• 现行
  • 正在执行有效
  • 2002-04-30 颁布
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【正版授权-英/法语版】 IEC 60749-12:2002 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration,variable frequency_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-12:2002 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第12部分：振动、变频振动
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2002-04-30

文档简介

IEC60749-12:2002EN-FR半导体器件-机械和气候试验方法-第12部分:振动，可变频率振动是国际电工委员会（IEC）发布的一项标准，专门用于规定半导体器件的振动测试方法和条件。它不仅提供了详细的测试方法，而且还定义了适用于不同半导体器件类型的振动频率、振幅、持续时间等参数的变化范围。这些参数被定义为产品规范的一部分，是产品认证和质量控制过程中的重要标准。振动测试主要评估半导体器件在模拟实际运输、储存和使用过程中所经历的振动条件。振动频率的变化意味着测试在不同频率下的表现，以此来评估器件在不同环境条件下的稳定性。这些测试方法对于评估半导体器件的可靠性和寿命至关重要。在进行振动测试时，需要按照标准规定的方法和参数进行操作，以确保测试结果的准确性和可重复性。

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