Xbar-R控制图培训资料

Xbar

－R控制图一、控制图+3s1234567891018171615141312111098765-3s

Average点落在该区间的概率为99.7%控制图是生产中管理变差，有效探测特殊原因的一种方法。它是基于3σ原理与中心极限定理的综合运用。3σ原理：若变量X服从正态分布,那么,在±3σ范围内包含了99.73%的数值（如左图）。

中心极限定理：无论产品或服务质量水平怎样。均值（X）的分布是随着样本容量的增加而趋于正态分布的。

二、Xbar-R控制图分为计量型与计数型控制图,Xbar-R图（均值-极差图）属于计量型控制图。Xbar-R图的适用性:

监测所用数据为给定范围内的任何一个可能的数据，如：对刻录机型DS25TILT感度进行控制，分析所取样数据为规格（1.53+0.09/-0.04）内任意一个可能的数据。数据性质上不均匀，可以按子组进行取样，且子组容量≥9。

Xbar-R控制用图控制线确认1、确认控制对象：控制对象往往为产品的某以特性，如记录机型的TILT感度。设备运行状态，如烙铁温度等。2、数据的收集：数据要求:控制对象在产品先期策划过程PPK≥1.67以上或CPK≥1.33以上的数据(特性)

数量要求:25组数据(子组)、同时每组数据样本量为4~10。即取子组时应在短间隔内取，在过程不稳定时应多抽取样本，而在过程平稳时可少抽取样本。3、计算Xi（子组平均值），Ri（子组极差）；4、计算Xi（子组间平均值），Ri（子组间极差平均）；5、确认R图控制线：

CL（中心线）=R（子组间极差）

LCL（下限）=D3RUCL（上限）=D4R

Xbar-R控制用图控制线确认Xbar-R控制用图控制线确认6、计算X图的上下限：

UCL(上限)

=x+A2RCL(中心)

=xLCL

(下限)

=x−A2RX图为R图基础上作成，因此R图为X图的基础。

备注：以上5、6点A2、D3、D4为变系数，通常由子组内样本容量决定，可参考系数列表Xbar-R控制用图控制线确认A2、D4、D3可从下表中查得：7、对R图进行描点，并对分布进行判定（判定请参照判定准则）如判定为NG，这需查处异常因数，采取相应措施后剔除异常数据转入第三步骤重新进行计算。如异常因数太多，需转入第二步，重新对数据进行收集计算。Xbar-R控制用图控制线确认8、对X图进行描点，并判定。方法同步骤7相同。9、对过程能力指数进行计算，并检验其是否满足技术要求，如若达不到要求则须采取措施改善直到过程能力指数满足要求为止。10、满足以上九点后可以将X-R图作为控制用图，进入日常控制阶段。备注：以上一般为在产品导入阶段由技术员确认。Xbar-R控制用图控制线确认

Xbar-R控制用图上下限并非恒定唯一的。一般新机型在导入后CPK达到1.33以前每月一次，量产机型机型每6个月一次重新收集数据对UCL、CL、LCL重新确认。选择最新且过程最稳定的数值作为新控制线。X-R控制用图日常控制监测

X-R图由技术员确认产品控制上下线后提交生产线。产线根据提供的上下线对X-R图表格（表样详见QR-T-034）进行控制线描绘。如R图控制线：CL=0.6LCL=0UCL=1.2时表格描绘。如左图：步骤1：对中心线CL进行描线，一般描绘在报表虚线部位。步骤2：将控制上下限分为6个等分区间，并标注刻度。标样提供了等分格，等分刻度与等分格对齐步骤3：标注上下控制线。X-R控制用图日常控制监测各班长每天随机抽取N个（一般为4或5）当天生产产品的特性参数填入X-R图中（包括不良品数据），计算出平均值（X）与极差R，根据计算结果分别在R图与X图进行描点。从点线走势对品质进行分析（参考判定准则）。每天收集的特性数据集根据计算的X、R值在X图或R图相应刻度上进行描点，并判定走势X-R控制用图日常控制监测当班班长负责对每月产品关键特性CPK（工程能力指数）值进行计算。车间事务组负责对CPK值进行判断，一般当CPK值低于1.33时，由车间签发《关键工位受控状况评估报告》，一周内技术课技术员作成“原因”及“纠正措施”部分，由技术课课长确认后交制造课课长安排实施。车间事务员负责在一周内对实施效果进行验证，并由制造课课长进行确认。在对策有效时该份《关键工位受控状况评估报告》保存于车间；无效时经技术课技术员认后再行签发。工程能力分析班长每月根据本班所取样的数据进行关键特性参数的工序能力的计算。相关参数定义如下：

TU：特性参数的规格上限；

TL：特性参数的规格下限；

σ：工序的标准偏差；

S：样本标准偏差；

k：采样实测中心与品质规格中心值的偏离度。工程能力分析

各参数计算方法如下：T（特性参数规格范围）＝Tu（上限）－TL(下限）

TU、TL为出货管理规格；S=R/d2d2为变系数（参考X-R管理图系数表）()[]-+=2/2/TxTTKLU将以上系数带入CPK计算公式进行计算：Cpk：Cpk=(1-K)×T/6σ=(1-K)×T/6Sσ（工序标准偏差）可用S（样本标准偏