DZT 0279.10-2016 区域地球化学样品分析方法 第10部分：氯和溴量测定 粉末压片-X射线荧光光谱法（正式版）

中华人民共和国地质矿产行业标准区域地球化学样品分析方法第10部分：氯和溴量测定粉末压片-X射线荧光光谱法Analysismethodsforregionalgeochemicalsample—Part10:Determinchlorineandbrominecontents中华人民共和国国土资源部发布IDZ/T0279.10—2016 Ⅲ1范围 12规范性引用文件 1 14试剂 15仪器及材料 2 27分析步骤 2 27.2试料片制备 27.3标准试样片制备 27.4校准系列样片制备 27.5试料测定 37.5.1设置测量条件 37.5.2背景校正 37.5.3标准试样的测定 37.5.4校准与校正 3 47.6验证试验 48结果计算 49精密度和正确度 410质量保证和控制 510.1控制方法 510.2控制样品的数量 510.3控制指标 510.4注意事项 510.5对验证试验不合格的处理 6附录A(资料性附录)仪器参考工作条件 7Ⅲ本部分按照GB/T1.1—2009《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》和GB/TDZ/T0279—2016《区域地球化学样品分析方法》分为34个部分：——第1部分：三氧化二铝等24个成分量测定粉末压片一X射线荧光光谱法；——第2部分：氧化钙等27个成分量测定电感耦合等离子体原子发射光谱法； 第3部分：钡、铍、铋等15个元素量测定电感耦合等离子体质谱法； 第4部分：金量测定泡沫塑料富集一电感耦合等离子体质谱法；——第5部分：镉量测定电感耦合等离子体质谱法；——第6部分：铀量测定电感耦合等离子体质谱法；——第7部分：钼量测定电感耦合等离子体质谱法；——第8部分：铊量测定电感耦合等离子体质谱法；——第9部分：铊量测定泡沫塑料富集一电感耦合等离子体原子发射光谱法；——第10部分：氯和溴量测定粉末压片一X射线荧光光谱法；交流电弧一发射光谱法；火试金富集一发射光谱法；氢化物发生一原子荧光光谱法；——第14部分：硒量测定氢化物发生一原子荧光光谱法；——第15部分：锗量测定氢化物发生一原子荧光光谱法；——第16部分：锗量测定电感耦合等离子体质谱法；——第17部分：汞量测定蒸气发生一冷原子荧光光谱法；——第18部分：镉量测定石墨炉原子吸收光谱法；——第19部分：金量测定泡沫塑料富集一石墨炉原子吸收光谱法；——第20部分：钨和钼量测定碱熔一催化波极谱法；——第21部分：氟量测定离子选择电极法；——第22部分：氯和溴量测定离子色谱法；——第23部分：碘量测定——第24部分：碘量测定——第25部分：碳量测定——第26部分：碳量测定离子色谱法；电感耦合等离子体质谱法；燃烧一红外吸收光谱法；燃烧一非水滴定法；——第27部分：有机碳量测定重铬酸钾容量法；——第28部分：硫量测定燃烧一碘量法； ——第30部分：钨量测定碱熔一电感耦合等离子体质谱法；——第31部分：铂和钯量测定火试金富集一电感耦合等离子体质谱法； 第32部分；镧、铈等15个稀土元素量测定封闭酸溶一电感耦合等离子体质谱法——第33部分：镧、铈等15个稀土元素量测定碱熔一离子交换一电感耦合等离子体原子发射光——第34部分：pH值测定离子选择电极法。本部分为DZ/T0279—2016的第10部分。本部分由中华人民共和国国土资源部提出。本部分由全国国土资源标准化技术委员会(SAC/TC93)归口。本部分起草单位：湖北省地质实验研究所。本部分主要起草人：熊玉祥、张赤斌、唐兴敏、李国会。1区域地球化学样品分析方法第10部分：氯和溴量测定粉末压片一X射线荧光光谱法警示——使用本标准的人员应有正规实验室工作的实践经验。本部分并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。DZ/T0279—2016的本部分规定了粉末压片一X射线荧光光谱法测定区域地球化学样品中的氯本部分适用于区域地球化学样品水系沉积物和土壤中氯和溴量的测定。方法检出限：氯的检出限为6.9μg/g,溴的检出限为0.8μg/g。测定范围：氯的测定范围为21μg/g~1000μg/g,溴的测定范围为2.4μg/g～40μg/g。2规范性引用文件下列文件对于本部分的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本部分。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本部分。GB/T6379.2—2004测量方法与结果的准确度(正确度与精密度)第2部分：确定标准测量方法重复性与再现性的基本方法DZ/T0130.4地质矿产实验室测试质量管理规范第4部分：区域地球化学调查(1:50000和1:200000)样品化学成分分析采用粉末压片法制样，用X射线荧光光谱仪直接进行测量，根据元素的荧光强度计算氯和溴量。