测量系统分析理论学习

审核员统计技术应用指南第五章测量系统分析(MSA)测量系统分析理论学习第1页目录1、术语和基本概念；2、测量系统；3、测量系统基本要求；4、测量系统波动；5、测量系统分析程序。测量系统分析理论学习第2页测量系统分析统计质量控制是以数据为基础建立；数据质量非常主要；必须对取得数据测量系统进行研究和控制。测量系统分析测量系统分析理论学习第3页第一部分术语和基本概念测量系统分析理论学习第4页1、几个术语兼容性处理国家在等同采取ISO10012《测量控制系统》国际标按时，把ISO10012标准中测量、测量仪器、测量标准等术语与《中华人民计量法》中计量、计量器具、计量标准等术语一一对应地作出了兼容性处理，即测量与计量对应，测量仪器与计量器具对应，测量标准与计量标准对应。在不一样场所使用不一样术语时，其含义是兼容等效。测量系统分析理论学习第5页2、惯用术语（1）⑴测量仪器单独地或连同辅助设备一起用以进行测量器具。⑵测量设备定义：为实现测量过程所必需测量仪器、软件、测量标准、标准物质或辅助设备或它们组合。测量系统分析理论学习第6页2、惯用术语（2）⑶标称范围测量仪器操纵器件调到特征位置时可得到示值范围。⑷量程标称范围两极限之差模。测量系统分析理论学习第7页2、惯用术语（3）⑸标称值测量仪器上表明其特征或指导其使用量值，该值为圆整值或近似值。⑹测量范围测量仪器误差处于要求极限内一组被测量值。测量系统分析理论学习第8页2、惯用术语（4）⑺分度值相邻两刻度线所代表量值之差。⑻[测量仪器]引用误差测量仪器误差除以仪器特定值。测量系统分析理论学习第9页2、惯用术语（5）⑼测量仪器[示值]误差测量仪器示值与被测量（约定）真值之差。⑽偏差一个值减去其参考值。注：普通指测量仪器实际值与标称值之差。测量系统分析理论学习第10页2、惯用术语（6）⑾比对在要求条件下,对相同准确度等级同类基准、标准或工作用计量器具之间量值进行比较。⑿[显示装置]分辨力显示装置能有效识别最小示值差。注：普通认为模拟式显示装置分辨力为标尺分度值二分之一，数字式显示装置分辨力为末位数一个字码。测量系统分析理论学习第11页2、惯用术语（7）⒀稳定性测量仪器保持其计量特征随时间恒定能力。⒁测量结果由测量所得到赋予被测量值。测量系统分析理论学习第12页2、惯用术语（8）⒂随机误差测量结果与在重复条件下对同一被测量进行无限屡次测量所得结果平均值之差。⒃系统误差在重复性条件下，对同一被测量进行无限屡次测量所得结果平均值与被测量真值之差。测量系统分析理论学习第13页2、惯用术语（9）⒄测量不确定度与测量结果相联络参数，表征合理地赋予被测量之值分散性。⒅校准在要求条件下，为确定测量仪器（或测量系统）所指示量值，或实物量具（或参考物质）所代表值，与对应由测量标准所复现值之间关系一组操作。测量系统分析理论学习第14页2、惯用术语（10）⒆检定查明和确认计量器具是否符正当定要求程序，它包含检验、加标识和出具检定证书。测量系统分析理论学习第15页2、惯用术语（11）⒇计量确认为确保测量设备符合预期使用要求所需要一组操作。注：①计量确认通常包含：校准或检定、各种必要调整或维修及随即再校准，与设备预期使用计量要求相比较以及封印和标签。②只有计量设备已被证实适合于预期使用并形成文件，计量确认才算完成。③预期使用要求包含：量程、分辨力、最大允许误差等。④计量确认要求通常与产品要求不一样，并不在产品要求中要求。测量系统分析理论学习第16页第二部分测量系统测量系统分析理论学习第17页两个基本概念1、测量——以确定实体或系统量值大小为目标一整套作业。2、测量系统——给详细事物赋值过程，过程输入是：人、机、料、法、环，输出是数据。测量系统分析理论学习第18页赋值操作者设备软件被测事物操作程序测量环境数据（测量结果）测量系统示意图测量系统分析理论学习第19页表征数据质量（2个）统计指标★什么是高质量数据呢？通惯用来表征测量数据质量高低统计指标是：1、偏倚（bias），有时候叫做偏移；2、变差（variation），普通用标准差表示。测量系统分析理论学习第20页

