• 现行
  • 正在执行有效
  • 1986-08-15 颁布
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【正版授权】 IEC 60444-1:1986 EN-FR Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and reso_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60444-1:1986 EN-FR
  • 标准名称：石英晶体单元参数的测量用π-网络零相位技术——第一部分：通过π-网络零相位技术测量石英晶体单元的共振频率和共振阻抗的基本方法
  • 英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a pi-network
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：1986-08-15

文档简介

通过pi网络中零相位技术测量石英晶体元件的谐振频率和阻抗的基本方法。

IEC60444-1:1986标准规定了使用零相位技术测量石英晶体元件参数的方法，包括谐振频率和阻抗。这种方法通常用于石英晶体元件的精确测量和质量控制。

具体来说，该标准包括以下内容：

1.定义了石英晶体元件的基本术语和概念。

2.描述了使用pi网络和零相位技术进行测量的基本原理和方法。

3.规定了测量过程中需要使用的设备和工具，如信号源、测量仪器、pi网络等。

4.详细说明了测量步骤，包括如何连接设备、如何设置参数、如何进行测量等。

5.提供了误差分析和校准方法，以确保测量的准确性和可靠性。

在实际应用中，石英晶体元件广泛应用于各种电子设备和仪器中，如时钟振荡器、频率合成器、频率检测器等。通过使用IEC60444-1:1986标准，可以确保石英晶体元件的参数测量准确性和一致性，从而保证电子设备和仪器的性能和稳定性。

IEC60444-1:1986标准只规定了基本的测量方法，实际应用中还需要根据具体情况进行适当的调整和优化。此外，该标准也适用于其他类型的晶体元件，如陶瓷、玻璃等材料制成的晶体元件。

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