氯采用经验系数法校正元素间的谱线重叠干扰，溴采用铑钯康普顿散射作内标校正元素间的基体效应。4试剂4.1氯化钾：优级纯，在105℃条件下烘干2h～3h。4.2溴化钾：优级纯，在105℃条件下烘干2h～3h。4.3硫酸钾：优级纯，在105℃条件下烘干2h～3h。4.4三氧化钼：优级纯，在105℃条件下烘干2h～3h。4.5氧化铅：优级纯，在105℃条件下烘干2h～3h。4.6氧化砷：优级纯，在105℃条件下烘干2h～3h。危险——氧化砷是剧毒物品!4.7氧化钼：优级纯，在105℃条件下烘干2h～3h。24.8低压聚乙烯塑料环：壁厚5mm,环高5mm,内径g30mm,外径φ40mm。4.9微晶纤维素：在105℃条件下烘干2h～4h。5仪器及材料5.1压力机：压力大于25MPa,可选择5.2X射线荧光光谱仪：端窗铑靶X射线管，功率不低于3kW。6试样6.1试样粒径应小于74μm。6.2试样在105℃条件下干燥6h～8h,置于干燥器中保存。称取4.0g试样(6.2),精确至0.01g。7.2试料片制备将试料(7.1)均匀放入低压聚乙烯塑料环(4.8)中，置于压力机(5.1)上，升压至制片压力10MPa,停压制完成的试料片在非测量面贴上标签或用记号笔编写样号，放入干燥器内保存，防止吸潮和污染。7.3标准试样片制备加入一定量的氯化钾(4.1)、溴化钾(4.2)、硫酸钾(4.3)、三氧化钼(4.4)、氧化铅(4.5)、氧化砷步骤制备成标准试样片。7.4校准系列样片制备选用土壤GBW07401至GBW07408、水系沉积物GBW07309至GBW07312和硅酸盐岩石GBW07109至GBW07114标准物质作为标准绘制校准曲线。若上述标准物质不能满足要求时，应加配适当的人工合成标准补充。本部分又选择深海沉积物GBW07315与土壤标准物质GBW07401至GBW07404按比例混合制备合成标准，见表1。校准曲线中氯和溴的质量分数范围见表2。3表1合成标准中氯和溴的质量分数标准物质的配比“合成标准中的氯不参加校准。质量分数范围7.5试料测定7.5.1设置测量条件选择X射线荧光仪的管激发电压为50kV(或60kV),电流为50mA(或60mA),试料面罩直径30mm,粗准直器，真空光路。各分析元素测量时仪器参考工作条件参见附录A。采用一点法扣背景。计算公式为：IN=Ip-Ig (1)Ix——扣除背景的分析线强度；Ip——谱线强度；7.5.3标准试样的测定通过测量标准试样片(7.3)校正仪器漂移。7.5.4校准与校正对于BrK。线用铑靶康普顿散射线作内标校正基体效应，铁、钙量较高时，用经验系数法校正铁、钙对BrK。线的影响。对于氯采用经验系数法校正基体效应，所用数学公w=(al?+bI;+c)(1+Za₅W (2)4w,——校准系列样片(或未知样品)中分析元素i的标准值；I;——校准系列样片(或未知样品)中分析元素i的X荧光强度(或强度比)ag——共存元素j对分析元素i的影响系数；W;——共存元素j的含量；B₄——干扰元素k对分析元素i的谱线重叠干扰校正系数；W₄——干扰元素k的含量(或X荧光强度)。7.5.5.1设置工作参数。输入分析元素的参考工作条件(参见附录表A.1)及校准系列样片(7.4)中待测组分的认定值。7.5.5.2标准试样片测定。设置标准试样片名称，仪器预热8h以上，以确保仪器在稳定的条件下测定标准试样片(7.3)中各组分的X荧光强度。7.5.5.3校准系列样片测定。输入校准系列样片名称，在一次开机时间内完成所有校准系列样片中各7.5.5.4回归分析。用公式(2)对校准系列样片中各元素的X荧光强度与相应元素认定值进行回归曲线计算，求出校准曲线常数a、b、c和元素间的影响系数a,及谱线重叠干扰系数B。和共存元素的影响系7.5.5.5测定试料样片。仪器预热后，启动定量分析程序，输入试料样片名称。测定标准试样片(7.3)进行仪器漂移校正，然后测定试料样片元素分析线的荧光强度，计算出试料样片中组分含量。7.6验证试验每批试料测定时，同时测定同批制备的标准物质样片。根据试料样片元素分析线的荧光强度，由计算机软件按公式(2)计算含量，并自动打印出分析结果。9精密度和正确度按照GB/T6379.2—2004,选择不同含量范围的标准物质4个，由7家～8家实验室按照本方法进行方法精密度试验。各实验室对每个水平样品测定3次，将原始数据进行统计分析，分析方法精密度见表3,分析方法正确度见表4。重复性限r5yμyAδ一0.154一0.33一0.038注：y为测定平均值；μ为标准物质推荐值；γ=sg/s,,g为再现性标准差，s,为重复性标准差；,n为单位测定次数，p为可接受结果的实验室数；δ为测量方法的偏倚；δ—Asg,δ+Asg为置信区间。10质量保证和控制10.1控制方法每批试料分析时，按试样总数随机抽取5%的试样进行重复性密码分析。控制指标按DZ/T0130.4执行。10.4.1测量时只能拿试料片边缘，以避免试料片的测量面受到污染。10.4.3在测量未知样品前，应对脉冲高度计数器(PHA)进行调节。流气正比计数器(PC)探测器可