• 现行
  • 正在执行有效
  • 2006-07-27 颁布
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【正版授权】 IEC 61967-4:2002+AMD1:2006 CSV EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions,150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 61967-4:2002+AMD1:2006 CSV EN-FR
  • 标准名称：集成电路——电磁辐射测量，150 kHz至1 GHz——第4部分：传导辐射测量——1 Ω/150 Ω直接耦合方法
  • 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2006-07-27

文档简介

IEC61967-4:2002+AMD1:2006标准规定了用于测量集成电路的电磁辐射的标准方法，特别是在150kHz到1GHz的频率范围内。它包括了一个测量传导辐射的方法，这种方法在1Ω/150Ω直接耦合方法中得到了详细描述。

以下是该标准的详细内容：

1.**适用范围**：IEC61967-4标准适用于集成电路的电磁辐射测量，特别是在150kHz到1GHz的频率范围内。

2.**测量方法**：该标准详细描述了测量传导辐射的方法，包括使用1Ω/150Ω直接耦合方法。这种方法涉及到将电路连接到测试设备上，并使用适当的耦合器和衰减器来获取所需的频率范围的数据。

3.**测试环境**：标准还规定了测试环境的要求，包括测试室的屏蔽和接地，以及测试设备的校准和稳定性。

4.**测量仪器**：标准指定了用于测量电磁辐射的仪器，包括信号发生器、耦合器、衰减器、电压表和电流表等。这些仪器需要经过适当的校准和验证，以确保测量的准确性。

5.**数据处理**：标准还提供了如何处理测量数据的方法，包括如何计算辐射功率、辐射噪声等参数。

6.**误差来源**：标准详细分析了可能导致测量误差的因素，如测试设备的稳定性、耦合器的品质、测试环境的干扰等。

7.**测试报告**：完成测量后，需要编写测试报告，包括测量结果、误差分析、结论和建议等。

IEC61967-4:2002+AMD1:2006标准提供了一种用于测量集成电路在特定频率范围内的电磁辐射的方法，包括直接耦合方法、测试环境要求、测量仪器选择、数据处理和分析以及测试报告的编写等方面。这种方法对于评估集成电路的电磁兼容性非常重要，

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