• 现行
  • 正在执行有效
  • 2019-04-10 颁布
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【正版授权】 IEC 60749-18:2019 RLV EN Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-18:2019 RLV EN
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第18部分:电离辐射(总剂量)
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2019-04-10

文档简介

IEC60749-18:2019标准内容解释：

IEC60749标准系列是一套用于半导体设备的机械和气候测试方法的规范。IEC60749-18是其中的一部分，它关注于半导体设备在经历电离辐射时的机械和气候测试方法。该标准分为几个部分，以下是IEC60749-18:2019版本的主要内容。

*“Totaldose”（总剂量）：这部分涵盖了辐射测试中对设备或其部件进行总剂量处理的方法。总剂量处理是一种模拟高剂量辐射环境的过程，通常用于评估设备在受到辐射影响时的性能和寿命。

*“Mechanicaltestmethods”（机械测试方法）：这部分描述了在进行总剂量处理前后，对设备进行机械测试的方法。这些测试包括对设备的结构完整性、连接部位、密封性等进行的检查，以确保在辐射环境下设备能够保持稳定和安全。

*“Climatictestmethods”（气候测试方法）：这部分描述了在总剂量处理后，对设备进行气候测试的方法。这些测试包括温度、湿度、气压等环境因素的模拟，以评估设备在极端气候条件下的性能和寿命。

IEC60749-18:2019标准适用于各种类型的半导体设备，包括但不限于集成电路、传感器、光电子设备等。在进行辐射测试时，应遵循该标准中详细规定的方法和步骤，以确保设备的可靠性和安全性。

以上是对IEC60749-18

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