• 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-03-03 颁布
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【正版授权】 IEC 60749-3:2017 EN Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-3:2017 EN
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第3部分：外部目视检查
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2017-03-03

文档简介

这个标准主要涉及到半导体器件的机械和气候测试方法，特别是在进行外部目视检查方面的一些规定和标准流程。以下是具体的测试内容：

1.设备要求：标准的这部分详细说明了用于外部目视检查的设备应该满足的要求，包括光源、目镜、照明角度等。

2.检查流程：规定了如何进行外部目视检查的流程，包括哪些部件需要检查，检查的顺序，以及检查的注意事项。

3.检查项目：列出了需要检查的项目，包括器件的外壳、引脚、标记、密封性等。这些项目是必须要检查的，以保证器件的质量和可靠性。

4.异常识别：详细说明了如何识别和判断外部目视检查中发现的问题，包括缺陷、损坏、标记错误等。这部分对于识别和处理不良器件非常重要。

5.环境要求：这部分规定了外部目视检查的环境条件，包括温度、湿度、光照强度等，以确保检查过程在这些条件下进行。

IEC60749-3:2017ENSemiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part3:Externalvisualexamination是一个非常详细和具体的标准，它涉及到半导体器件的外部目视检查的各个方面，包括设备要求、检查流程、检查项目、异常识别和环境要求等。这些

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