《集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 ic带状线法gbt 42968.8-2023》详细解读

《集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量ic带状线法gb/t42968.8-2023》详细解读contents目录1范围2规范性引用文件3术语和定义4概述5试验条件5.1通则5.2电源电压contents目录5.3频率范围6试验设备6.1通则6.2电缆6.3屏蔽6.4RF骚扰发生器6.5IC带状线6.650Ω终端contents目录6.7DUT监测器7试验布置7.1通则7.2试验配置7.3EMC试验板(PCB)contents目录8试验程序8.1通则8.2运行检查8.3抗扰度测量9试验报告contents目录10射频抗扰度接受电平附录A(规范性)场强确定附录B(规范性)IC带状线的描述附录C(资料性)封闭式带状线的几何尺寸限制参考文献011范围规定了采用ic带状线法进行辐射抗扰度测量的具体步骤和要求。适用于集成电路在电磁辐射环境下的抗扰度性能评估。本部分详细阐述了集成电路电磁抗扰度测量中的辐射抗扰度测量方法。涵盖内容本标准适用于各类集成电路（包括数字、模拟及混合信号集成电路）的电磁抗扰度测量。适用范围辐射抗扰度测量可作为集成电路研发、生产、质检等环节的重要测试项目。通过对集成电路进行辐射抗扰度测量，有助于提升产品的电磁兼容性和可靠性。不适用范围本标准不适用于非集成电路元器件的电磁抗扰度测量。对于特殊类型集成电路（如高压、高功率等），可能需要根据具体情况制定附加测量要求。022规范性引用文件引用标准与文件本部分首先引用了GB/T42968的《集成电路电磁抗扰度测量》系列标准，作为本部分制定的基础和依据。同时，还引用了与辐射抗扰度测量相关的国际标准和国内先进标准，如IEC62439系列标准，以确保本部分的技术内容与国际接轨。规范性引用文件的重要性规范性引用文件是确保本部分测量方法和结果准确可靠的基础，它们为本部分的制定提供了科学、合理的依据。通过引用这些文件，可以使得本部分的读者更好地理解并掌握辐射抗扰度的测量方法，从而提高集成电路的电磁兼容性。引用文件的执行与监督在执行本部分时，应严格遵守所引用的规范性文件的要求，确保测量过程的规范性和结果的有效性。同时，相关监督机构也应对本部分的执行情况进行监督检查，以确保标准得到正确实施，保障集成电路行业的健康发展。““033术语和定义集成电路（IntegratedCircuit,简称IC）功能实现电路功能的微型结构，具有微小型化、低功耗、智能化和高可靠性等特点。表示方法在电路中用字母“IC”表示。定义集成电路是一种微型电子器件或部件，通过特定工艺将晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，并封装在管壳内。030201定义电磁抗扰度是指电子设备或系统抵御外界电磁干扰的能力。重要性电磁抗扰度是评估电子设备或系统在复杂电磁环境中能否正常工作的重要指标。电磁抗扰度（ElectromagneticImmunity）辐射抗扰度（RadiatedImmunity）测试目的检验被测设备在辐射电磁场作用下的工作性能和抗干扰能力。定义辐射抗扰度是指电子设备或系统抵御外界电磁波辐射干扰的能力。IC带状线法（ICStriplineMethod）定义IC带状线法是一种用于测量集成电路辐射抗扰度的方法。特点应用范围通过模拟电磁波在带状线中的传播，对被测集成电路进行辐射抗扰度测试，具有测试准确度高、可重复性好等优点。适用于各类集成电路的辐射抗扰度测量。044概述4.1内容和范围适用于各类集成电路产品的辐射抗扰度性能评估，为产品研发和生产提供技术指导和依据。