集成电路测试技术基础智慧树知到期末考试答案章节答案2024年北方工业大学

集成电路测试技术基础智慧树知到期末考试答案+章节答案2024年北方工业大学以下器件是混合信号电路器件的为（）。

答案:比较器###模拟开关###数字反相器###锁相环造成DAC转换误差的主要原因有哪些（）。

答案:电阻网络中电阻阻值的偏差###模拟开关的导通电阻和导通压降###参考电压VREF的波动###运算放大器的零点漂移集成电路芯片的主要测试内容哪些需要依据最基本的欧姆定律实现（）。

答案:接触测试###直流参数测试###交流参数测试基于测试时间，内建自测试BIST可分为（）。

答案:非并发在线BIST###结构性离线BIST###并发在线BIST###功能性离线BIST模数转换器中采样速率很高，但是位数不高的类型是（）。

答案:并行ADC将连续变量的模拟信号转换为离散的数字信号的器件为（）。

答案:ADC或非门的传播D立方为（）。

答案:存储器与常规的数字集成电路的故障模型及测试方法相同。（）

答案:错利用相干采样定理进行采样，采样点数N与正弦波个数M可以都为偶数。（）

答案:错测试访问端口TAP主要包括（）。

答案:可选的测试系统复位信号TRST*###测试时钟TCK###测试数据输入端TDI###测试模式选择TMS###测试数据输出端TDO晶圆测试需要用到的设备和硬件资源是（）。

答案:集成电路自动测试设备(ATE)###探针台###探针卡成品测试是对封装后的芯片进行测试，主要包括（）。

答案:功能测试###接触测试###直流参数测试###交流参数测试重要的扫描设计规则包括（）。

答案:至少应有一个用于测试的PI管脚###所有触发器的时钟必须可以从PI控制###时钟不能作为触发器的数据输入###只应使用D型主从触发器数模转换器按结构可分为（）。

答案:权电阻网络DAC###并行输入DAC###T型电阻网络DAC内建自测试BIST的劣势为（）。

答案:额外的设计工作###有一定面积开销###缺少调试和诊断信息###性能下降缺陷等级DL(DefectLevel)一般用（）个芯片中的故障芯片数来表示。

答案:每百万个利用快速傅里叶变换，是在（）对信号进行分析。

答案:频域对扫描设计电路中的扫描寄存器进行测试，需要的时钟周期为（）。

答案:nsff+4接触测试是通过测量保护二极管的电压实现的，若测与地连接的二极管，则应给电流（）

答案:-100μA精密参数测量单元PMU的电流具有方向性，其中流入PMU的电流为（）

答案:负电流测试控制器Controller的功能只是发出控制信号激活BIST。（）

答案:错Shmoo图是同时改变两个相互关联的参数，执行参数测试，得到表明测试结果是否通过的曲线图。（）

答案:错利用ATE进行测试时，对于非被测输入管脚可以悬空。（）

答案:错ADC中为了保证转换的正确完成，一般采样速率必须大于等于转换速率，即采样时间小于等于转换时间。（）

答案:错系统、PCB板和芯片都有测试控制器Controller。（）

答案:对可测试性设计的意义包括（）。

答案:使得产品易于调试和诊断，缩短产品上市时间###缩短了测试长度和时间，降低测试成本###保证高的故障覆盖率，提高测试质量###减少ATPG生成时间，提高ATPG效率内建自测试BIST不能测试的部分包括（）。

答案:从电路输出到原始输出的连线###从PI管脚到输入MUX的连线倒T型电阻网络DAC相比于权电阻网络DAC具有哪些优点（）。

答案:缓冲性能好###转换速度快###开关时间短为测试扫描寄存器的故障及其移位是否正常，给寄存器下列测试序列，其中正确的是（）。

答案:00110011......###11001100......对芯片进行测试，选择测试设备时需考虑（）。

答案:测试向量深度###输入/输出引脚的数目###定时精度###最高时钟频率芯粒Chiplet测试的主要挑战有（）。

答案:互连线存在多种故障类型，测试难度大###测试资源有限，测试接口少###缺少精确的新型故障模型###传统的可测性设计方法不适用于芯粒测试如果只设置一个输入的控制值就可以生成逻辑门的输出，符合此规则的为（）。

