• 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-01-30 颁布
©正版授权
注：本标准为国际组织发行的正版标准，下载后为完整内容；本图片为程序生成，仅供参考，介绍内容如有偏差，以实际下载内容为准
【正版授权-英/法语版】 IEC 60747-4:2007+AMD1:2017 CSV EN-FR Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors_第1页
全文预览已结束

下载本文档

基本信息：

  • 标准号：IEC 60747-4:2007+AMD1:2017 CSV EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-分立器件-第4部分：微波二极管和晶体管
  • 英文名称：Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2017-01-30

文档简介

本部分规定了微波二极管和晶体管类半导体器件的一般要求、试验方法、合格判定准则以及实施这些要求时的特殊考虑。本部分不包括半导体器件的其他类型，例如，电真空器件、集成电路和微处理器、二极管和晶闸管。本部分也不涉及测量设备的具体性能指标或操作方式。本部分旨在提供通用和适用于大多数类型的半导体器件的标准规定，以便与产品的一致性和标准化有关的各项要求得以明确表述。本部分特别适用于高功率和高速的微波二极管和晶体管。

具体内容详解如下：

1.一般要求：这部分规定了制造商应满足的基本要求，包括设计、制造过程、质量控制、标记和说明等。

2.试验方法：这部分描述了用于评估和验证产品性能的各种测试方法，包括电气性能、机械性能、环境适应性等。

3.合格判定准则：这部分规定了如何确定产品是否符合规定的性能标准，以及如何评估产品的质量。

4.特殊考虑：这部分针对某些特殊情况，如产品的特殊应用、产品的多批次生产等，提出了相应的要求和规定。

此外，本部分还涉及了测量设备的具体性能指标或操作方式，以确保测试的准确性和可靠性。本部分旨在为制造商提供一个清晰、一致的框架，以符合相关法规和标准的要求。

最后，本部分也特别关注高功率和高速的微波二极管和晶体管，这是因为这些器件在

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题。
  • 4. 下载后请按顺序安装Reader（点击安装）和FileOpen（点击安装）方可打开。详细可查看标准文档下载声明

最新文档

评论

0/150

提交评论