规定了测试设备、测试环境、测试程序以及测试结果的评价准则，确保测量的准确性和可靠性。本部分详细阐述了集成电路电磁抗扰度测量中的辐射抗扰度测量方法，特别是ic带状线法。010203测试等级根据集成电路的应用场景和实际需求，设定不同的辐射抗扰度测试等级，以评估产品在不同干扰环境下的性能表现。辐射抗扰度指集成电路在受到外界电磁辐射干扰时，仍能保持其预定功能和性能的能力。ic带状线法一种用于测量集成电路辐射抗扰度的方法，通过特定的带状线装置模拟电磁辐射环境，对集成电路进行干扰测试。4.2术语和定义123集成电路作为现代电子设备的核心部件，其电磁抗扰度性能直接关系到整个系统的稳定性和可靠性。通过规范的辐射抗扰度测量，可以及时发现并改进集成电路在电磁兼容性方面存在的问题，提高产品质量和市场竞争力。ic带状线法作为一种有效的测试方法，为集成电路的电磁抗扰度测量提供了可行的解决方案，推动了行业的技术进步和发展。4.3重要性和意义055试验条件IC带状线测试装置专用的测试装置，用于模拟IC在实际应用中的辐射环境，评估其抗扰度性能。辅助测试设备包括电源、示波器、负载等，用于提供测试所需的稳定条件并记录测试结果。辐射抗扰度测试系统包括信号发生器、功率放大器、发射天线、接收天线及测量接收机等设备，用于产生和接收辐射干扰信号。5.1试验设备试验场地应选择具有屏蔽效能的室内环境进行试验，以减少外界电磁干扰对测试结果的影响。设备布置测试系统各设备应合理布置，确保信号传输路径的畅通，同时避免设备间的相互干扰。IC样品安装被测IC应按照规定的安装方式进行固定，以确保测试结果的准确性和可重复性。5.2试验布置辐射抗扰度测试在辐射干扰信号作用下，观察并记录被测IC的性能变化情况，如工作电流、输出电压等关键指标。性能测试失效判据根据被测IC的实际情况，制定合理的失效判据，用于判定其在辐射干扰下的抗扰度是否达标。通过调整信号发生器的频率和功率，产生不同强度和频率的辐射干扰信号，对被测IC进行抗扰度测试。5.3试验方法定期对测试设备进行校准，确保其准确性和可靠性。设备校准对试验环境进行实时监控，记录温度、湿度等环境参数，以便分析测试结果时参考。环境监控在进行辐射抗扰度测试时，应确保测试人员的人身安全，采取必要的防护措施。安全防护5.4试验注意事项065.1通则适用范围与目的本部分适用于集成电路（IC）电磁抗扰度测量中的辐射抗扰度测量，采用IC带状线法。目的是规范IC辐射抗扰度测量方法，提高测量准确性和可靠性，为IC的电磁兼容性设计和评估提供依据。““VS指IC在受到外界电磁场辐射干扰时，仍能保持其预定功能和性能的能力。IC带状线法一种用于测量IC辐射抗扰度的方法，通过模拟IC在实际应用环境中受到的电磁辐射干扰，评估其抗扰度性能。辐射抗扰度术语和定义测量原理与要求测量原理基于电磁场理论和IC工作原理，通过施加一定强度和频率的电磁场辐射干扰信号，观察IC的性能变化情况。测量过程中应确保测试环境的干净、屏蔽和接地良好，以减小外界干扰对测量结果的影响。同时，应选择合适的测量仪器和参数设置，确保测量的准确性和可重复性。075.2电源电压电源电压是指集成电路正常工作所需的供电电压。在集成电路中，电源电压的稳定性和准确性对电路性能至关重要。电源电压的定义提供集成电路内部各元件所需的工作电压。影响集成电路的功耗和性能。电源电压的作用电源电压的测量方法使用万用表或示波器等测试设备，在集成电路的电源引脚处进行测量。测量时需注意安全，避免短路或过载等情况发生。““电源电压的稳定性要求电源电压的稳定性对集成电路的可靠性有着重要影响。在设计集成电路时，需要考虑电源电压的波动范围，以确保电路在各种环境下均能正常工作。085.3频率范围起始频率指辐射抗扰度测量中，IC带状线法所适用的最低频率点，通常根据测试需求和标准规定来确定。终止频率频率范围的意义频率范围的定义指辐射抗扰度测量中，IC带状线法所适用的最高频率点，同样根据测试需求和标准规定来确定。