答案:NAND门1可控制性###NOR门0可控制性D算法的基本步骤依次为（）。

答案:一致化操作（确定其他节点值，并确保没有赋值的矛盾）###D驱赶（相交运算，将故障传播至原始输出端）###确定故障的初始D立方###选择路径传递故障，写出所在路径上各门的传播D立方对于一个可复位的上升沿触发的D触发器，若须控制输出Q为0，则可以（）。

答案:控制RESET复位端为1###置输入D端为0，且时钟C产生一个上升沿测试图形文件有不同的文件格式，其中基于事件的文件格式包括（）。

答案:EVCD###VCD扫描触发器可以工作在不同模式下，包括（）。

答案:偏移模式###捕捉模式###正常(功能)模式测试一个6输入单输出的基本逻辑门，若输入向量101010，输出为1，则可以判断该逻辑门为（）。

答案:非NOR门###非AND门量产前需要进行的测试包括（）。

答案:特性测试###设计验证进行功能测试时输入给被测器件管脚的信号包括哪些要素（）。

答案:信号格式###测试向量###信号电平###信号时序SCOAP算法中时序测量基本与可以操作控制或观测的（）有关。

答案:时间帧###时间周期识别出导致电路发生故障的具体元器件或子电路的位置，称为（）。

答案:故障定位已知四位倒T型DAC，若参考电压VREF=-8V，Rf=R,当输入数字量1101时，则输出模拟量Vo为（）。

答案:6V基于特征多项式1+x2+x4+x7+x8设计一个LFSR电路，需要几个触发器和异或门（）。

答案:8个触发器，3个异或门对于较低精度的ADC进行测试，一般采用的输入激励信号为（）。

答案:斜波信号系统所有谐波的总功率与输入信号之比，称为（）。

答案:THD基于边界扫描设计的元器件的所有与外部交换的信息（指令、测试数据和测试结果）都采用（）通信方式。

答案:串行第一个标准偏置点和第一个实际偏置点之间的误差，即零伏输入时与理想响应的偏差称为（）。

答案:失调误差假设一个电路有100K个门和2K个触发器，每个触发器由15个门组成，触发器由DFF变为SFF增加5个门开销，则总的扫描设计的门开销为（）。

答案:7.7%FAN算法中进行回溯会按照（）进行。

答案:广度优先利用奇偶校验检查对输出响应101011进行压缩，压缩值为（）。

答案:0或非门中输出端的（）故障支配输入端的sa0故障。

答案:sa1内建逻辑块观察器BILBO有四种工作模式，当控制线为01时，其功能为（）。

答案:线性反馈移位寄存器（LFSR）矢量生成器对于较高度的ADC进行测试，一般采用的输入激励信号为（）。

答案:正弦波信号内建逻辑块观察器BILBO有四种工作模式，当控制线为11时，其功能为（）。

答案:响应压缩器MISRSCOAP度量算法是采用（）方法对电路的可测试性进行度量。

答案:统计DAC是将数字量转换成与它成正比的模拟量，对于一个８位的DAC，若输入数字量D为10011011，参考电压VREF为-10V，则输出模拟量为（）。

答案:6.05V奈奎斯特采样定理是指ADC的最大采样频率必须大于等于（）倍的信号最高频率。

答案:2TAP控制器在（）信号的控制下，可以选择使用指令寄存器扫描或数据寄存器扫描，以及控制边界扫描测试的各个状态。

答案:TCK和TMSPODEM算法中若需使一个或门的输出为1，则优先确定（）的输入端的值。

答案:最容易控制ADC实际的转换特性曲线与理想转换特性曲线的最大差值称为（）。

答案:积分非线性测量器件静态时漏极到地消耗的漏电流IDD采用的方法是（）。

答案:加压测流测试向量生成技术中异或法和布尔差分法都属于代数方法，其基本依据是（）。

答案:电路正常状态下的输出与存在故障状态下的输出不同模数转换器依次由哪几个模块组成（）。①编码②抗混叠滤波器③采样④量化⑤保持

答案:②③⑤④①在自动测试向量生成ATPG算法中，五值逻辑的D表示正常无故障情况下，输出为（）。

答案:1老化测试是通过高温高压，去除（）阶段的失效产品。

答案:早夭期模数转换器的最小效果位LSB可表示VPP/2n，其中VPP为转换范围，ｎ为数字信号位数。对于一个３位的ADC，基准电压为10V，若输入电压为7.7V，则输出数字码为（）。

