半导体器件 第16-7部分：微波集成电路 衰减器 编制说明

《半导体器件第16-7部分：微波集成电路衰减器》（征求意见稿）编制说明家标准化委员会关于下达2024年第一批推荐性国家标准计划及相关标准外文版计划的通知》（国标委发[2024]16号）中的计划项目之一，项目计划号：化技术委员（SAC/TC599）归口，主要起草单位为：河北新华北集成电路有限公可的微波集成电路衰减器标准。本标准等同采用IEC60747-16-7：2022，可填立了标准编制组，编制组成员包括从事微波集成电路的技术研究人员和测试人以及各阶段的主要工作内容。该项国家标准等同采用的IEC60747-16-7:2022integratedcircuits-Attenuators，是由我国主导制定的国际标准，牵头单位1部分：标准化文件的结构和起草规则》和GB/T1.2-2020《标准化工作导则第2部分：以ISO/IEC标准化文件为基础的标准化文件起草规则》的要求，对IEC电路衰减器》，同时该标准按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化的结构和编写》和GB/T1.2-2020《标准化工作导则第2部分：以ISO/IEC标2）规范性引用文件：本文件直接引用的文件主要有：IEC60747-1:2006、化为国家标准GB/T20516-2006,IEC61340-5-1：2016已转化为国家标准GB/T4）基本额定值和特性：对微波集成电路衰减器的通用要求、应用说明、功5）测试方法：对本件中定义的微波集成电路衰减器的电性能参数的测试方IEC60747-16-7：2022《半导体器件第16-7部分:微波集成电组通过积极工作，参加单位紧密协作，完成了等同采用IEC60747-16-7：2022三、试验验证的分析、综述报告，技术经济论证，预期的经济效益、社会按照本标准方法，从微波集成电路衰减器中选取了一款5位数控微波集成电参数最小值典型值最大值单位实测值最小值实测值最大值插入损耗（Lins）2.201.3551.492衰减量（Aatt）Aatt(0.25)0.200.250.32Aatt(0.5)0.400.500.60Aatt(1)0.701.001.10Aatt(2)1.802.002.10Aatt(4)3.704.004.10衰减范围（Aran）7.007.758.00衰减精度（Aaur）Aaur(0.25)-0.070.05Aaur(0.5)-0.100.10Aaur(1)-0.100.30Aaur(2)-0.100.20Aaur(4)00.30衰减精度均方根（Aaur(RMS)）0.50.257输入回波损耗（Lret(in)）-14.0输出回波损耗（Lret(out)）-14.0ndB压缩输入功率（Pi(ndB)）20.0dBm附加相移(θrel）-55°开启时间（ton）nS27.0关断时间（toff）nS19.0上升时间（tr（out））nS7.0））nS15.0试方法，其经济效益和社会效益主要体现在如下几个方面.的重复性和可比性，为微波集成电路衰减器各相关企业创造公平竞争的社会环增强国际竞争力。本标准等同采用IEC60747-16-7，其中的微波集成电路2）在技术内容上，术语定义和测试防范与现行国际标准保持一致，二者内五、以国际标准为基础的起草情况，以及是否合规引用或者采用国际国外本标准使用翻译法，等同采用IEC60747-16-7:2022《Semiconductor序家标准形成微波集成电路产品标准体系。与其它相关标准无矛盾及不协调的地427