• 现行
  • 正在执行有效
  • 2022-10-11 颁布
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【正版授权】 IEC TR 63357:2022 EN Semiconductor devices - Standardization roadmap of fault test method for automotive vehicles_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC TR 63357:2022 EN
  • 标准名称：半导体设备——汽车车载设备的故障测试方法标准路线图
  • 英文名称：Semiconductor devices - Standardization roadmap of fault test method for automotive vehicles
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2022-10-11

文档简介

该标准旨在为汽车电子元件制造商和测试机构提供一种通用的方法，以在生产过程中测试电子元件的可靠性。标准的目的是确保汽车系统能够正确运行并符合相关安全标准。

该标准的主要内容包括：

1.测试方法的标准定义：IECTR63357定义了各种测试方法，包括静态测试、动态测试、环境适应性测试、失效模式分析等。这些测试方法旨在评估电子元件的性能和可靠性。

2.测试周期和时间点：该标准规定了测试周期和时间点，以确保在生产过程中及时发现电子元件的潜在问题。这包括在生产初期、中期和末期进行测试，以及在产品交付前进行最终测试。

3.测试范围和覆盖率：该标准规定了测试范围和覆盖率的要求，以确保电子元件能够满足汽车系统的性能要求。这包括对电子元件的功能、性能、安全性和可靠性进行全面测试。

4.测试设备和工具：该标准提供了对测试设备和工具的要求，以确保测试过程的准确性和可靠性。这些要求包括对测试仪器、传感器、控制器的性能和精度进行评估。

5.标准化测试流程：该标准提供了标准的测试流程和方法，包括测试前的准备工作、测试过程中的数据采集和分析、以及测试后的结果评估和报告。这些流程和方法旨在确保测试过程的规范化和一致性。

IECTR63357:2022ENSemiconductordevices-Standardizationroadmapoffaulttestmethodforautomotivevehicles标准为汽车电子元件制造商提供了一种通用的方法，以确保电子元件的质量和可靠性，并确保汽车系统的安全性和稳定性。它提供了明确的测试方法、周期和时间点、范围和覆盖率的要求，以及对测试设备和工具的要求，以确保整个测试过程的准确性和可靠性。这

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