答案:１１０模数转换器中采用二分搜索算法，即依次根据输入电压与参考电压的1/2,1/4,1/8,......进行比较得到输出数字量，这类ADC属于（）。

答案:逐次逼近型ADC模数转换器中分辨率最高的是Sigma-DeltaADC，主要是因为其采用了哪些技术（）。

答案:噪声整形###数字滤波技术###过采样对ADC进行采样，当采样频率Fs与信号频率Fin的关系为（）时，会出现“欠采样”情况。

答案:Fin信号的均方根值与最差杂散信号的均方根值之比为无杂散动态范围SFDR，当SFDR（）时说明系统的噪声水平越低，ADC的动态性能越好。

答案:越大边界扫描测试结构主要包括（）。

答案:测试访问端口TAP###边界扫描寄存器组Registers###TAP控制器###指令译码器InstructionDecoder获得正常元件输入和输出信号的瞬态值并将它们保存在边界扫描环中两个主从触发器的第一个里面，以便监测和分析被测器件的工作状态，该指令为（）。

答案:采样边界扫描测试的基本原理是在靠近器件的每个输入/输出引脚处增加一个边界扫描单元BSC，其具有哪几种工作模式（）。

答案:捕捉模式###更新模式###正常工作模式###扫描移位模式边界扫描标准主要应用的范围包括（）。

答案:规范板级或其他系统中集成电路之间连接的测试方法###规范集成电路本身的测试方法###规范元器件在正常工作条件下对其观察或控制的方法

答案:6管脚存在短路故障###7管脚存在开路故障###0管脚存在开路故障内测试指令是当芯片装配到PCB/MCM上时，通过使用边界扫描寄存器把外部施加的测试矢量移位到芯片内，从而实施片上系统逻辑的测试，执行内测试指令典型的步骤为（）。①扫描模式，从SI端加载测试向量②扫描模式，将测试结果移位至SO输出③更新模式，将测试向量输入至芯片④捕捉模式，捕捉芯片的输出值

答案:①③④②下列哪些是边界扫描寄存器组必要的寄存器（）。

答案:指令寄存器###边界扫描寄存器###旁路寄存器下列哪些是边界扫描指令中的强制指令（）。

答案:采样/预载指令###外测试指令###旁路指令关于TAP控制器，表达正确的是（）。

答案:可以选择使用指令寄存器扫描或数据寄存器扫描，能够控制边界扫描测试的各个状态###TAP控制器共有16个状态###只允许TCK、TMS和TRST*信号影响，是边界扫描测试核心控制器###是能够识别边界扫描通信协议和通过内部信号控制边界扫描硬件的简单有限状态机标准线性反馈移位寄存器LFSR的特点有（）。

答案:触发器序号由小到大的顺序为从右至左（对应特征多项式）###XOR门在触发器的外部采用MISR和并行移位寄存器序列生成器的自测试结构为STUMPS，该结构可减少硬件开销，若有20个全扫描链，每个100bit，则2000bit芯片输出，需要（）位的MISR。

答案:20内建自测试BIST技术在芯片设计中增加了三部分硬件以实现自测试，分别是（）。

答案:测试向量生成器TPG###响应压缩器ORA###BIST控制器Controller线性反馈移位寄存器LFSR生成的测试向量长度小于确定性ATPG生成的测试向量长度。（）

答案:错按时钟测试BIST系统有何特点（）。

答案:每个时钟周期实施一个测试###较短的测试长度,较多的BIST硬件利用奇偶校验检查对输出响应1101011进行压缩，压缩值为（）。

答案:1采用LFSR作为压缩、特征分析电路，可看作多项式的除法，其中除数是（）。

答案:LFSR对应的特征多项式基于特征多项式1+x6+x7设计一个LFSR电路，需要几个触发器和异或门（）。

答案:7个触发器，1个异或门若使或非门的输出为0，可插入控制点使其为（）。

答案:1对扫描设计电路进行测试，典型的测试步骤为（）。①选择移位模式，依次移位为触发器赋值②选择捕捉模式，更新触发器状态③选择正常模式，驱动PI的值，观察PO④选择移位模式，将触发器的状态依次读出

答案:①③②④扫描设计的主要思想是获得对触发器的可控制和可观测，主要方法为（）。

答案:由扫描触发器(SFF)代替触发器###在测试模式下将SFF连接形成一个或多个移位寄存器###使每个扫描移位寄存器的输入/输出从PI/PO为可控制的/可观测的###增加测试控制(SE)原始输入进行了扫描设计的电路，在哪些方面存在不足（）。

