• 被代替
  • 已被新标准代替
  • 2000-11-28 颁布
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【正版授权】 IEC PAS 62191:2000 EN Acoustic microscopy for nonhermetic encapsulated electronic components_第1页
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基本信息:

  • 标准号:IEC PAS 62191:2000 EN
  • 标准名称:非密封电子元件的声学显微镜检测
  • 英文名称:Acoustic microscopy for nonhermetic encapsulated electronic components
  • 标准状态:被代替
  • 发布日期:2000-11-28

文档简介

该标准规定了在进行无密封电子组件的声学显微镜分析时,必须遵循的详细步骤、程序、设备和工具,以及安全注意事项。它提供了对无密封电子组件的声学显微镜分析的详细指南,包括如何选择和准备样品,如何进行显微镜操作,以及如何分析和解读结果。

该标准还强调了无密封电子组件的声学显微镜分析的重要性,并提供了关于如何正确、准确和有效地进行这种分析的指导。它要求操作者遵循规定的程序和步骤,以确保结果的可靠性和准确性。

此外,该标准还规定了操作者在进行分析时应遵循的安全程序和指南,以确保操作者和设备的安全。它提供了关于如何处理样品、如何使用工具和设备、以及如何避免潜在危害的详细指南。

IECPAS62191:2000EN"无密封电子组件声学显微镜的使用"是一个非常详细和全面的标准,为操作者提供了关于如何正确、准确和有效地进行无密封电子组件的声学显微镜分析的详细指南和安全注意事项。

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