- 现行
- 正在执行有效
- 2017-03-03 颁布
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基本信息:
- 标准号:IEC 60749-3:2017 EN-FR
- 标准名称:半导体器件-机械和气候试验方法-第3部分:外部目视检查
- 英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
- 标准状态:现行
- 发布日期:2017-03-03
文档简介
外部目视检查标准主要规定了半导体器件的外观和结构检查的测试方法和要求。它涉及到对半导体器件的外观检查,包括但不限于:外壳的完整性,是否有裂纹或变形,引脚或连接器的完好性,以及是否有任何其他可能影响器件性能或安全性的结构问题。此外,该标准还规定了如何检查半导体器件的外部标记和标识,以确保它们符合规格和安全要求。在进行这些检查时,必须遵循所有相关的安全规定和操作程序,以避免任何人员伤害或财产损失。在执行外观检查之前,可能需要先进行适当的清洁和准备,以确保检查结果的准确性和可靠性。该标准还规定了如何记录检查结果,以确保所有相关方都了解测试结果和结论。总的来说,IEC60749-3:2017EN-FR标准对于确保半导体器件的质量和安全性具有重要意义。
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