确定了IC带状线法在不同频率下的适用性，为准确评估集成电路的电磁抗扰度提供了依据。测试设备的频率响应特性会直接影响可测量的频率范围，因此需选用符合标准要求的测试设备。测试设备性能不同类型的集成电路具有不同的工作频率范围，因此测量时需考虑被测集成电路的实际情况。被测集成电路特性测量环境中的电磁干扰、噪声等因素也会对频率范围产生影响，需采取有效措施进行控制和屏蔽。测量环境频率范围的影响因素根据国家标准GB/T42968.8-2023中的规定，结合实际需求，选择合适的频率范围进行测量。依据标准规定借鉴类似集成电路产品的测量经验，有助于更合理地确定频率范围。参考类似产品经验在确定频率范围时，需综合考虑测试设备、被测集成电路、测量环境等多方因素，以确保测量结果的准确性和可靠性。综合考虑多方因素频率范围的选择与确定096试验设备6.1.1辐射场发生器发生器应具备必要的调制功能，以模拟实际环境中的电磁干扰情况。场强监测设备用于实时监测测试区域的电磁场强度，确保测试条件的一致性。辐射场发生器应能产生符合标准要求的电磁场强度，并确保场强的均匀性和稳定性。6.1.2场强监测设备监测设备应具备高灵敏度和准确性，以及稳定的性能。0102030405066.1辐射抗扰度测试系统6.2.1IC带状线结构IC带状线应具有合适的尺寸和结构，以容纳被测集成电路并提供良好的电磁屏蔽效果。带状线的材料应选择具有高导电性能的金属，以确保电磁信号的传输效率。6.2.2信号传输与监测系统信号传输系统应确保测试信号在带状线中的稳定传输，并具备必要的阻抗匹配功能。监测系统用于实时采集和分析测试过程中的信号变化，以评估集成电路的辐射抗扰度性能。6.2IC带状线测试装置0102030405066.3.1电源与供电系统测试过程中应使用稳定的电源，以确保测试结果的可靠性。供电系统应具备过流、过压等保护功能，以确保测试过程的安全性。6.3.2测试夹具与连接线测试夹具应具有良好的机械稳定性和电气性能，以确保被测集成电路的准确安装。连接线应选择低损耗、高屏蔽效果的线材，以减少外界干扰对测试结果的影响。6.3辅助测试设备106.1通则适用范围与目的本部分规定了集成电路电磁抗扰度测量中辐射抗扰度测量的IC带状线法。旨在确保集成电路在电磁辐射环境下能够正常工作，提高其可靠性和稳定性。辐射抗扰度指集成电路在受到电磁辐射干扰时，仍能保持其预定功能和性能的能力。IC带状线术语和定义一种用于模拟电磁场环境并测量集成电路辐射抗扰度的实验装置。0102测量方法采用IC带状线法，通过施加不同频率和强度的电磁场，测量集成电路的辐射抗扰度。测量要求确保测试环境的电磁屏蔽效果，避免外部电磁干扰对测量结果的影响；同时，应选择合适的测量设备和参数，以保证测量的准确性和可靠性。测量方法与要求116.2电缆电缆类型根据具体应用场景选择适当的电缆类型，如同轴电缆、双绞线等，以满足辐射抗扰度测量的需求。性能参数电缆应具备良好的电气性能和屏蔽效果，以确保测量结果的准确性和可靠性。电缆类型与选择合理规划电缆的走向和布局，减小电磁干扰对测量结果的影响。布局原则电缆的安装应符合相关标准和规范，确保电缆的固定牢靠，避免在测量过程中发生移动或损坏。安装要求电缆布局与安装电缆的连接应采用可靠的连接方式，确保连接稳定且接触良好，避免因连接不良导致的测量误差。连接方式电缆的屏蔽层应正确接地，以消除电磁干扰，提高测量的准确性。同时，接地电阻应符合相关要求，以确保接地效果良好。接地处理电缆连接与接地定期对电缆进行检查，发现损坏或老化现象及时进行处理，确保电缆处于良好的工作状态。定期检查对电缆进行必要的清洁和保养，延长其使用寿命，提高测量的稳定性和可靠性。维护保养电缆维护与检修126.3屏蔽屏蔽的定义和作用作用屏蔽能够有效地减小或消除外部电磁场对集成电路的干扰，提高其工作稳定性和可靠性。