答案:扫描单元有多路选择器，产生了延迟###扫描设计中的布线增加了芯片面积###增加扫描硬件，从而增加了芯片面积###性能方面，降低了信号速度结构化的DFT方法包括（）。

答案:Boundaryscan###Scandesign###BIST自动扫描设计的具体步骤（）。

答案:扫描替换###扫描配置###扫描链接###扫描单元重新排序AdHocDFT需要有好的设计规则，包括（）。

答案:避免冗余门,避免大的扇入门###对难于控制的信号提供测试控制###避免异步(unclocked)反馈###提供clear/reset信号，使触发器可初始化哪种工作模式下，选择扫描单元数据输入端的数据（）。

答案:正常模式###捕捉模式对扫描设计电路中的固定故障进行测试，需要的时钟周期为（）。

答案:(nsff+1)ncomb+nsff单时钟同步电路的特点（）。

答案:信号经过组合逻辑的传播时间不超过时钟周期###每个时钟周期施加一个向量并产生一个输出###只有一个时钟，所有触发器的状态变化都与所加的时钟信号同步###触发器为理想的存储元件对时序电路进行测试，可采用的方法包括（）。

答案:扫描设计的DFT方法###基于模拟的方法###时间帧展开方法九值逻辑中若G1表示（）。

答案:正常情况为1，故障情况为X时序电路的测试向量需包含哪几部分（）。

答案:将故障效应传递到组合逻辑边界的组合测试码###使内部存储器初始化的向量###激活故障的测试向量时序电路的故障测试相比于组合电路更复杂，主要因为（）。

答案:时序电路内部存储器状态未知###时序电路存储器最后状态不可直接观测，只能从原始输出间接推断组合电路与时序电路之间测试向量的差别（）。

答案:组合电路测试向量生成算法用五值逻辑###时序电路测试向量生成算法用九值逻辑###时序电路对一个目标故障需要一个序列的测试向量###组合电路对一个目标故障只需一个测试向量时序电路测试的BACK算法是基于（）来选择检测故障的原始输出PO。

答案:可驱动性分析时序电路与组合电路的区别包括（）。

答案:时序电路的输出不仅取决于当前输入，还与电路前一时刻的状态有关###针对时序电路的故障测试需要一序列的测试向量###时序电路中触发器的状态不可控不可测###时序电路含有反馈通道时序电路测试的BACK算法中传递故障时，优先选择具有“最难”可驱动性的输出。（）

答案:错

答案:01若组合电路中存在不可检测的故障，则说明该电路为（）。

答案:冗余电路功能测试与结构测试的区别为（）。

答案:结构测试可以利用算法生成测试向量###结构测试需要考虑故障模型###功能测试的测试向量多，测试时间长PODEM算法与D算法的区别包括（）。

答案:不需要线确认的过程###寻找故障信号到PO端路径最近的通路做驱赶###搜索空间只限制为原始输入###定义了X-PATH来判断是否还存在D边界与非门的奇异立方为（）。

答案:非确定性的测试向量生成技术包括（）。

答案:随机测试向量生成###穷举或伪穷举测试向量生成利用FAN算法，若需使一个或非门的输出为１，则进行反向蕴涵时（）。

答案:同时设置所有输入为０，然后再进行正向和反向蕴涵与非门ｂ端sa0故障的初始D立方为（）。

答案:abz=11D’FAN算法中提出了哪些新的概念（）。

答案:主导线###多重回溯###立即蕴涵###惟一敏化时序度量与组合度量不同，计算可控制性时须反复迭代，原因为存在触发器的反馈回路。（）

答案:对可测试性度量主要包括哪些方面（）。

答案:可观测性###可控制性对于时序电路中时序节点的可控制性首先设置为（）。

答案:逻辑门原始输入的可控制性定义为（）。

答案:1SCOAP算法中组合测量基本与可以操作控制或观测的（）有关。

答案:信号数量PMOS管导通需要栅极电压为（）。

答案:低电平MOS晶体管固定开路故障的检测需要（）。

答案:两组测试向量，使输出状态发生变化与非门中输入端的sa0故障与输出的（）故障等价。

答案:sa1输入端为AB的或非门中，如果B端控制的NMOS管有固定开路故障，则需要的测试向量是（）。

答案:AB分别为0001CMOS或非门由两个PMOS管和两个NMOS管构成，其中两个PMOS管连接方式为（）。

答案:串联VLSI芯片中的典型缺陷包括（）。

答案:工艺缺陷###封装缺陷###材料缺陷###寿命缺陷固定故障、桥接故障属