• 现行
  • 正在执行有效
  • 2022-02-03 颁布
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【正版授权】 IEC 61169-1-5:2022 EN-FR Radio frequency connectors - Part 1-5: Electrical test methods - Rise time degradation_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 61169-1-5:2022 EN-FR
  • 标准名称：射频连接器第1-5部分：电气测试方法-上升时间劣化
  • 英文名称：Radio frequency connectors - Part 1-5: Electrical test methods - Rise time degradation
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2022-02-03

文档简介

该标准提供了用于评估射频连接器中电气信号上升时间变化的方法。具体而言，它涵盖了各种连接器的电性能测量方法，并重点关注了随着温度变化（热老化）引起的信号上升时间变化。以下是标准中的一些关键内容：

*上升时间测试原理：在射频连接器信号路径中引入一个测量装置，可以测量信号从一个特定端点到达另一个端点的传播时间。如果测试样品（例如连接器）在不同的温度下使用，并重新测试以确定随时间变化的上升时间，那么这种测试方法就被称为“上升时间下降”。

*温度对信号上升时间的影响：射频连接器通常会在各种温度下工作。这种温度变化可能会导致材料、电气特性和连接部件的电气性能变化，这可能会影响信号的传输和信号质量。

*测量技术：测试设备通常包括一个源（例如一个高频信号源）和一个接收器（例如一个示波器），用于测量信号的幅度和相位。测试过程中，需要记录信号从源到接收器的传播时间，以及信号的幅度和相位变化。

*分析和评估：测试结果将通过数学分析进行评估，以确定是否存在上升时间的变化。如果发现上升时间随着温度变化而发生变化，那么可能需要采取额外的预防措施或优化方法来确保连接器的性能稳定性。

IEC61169-1-5:2022EN-FRRadiofrequencyconnectors-Part1-5:Electricaltestmethods-Risetimedegradation是一个非常实用的标准，可以帮助工程师和制造商评估射频连接器的性能变化，尤其是随温度变化引

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