同时，屏蔽还可以防止集成电路产生的电磁辐射对周围环境造成干扰。定义屏蔽是指通过物理或电磁手段，将集成电路的某些部分或全部包围起来，以防止电磁干扰（EMI）对其造成影响的措施。分类根据屏蔽对象和目的的不同，屏蔽可分为电场屏蔽、磁场屏蔽和电磁屏蔽等类型。实施方法电场屏蔽主要通过接地金属板或金属网来实现；磁场屏蔽则采用高导磁率的材料来构成屏蔽体；而电磁屏蔽则结合了电场和磁场屏蔽的原理，采用金属板或金属网等导电材料来同时屏蔽电场和磁场。屏蔽的分类和实施方法应用在集成电路的设计和制造过程中，屏蔽技术被广泛应用于减小芯片间的相互干扰、提高信号传输质量以及保护敏感电路免受外部干扰等方面。注意事项在实施屏蔽措施时，需要考虑屏蔽体的材料选择、结构设计、接地方式等因素，以确保屏蔽效果的有效性。同时，还需关注屏蔽体对集成电路散热性能的影响，避免因屏蔽而导致的温度升高问题。屏蔽在集成电路中的应用及注意事项136.4RF骚扰发生器设备组成与工作原理高频信号源产生所需的骚扰信号，经过功率放大器放大后，通过定向耦合器和发射天线将信号辐射出去，从而对被测集成电路产生电磁骚扰。工作原理RF骚扰发生器主要由高频信号源、功率放大器、定向耦合器、发射天线等部分组成，用于生成特定频率、功率和调制方式的RF骚扰信号。设备组成主要技术指标频率范围指RF骚扰发生器能够产生的骚扰信号的频率范围，应覆盖被测集成电路可能遇到的实际骚扰信号频率。功率输出RF骚扰发生器的功率输出能力，直接决定了骚扰信号的强度和有效性。通常需要根据被测集成电路的敏感度和测试需求来选择合适的功率输出。调制方式调制方式是指骚扰信号的波形特征，包括幅度调制、频率调制和相位调制等。不同的调制方式对集成电路的骚扰效果不同，因此需要根据测试需求选择合适的调制方式。操作方法在使用RF骚扰发生器进行电磁抗扰度测试时，需要按照规定的步骤进行操作。通常包括设置骚扰信号的频率、功率和调制方式，调整发射天线的位置和角度，以及监控被测集成电路的响应等。01操作方法与使用注意事项使用注意事项为确保测试结果的准确性和可靠性，使用RF骚扰发生器时需要注意以下几点：确保设备接地良好，避免电磁干扰；定期检查设备性能，确保各项技术指标符合要求；严格遵守测试规程和安全操作规范，确保人员和设备安全。02146.5IC带状线定义IC带状线是一种用于集成电路电磁抗扰度测量的测试结构，其特点是具有特定的尺寸和形状，能够模拟实际工作环境中的电磁干扰情况。特点IC带状线具有较高的测量精度和可重复性，能够有效地评估集成电路在辐射抗扰度方面的性能。IC带状线定义与特点IC带状线测量方法与步骤测量方法采用辐射抗扰度测量方法对IC带状线进行测量，通过施加不同强度和频率的电磁场干扰信号，观察集成电路的工作状态变化。测量步骤首先确定测量参数，包括干扰信号的频率范围、强度等；然后将待测集成电路放置在IC带状线测试夹具中，并施加干扰信号；最后记录并分析测量结果，评估集成电路的抗扰度性能。IC带状线测量注意事项与局限性虽然IC带状线测量方法在评估集成电路辐射抗扰度方面具有较高的准确性，但仍存在一定的局限性。例如，该方法可能无法完全模拟实际复杂工作环境中的电磁干扰情况，因此在实际应用中需结合其他测试方法进行综合评估。局限性在进行IC带状线测量时，应确保测试环境的干净、整洁，避免外界干扰对测量结果的影响。同时，操作人员需熟悉测量设备的使用方法和安全规范，确保测量过程的安全可靠。注意事项156.650Ω终端VS50Ω终端是集成电路电磁抗扰度测量中的一个重要组成部分，用于模拟电路在正常工作条件下的阻抗匹配。作用确保测量过程中信号的稳定传输，减小信号反射和损耗，从而提高测量的准确性和可靠性。定义终端的定义与作用选择根据具体的测量需求和集成电路的类型，选择合适的50Ω终端，以确保测量结果的准确性。