• 被代替
  • 已被新标准代替
  • 2002-03-25 颁布
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【正版授权-英/法语版】 IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 EN-FR Amendment 1 - Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 EN-FR
  • 标准名称：修订本1-分立半导体器件和集成电路-第5部分3：光电子器件-测量方法
  • 英文名称：Amendment 1 - Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods
  • 标准状态：被代替
  • 发布日期：2002-03-25

文档简介

IEC60747-5-3标准是关于半导体设备和集成电路的标准的一部分，专门用于光电电子设备的测量方法。IEC是一个国际电工委员会（InternationalElectrotechnicalCommission）的标准，致力于电气工程和相关技术的标准化。

该标准的主要内容包括以下几个方面：

1.测试设备的选择和校准：包括光源、光接收器、控制器和数据处理设备等，都需要进行准确的选择和校准，以确保测试结果的准确性和可靠性。

2.测试环境的控制：测试环境对于光电设备的性能测试至关重要，需要保证环境的温度、湿度、清洁度等条件符合标准要求。

3.测试流程和方法：根据设备的特点和性能指标，制定具体的测试流程和方法，包括测试时间、测试次数、测试参数的设置等。

4.数据处理和分析：对测试数据进行处理和分析，以确定设备的性能和缺陷，并给出相应的评估和建议。

此外，该标准还规定了测试过程中的安全注意事项，如防止光源伤害、保持测试环境的整洁等。

IEC60747-5-3标准提供了光电电子设备测试的详细方法和要求，对于保证产品质量和性能具有重要意义。在实际应用中，需

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