• 现行
  • 正在执行有效
  • 2005-06-10 颁布
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【正版授权】 IEC TS 61967-3:2005 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions,150 KHz to 1 GHz - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC TS 61967-3:2005 EN-FR
  • 标准名称：集成电路——电磁辐射发射的测量，150KHz至1GHz——第3部分：辐射发射的测量——表面扫描法
  • 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 KHz to 1 GHz - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2005-06-10

文档简介

该标准主要针对在150KHz到1GHz频率范围内的电磁辐射测量，包括对表面扫描法的具体规定。其主要内容包括以下几个部分：

1.适用范围：该标准适用于测量集成电路的电磁辐射，特别是那些可能在工作过程中产生高辐射的集成电路。

2.设备要求：进行辐射测量需要特定的测量设备，包括但不限于电磁场强度计、接收机、噪声系数校准器、电平记录器等。所有设备都需要进行校准和测试以确保其性能符合标准。

3.测试环境：测试应该在无电磁干扰、静电防护和恒温恒湿的环境中进行，以确保测试结果的准确性。

4.测试方法：该标准规定了表面扫描法作为测量电磁辐射的主要方法。这种方法是通过在集成电路表面移动测量设备，记录并分析电磁辐射强度随时间的变化。

5.数据处理：测量数据需要进行适当的处理和分析，以确定集成电路的电磁辐射水平。这可能包括对测量数据的统计、分析、比较和归一化等步骤。

6.结果报告：测试结果应该以报告的形式呈现，包括测试设备、环境、方法和数据处理的具体信息，以及测试结果的数值和图表。

以上就是IECTS61967-3:2005EN-FRIntegratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions,150KHzto1GHz-Part3:Measurementofradiatedemissions-Surfacescanmethod的具体内容。这份标准对于保护电子设备使

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