配置终端的选择与配置在测量过程中，需严格按照相关标准和规范进行终端的配置，包括终端的阻抗值、连接方式等。0102阻抗匹配50Ω终端能够实现与待测集成电路的阻抗匹配，从而减小信号传输过程中的反射和损耗，使测量结果更加接近真实情况。测量稳定性合理的终端配置能够提高测量的稳定性，减小外界干扰对测量结果的影响。终端对测量结果的影响定期检查为确保终端的准确性和可靠性，需定期对其进行检查和维护，包括阻抗值的校准、连接方式的检查等。规范操作在使用50Ω终端进行测量时，需严格按照相关操作规范进行，避免因操作不当而影响测量结果的准确性。终端使用注意事项166.7DUT监测器DUT监测器能够实时监测被测设备（DUT）在电磁辐射环境下的工作状态。实时监测监测器可以记录DUT在测试过程中的各项参数变化，为后续的数据分析提供依据。数据记录当DUT受到电磁干扰出现异常时，监测器能够及时发出预警信号，提醒操作人员注意。故障预警DUT监测器的作用010203灵敏度监测器应具备高灵敏度，能够准确捕捉到DUT的微弱信号变化。稳定性监测器需要具有良好的稳定性，确保在长时间测试过程中性能稳定可靠。抗干扰能力监测器自身应具备较强的抗干扰能力，以减小外部环境对其性能的影响。030201DUT监测器的性能指标正确连接使用前需确保监测器与DUT之间的连接正确无误，避免因连接不当导致测试数据失真。DUT监测器的使用注意事项定期校准为保证监测器的准确性，应定期对其进行校准，确保其性能指标符合要求。安全防护在使用过程中，应注意对监测器进行安全防护，避免因其受到物理损伤而影响测试结果。177试验布置应选择符合标准要求的室内或室外试验场地，确保无外界电磁干扰。场地选择试验场地应具备良好的电磁屏蔽效果，以减小环境对测试结果的影响。场地屏蔽确保试验场地具备完善的安全防护措施，保障人员和设备安全。安全防护7.1试验场地要求01设备选型根据测试需求，选用符合标准要求的测试设备、仪器仪表和辅助设施。7.2试验设备布置02设备安装测试设备应按照标准要求进行安装和调试，确保设备性能稳定可靠。03设备防护对测试设备进行必要的防护，以减小电磁干扰对设备性能的影响。选择符合试验要求的集成电路，进行必要的预处理和检查。被试集成电路准备按照试验布置要求，将被试集成电路安装在指定的测试位置。被试集成电路安装确保被试集成电路与测试设备之间的连接正确无误，避免连接故障对测试结果的影响。被试集成电路连接7.3被试集成电路布置测试系统组成测试系统应包括信号发生器、功率放大器、辐射天线、场强监测设备等。测试系统校准定期对测试系统进行校准，确保测试结果的量值溯源性和可比性。测试系统配置根据测试需求，合理配置测试系统的各项参数，确保测试结果的准确性和可靠性。7.4辐射抗扰度测试系统布置187.1通则适用范围与目的本部分适用于集成电路电磁抗扰度测量中的辐射抗扰度测量，采用ic带状线法。目的是规范集成电路在辐射电磁场作用下的抗扰度测试方法，评估其性能。指集成电路在受到辐射电磁场干扰时，仍能保持其预定功能和性能的能力。辐射抗扰度一种用于集成电路辐射抗扰度测量的方法，通过特定的带状线装置模拟电磁场环境。ic带状线法术语与定义测试环境与条件测试应在屏蔽室内进行，以减小外界电磁干扰的影响。01测试设备应包括信号发生器、功率放大器、辐射天线、接收天线及测量仪器等。02测试样品应按制造商规定的方式安装和连接，确保其处于正常工作状态。03012.将集成电路样品放置在辐射场中，调整其位置以满足测试要求。4.根据实验结果评估集成电路的辐射抗扰度性能，给出相应的测试报告。1.确定测试频率范围和场强值，根据实验等级选择合适的测试参数。3.施加辐射干扰，观察并记录集成电路的工作状态和性能变化。测试方法与步骤020304197.2试验配置设备选择与校准0302选用符合标准的信号发生器、功率放大器及场强测量设备。01定期检查设备性能，避免试验过程中出现故障。