试验后是否仍能正常工作。如果组件没有旁路二极管则可省略本试验。装置如下：a)直流电源：能提供标准试验条件(STC)下被测样品短路电流值1.25倍的电流，并且在测试期间能监测通过试样的电流；b)试验样品压降测量设备，读数准确度为士0.5%;c)试验电流测量设备，读数准确度为±0.5%。试验应在(25±10)℃的任何环境中进行。试验过程中试验样品不应被照射。应按下列程序进行试验：a)将试验样品中的所有防反二极管短接；b)从标签或说明书中确定测试样品在标准试验条件(STC)下的额定短路电流；负极与测试样品的正极连接；按照制造商的建议进行配线，在此配置下，电流应反向通过电对于组件电路中有重叠的旁路二极管，需要用导线短路其他二极管保证电流只通过其中一个旁路二极管；d)对测试样品施加一个标准试验条件(STC)下额定短路电流1.25倍(±5%)大小的电流，持续施加电流1h后，检查旁路二极管是否正常工作。一个可行的方法是通过对电池施加一个反向电电池片(逐个组串进行遮挡),再检测I-V曲线的特征值(在接近标准试验条件的光照下),以测试旁路二极管是否失效。5.3光老炼试验(适用于薄膜组件)光老炼试验按照GB/T18911要求进行。5GB/T43058—2023预处理，使累计辐射量达到5kWh/m²~5.5kWh/m²。7初始测量测试程序如图1所示。——根据IEC61215-2:2021测试：测试程序如图2所示。——根据IEC61215-2:2021测试：a)MQT02最大功率确定；注1:本测试的唯一目的是确认光伏组件在后续的序列测试前是正常工作的。——根据IEC61730-2:2016测试：注2:每项测试之前确认其在相应的标准中的要求。按照GB/T9789—2008的第3章。6GB/T43058—2023循环测试阶段1时间8h,包含加热时间氨浓度0.6667%温度相对湿度100%,浸湿样品测试阶段2时间16h,包括冷却时间。(试验箱打开并通风)氨浓度温度18℃~28℃相对湿度持续20次(480h)·浓度与试验箱的体积相关，相当于2L水量比300L试验箱体积。氨的浓度水平来自DIN50018:2013的表1.试验程序如图1所示。——根据IEC61215-2:2021测试：试验程序如图2所示。7GB/T43058—2023b)MST13:等电位接地连续性试验；11.2晶体硅组件晶体硅组件样品的要求如下。——在氨腐蚀试验后，应按IEC61730-2:2016的要求，没有严重外观缺陷；同时，也应没有在预期使用寿命内明显影响其性能的机械损伤或组件腐蚀。 氨腐蚀试验后，最大功率衰减不应超过初始值的5%。合格/不合格的判定需要考虑实验室测量的不确定度。——MQT15、MST13和MST16测试合格/不合格的判定应满足IEC61215-1-1:2021和薄膜组件样品的要求如下： 小值的90%。合格/不合格的判定应考虑到实验室测量的不确定度。——应满足旁路二极管功能测试的要求。12测试报告含有测量性能参数和测试结果的报告应由符合GB/T27025的测试机构出具。测试报告应包含如下内容：8GB/T