• 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-01-30 颁布
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【正版授权】 IEC 60747-4:2007/AMD1:2017 EN-FR Amendment 1 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60747-4:2007/AMD1:2017 EN-FR
  • 标准名称：修改稿1 - 半导体器件 - 分立器件 - 第4部分：微波二极管和晶体管
  • 英文名称：Amendment 1 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2017-01-30

文档简介

IEC60747-4:2007/AMD1:2017EN-FRAmendment1主要针对半导体器件领域中的微波二极管和晶体管进行了修订和更新。这部分标准主要涉及到微波二极管和晶体管的性能、规格、测试方法以及应用等方面的内容。

具体来说，IEC60747-4:2007/AMD1:2017EN-FRAmendment1包括了以下主要内容：

1.微波二极管的性能要求：包括但不限于二极管的增益、功率容量、频率响应、线性度、稳定性等方面的要求。

2.微波晶体管的性能要求：包括晶体管的放大倍数、频率响应、噪声系数、温度稳定性等方面的要求。

3.规格和设计指南：提供了微波二极管和晶体管的规格参数、设计原则、材料和工艺等方面的指南。

4.测试方法：详细介绍了如何对微波二极管和晶体管进行测试，包括测试设备、测试流程、测试标准等方面的内容。

5.应用指南：介绍了微波二极管和晶体管在各种应用领域中的使用方法和注意事项，包括通信、雷达、导航、电子战等领域。

IEC60747-4:2007/AMD1:2017EN-FRAmendment1标准对于半导体器件中的微波二极管和晶体管的生产、测试和应用具有重要的指导意义。在实际工作中，需要根据标准中的要求进行设计和生产，同时也要按照标准中的测试

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