确保所有设备在试验前进行校准，以保证测量结果的准确性。010203选择合适的试验场地，确保场地满足辐射抗扰度测试的要求。控制环境噪声与干扰，以减小对测试结果的影响。保持试验场地整洁，确保测试人员安全。试验场地与环境根据IC带状线法的要求，合理布局试验设备与被测集成电路。设置合适的辐射场强与频率范围，以覆盖被测集成电路的工作范围。确保试验过程中的人员与设备安全，采取必要的防护措施。试验布局与设置010203按照规定的试验步骤进行操作，确保试验的顺利进行。在试验过程中密切关注被测集成电路的状态，记录任何异常情况。实时监测并记录试验数据，包括场强、频率等关键参数。试验过程与记录207.3EMC试验板(PCB)材质选择试验板应选用高性能的PCB材质，以确保良好的电气性能和热稳定性。布局规划元器件布局需合理，以减少电磁干扰（EMI）的影响，同时便于测试操作。线路设计线路设计应符合相关标准，确保信号传输的稳定性和可靠性。试验板设计要求加工工艺采用先进的PCB加工工艺，以确保试验板的质量和精度。检测环节制造过程中应设置多个检测环节，确保试验板符合设计要求。焊接质量元器件焊接应符合相关标准，避免出现虚焊、假焊等不良现象。试验板制造要求030201应用场景试验板主要应用于电磁兼容性（EMC）测试中，以评估集成电路的辐射抗扰度。操作规范在使用试验板进行测试时，需遵循相应的操作规范，确保测试结果的准确性和可靠性。维护与保养定期对试验板进行维护和保养，以延长其使用寿命并确保测试性能的稳定。试验板应用与操作218试验程序根据标准规定，选择符合要求的集成电路样品作为试验对象。确定试验样品确保试验所需的辐射抗扰度测试系统、带状线装置、信号发生器、功率放大器等设备处于良好状态。检查试验设备按照标准要求，搭建辐射抗扰度试验环境，包括屏蔽室、接地系统、安全防护措施等。配置试验环境8.1试验准备8.2试验步骤样品安装与连接将集成电路样品正确安装在带状线装置上，并连接好测试所需的电缆和接线。设置试验参数根据试验要求，设置信号发生器的频率、功率等参数，以及测试系统的测量范围和精度等。进行辐射抗扰度测试开启辐射源，对集成电路样品进行辐射抗扰度测试，记录测试过程中的数据变化。判定试验结果根据测试数据，判定集成电路样品是否符合标准规定的辐射抗扰度要求。试验报告撰写根据试验结果，撰写详细的试验报告，包括试验目的、过程、结果及结论等部分，为后续工作提供依据。数据整理与分析对试验过程中记录的数据进行整理和分析，提取关键指标，为后续改进提供参考。样品恢复与归档将试验后的集成电路样品进行恢复，并妥善归档保存，以备后续使用或复查。8.3试验后处理228.1通则适用范围与目的本部分适用于集成电路电磁抗扰度测量中的辐射抗扰度测量，采用ic带状线法。目的是为了评估集成电路在辐射电磁场干扰下的性能，以确保其在实际应用中的可靠性。辐射抗扰度指集成电路在受到辐射电磁场干扰时，仍能保持其预定功能的能力。ic带状线法一种用于测量集成电路辐射抗扰度的方法，通过特定的带状线装置模拟电磁场环境。术语与定义测量原理与要求测量原理基于电磁场理论与集成电路工作原理相结合，通过测量集成电路在辐射电磁场作用下的性能变化来评估其抗扰度。测量过程中需确保电磁场的均匀性、稳定性以及测量结果的准确性。123辐射抗扰度是集成电路可靠性的重要指标之一，对于保障电子系统的稳定运行具有重要意义。本方法适用于各类集成电路的辐射抗扰度测量，包括但不限于数字电路、模拟电路以及混合信号电路等。在汽车电子、航空航天、工业控制等领域，对集成电路的辐射抗扰度要求尤为严格，本方法的应用具有广泛的实际意义。重要性与应用场景238.2运行检查通过对测试系统的各项参数和功能进行检查，可以确保整个系统在测试过程中处于良好的工作状态。确保测试系统正常运行运行检查可以及时发现并纠正可能存在的测试误差，从而保证测试结果的准确性和可靠性。