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文档简介

系统芯片核联合测试优化技术的开题报告一、选题背景随着系统芯片设计的深入发展，面对日益复杂的电路结构，如何提高测试效率、降低成本成为了亟待解决的问题。而核联合测试技术就是一个比较有效的解决方案。通过将多个测试点的测试信号合并，利用多路复用器将信号转入被测试的多个核心，从而实现多个测试点的同时测试，提高了测试效率，降低了测试成本。目前，核联合测试技术已经应用于很多领域，但是这种技术仍然存在优化的空间。二、研究内容本文旨在探究系统芯片核联合测试技术的优化方案，主要包括以下几个方面：1.高效的测试调度算法。针对现有测试调度算法在处理多个测试点时存在的调度时间长、资源利用率低等问题，提出一种基于动态优先级的测试调度算法，从而能够更为高效地调度测试点。2.高效的信号复用机制。对于现有的多路复用器，存在复用信号冲突的情况，需要采用额外的解码器进行处理，这会导致复用器的复杂度增加，进而导致系统的面积、功耗等指标变差。因此，本文提出一种基于矩阵幂次的信号复用机制，能够避免信号冲突的问题，提高信号复用效率。3.多核心测试负载平衡问题。在测试过程中，不同核心的执行速度可能存在差异，进而导致一些核心出现瓶颈，从而限制了系统的测试效率。本文将探究如何通过动态调整测试负载的方式，使得系统测试效率更加高效。三、研究意义本文的研究成果可以使得系统芯片的测试效率得到提高，对于提高研发效率、降低成本、改善芯片质量等方面都具有重要的意义。另外，本文的研究思路也可以为其他领域的测试优化提供借鉴。四、研究方法本文将采用三种方法进行研究：1.理论分析。通过理论分析，可以深入探究测试调度算法、信号复用机制、测试负载平衡问题等方面的特点和优劣，为后续的实际应用提供指导。2.模拟实验。采用MATLAB等工具，实现测试调度算法和信号复用机制等方案，并以多核心处理器为例进行实验，从而评估算法的效果。3.硬件实现。针对方案的可行性进行硬件实现，通过实际测试数据评估算法效果。五、研究计划本文的研究计划包括以下几个阶段：1.阶段一（前期准备阶段）。收集相关文献，深入理解系统芯片测试技术的基本理论和现有技术的优缺点。2.阶段二（理论研究阶段）。通过理论分析，提出测试调度算法和信号复用机制等优化方案，并进行性能评估。3.阶段三（模拟实验阶段）。运用MATLAB等工具，实现算法方案，并用多核心处理器进行实验验证。4.阶段四（硬件实现阶段）。针对方案的可行性进行硬件实现，通过实际测试数据评估算法效果。5.阶段五（论文撰写阶段）。将实验得到的数据进行分析总结，并撰写毕业论文。六、预期成果通过本文的研究，提出优化算法方案并进行实验验证，并将相关成果整理归纳，形成一篇系统全

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