验证测试结果的准确性检查目的测试设备校准对用于测试的所有设备进行校准，确保其测量精度和稳定性符合相关标准和要求。测试环境检查测试软件验证检查内容检查测试环境的温度、湿度、电磁干扰等条件是否满足测试要求，以确保测试结果的有效性。验证测试软件的正确性和稳定性，确保其能够准确控制测试流程并记录测试数据。定期巡检定期对测试系统进行全面检查，包括设备外观、连接线路、电源状态等方面。功能测试对测试系统的各项功能进行逐一测试，确保其正常工作且性能稳定。对比分析将运行检查过程中获得的数据与以往测试数据进行对比分析，以及时发现并处理异常情况。检查方法248.3抗扰度测量通过模拟空间电磁辐射环境，测试集成电路在规定条件下的抗扰度能力。辐射抗扰度测量利用IC带状线作为辐射天线，在特定频率和场强下对集成电路进行辐射抗扰度测量。IC带状线法应用遵循gb/t42968.8-2023标准，确保测量结果的准确性和可靠性。测量依据测量原理样品放置将待测集成电路按照规定方式放置在IC带状线测试夹具中，确保良好的接触与屏蔽。数据记录与分析在辐射抗扰度测量过程中，详细记录各项数据，包括频率、场强、测试时间等，并对数据进行分析处理，评估集成电路的抗扰度性能。辐射场强设置根据测试需求，设置特定频率和场强，模拟实际使用场景中的电磁辐射环境。预备工作选定合适的IC带状线、信号源、场强测量设备等，搭建稳定的测试环境。测量步骤在进行辐射抗扰度测量时，应确保测试人员的人身安全，采取必要的防护措施。安全防护定期对测试设备进行校准，确保测量结果的准确性。设备校准测试环境应保持干燥、无尘、无强电磁干扰等，以减小外界因素对测量结果的影响。环境控制注意事项010203259试验报告9.1报告内容试验样品描述包括样品名称、型号、生产厂家等基本信息，以及样品的照片或示意图。02040301试验结果与分析根据试验数据，分析样品的辐射抗扰度性能，给出是否通过试验的结论。试验条件记录详细记录试验过程中的各项参数，如辐射场强、频率范围、试验时间等。偏差与不确定度说明对试验过程中可能出现的偏差和不确定度进行说明，以评估试验结果的可靠性。20149.2报告格式与要求报告应采用标准格式，包含封面、目录、正文等部分，确保结构清晰、内容完整。报告中的数据应以表格或图表形式呈现，便于阅读和分析。报告应使用专业术语，表述准确、简洁，避免产生歧义。报告应经过审核和批准，确保其内容的真实性和有效性。04010203试验报告应妥善保存，以备后续查阅和参考。9.3报告的保存与保密涉及商业机密或技术秘密的报告，应采取相应的保密措施，防止信息泄露。报告的保存期限应根据相关法规或标准要求进行设定，确保在需要时能够提供完整的试验证据。2610射频抗扰度接受电平定义与概述射频抗扰度接受电平是指集成电路在电磁辐射干扰下，仍能保持正常工作所允许的最大干扰电平。该指标是衡量集成电路抗电磁干扰能力的重要参数，对于评估集成电路在复杂电磁环境中的可靠性具有重要意义。测量方法与原理射频抗扰度接受电平的测量通常采用带状线法，通过模拟电磁辐射对集成电路产生的干扰，测试其抗扰度能力。测量原理基于电磁场理论与传输线理论，通过精确控制干扰源的频率、功率等参数，观察集成电路在不同干扰电平下的工作状况。影响因素与改进措施集成电路的射频抗扰度受多种因素影响，包括电路设计、元器件选择、布线布局等。提高射频抗扰度的方法包括优化电路设计、选用高性能元器件、改进布线布局等，以降低电磁干扰对集成电路的影响。同时，还可以采取屏蔽、滤波等外部措施，进一步提高集成电路的抗扰度能力。““27附录A(规范性)场强确定电磁场理论基于麦克斯韦方程组，通过测量电磁波的幅度、频率和相位等参数，确定场强大小。测量仪器使用场强计或频谱分析仪等专用仪器，对电磁场进行准确测量。场强测量原理01预备工作选定测量点，确保测量环境无干扰源，对测量仪器进行校