偏倚（bias）示意图基准值实测值偏倚（bias）测量系统分析理论学习第21页偏倚用来表示屡次测量结果平均值与基准值之差，其中基准值能够经过更高级别测量设备进行屡次测量取其平均值来确定。偏倚（bias）测量系统分析理论学习第22页尤其提醒：

偏倚较大原因可能是①标准和基准值误差，此时要检验校准程序；②仪器磨损；③仪器尺寸不对；④仪器测量了错误特征；⑤仪器校准不正确；⑥员工操作方法不妥；⑦仪器修正计算不正确。测量系统分析理论学习第23页变差（variation）示意图PV=5.15σ0.0050.0050.99测量系统分析理论学习第24页变差用来表示在相同条件下进行屡次重复测量结果变异程度，惯用测量结果标准差σ或过程变差PV（5.15σ）表示。PV是指99%测量结果所占区间长度（两边对称）。变差（variation）测量系统分析理论学习第25页过程变差PV1、测量结果普通服从正态分布，有：所以，99%测量结果所占区间是：区间长度是：PV=5.15σ测量系统分析理论学习第26页数据质量要求测量数据质量高既要求偏倚小，又要求变差小。若偏倚和变差中有一项或两项比较大，就不能说测量数据质量高。偏倚与准确度相关，变差与精密度相关。测量系统分析理论学习第27页偏倚与变差示意图偏倚小变差小偏倚大变差大偏倚小变差大偏倚大变差小测量系统分析理论学习第28页例题对基准值为L=0.80mm样品重复测量10次，测量值以下：0.750.750.800.800.650.800.750.750.750.70这表明测量平均值比基准值低0.05mm测量系统分析理论学习第29页标准差预计（1）影响数据变差原因有两个：偶然原因异常原因当系统仅受偶然原因影响时，测量数据标准差可用测量数据极差R预计：其中：d2是只与样本量n相关系数，在SPC中有这么一个表。测量系统分析理论学习第30页标准差预计（2）当测量系统既受偶然原因，又受异常原因影响时，其标准差可用测量数据（样本）标准差预计：其中：注意：总体参数与样本参数区分，不能混同！测量系统分析理论学习第31页计算过程变差PV（例题）对基准值L=0.80mm样品测量10次，测量值以下：0.750.750.800.800.650.800.750.750.750.70测量系统分析理论学习第32页计算过程变差PV（例题）这说明有99%测量结果落在长0.25区间内应用SPSS计算结果测量系统分析理论学习第33页第三部分测量系统基本要求测量系统分析理论学习第34页测量系统3个基本要求1、分辨力；2、统计稳定性；3、线性。测量系统分析理论学习第35页足够分辨力测量系统分辨力是指测量系统检出并如实指示被测特征中极小改变能力。每个测量系统都有自己分辨力，在分辨力范围内，测量系统能识别被测物之间差异，但在分辨力之外，该测量系统则不能分辨出被测物差异。没有一个测量系统能够识别一切被测特征。测量系统具应有识别最小质量特征能力。

测量系统分析理论学习第36页分辨力要求★一个测量系统被选取，它一定含有足够分辨力，即：①测量系统波动比制造过程波动小，最多为后者1/10；②测量系统波动小于公差限，最多为公差限1/10。测量系统分析理论学习第37页分辨力要求若波动大小用各自标准差表示，σ表示测量系统标准差，表示制造过程标准差，d表示公差限，则一个测量系统含有足够分辨力是指：测量系统分析理论学习第38页分辨力对测量结果影响假如测量系统没有足够分辨力，就不能定量地表示单个被测量特征值，也不能识别制造过程所发生波动，这时，应放弃使用该测量系统，改用更加好测量系统，以满足测量要求。不过应注意，测量系统分辨力提升会增加成本。测量系统分析理论学习第39页测量系统统计稳定性

这是一项基本要求，评价测量系统是否保持稳定可用控制图或控制图判定。因为测量本身能够看成一个过程，所以用来判断过程稳定性各种过程控制图都能够用来评价测量系统稳定性。测量系统分析理论学习第40页测量系统线性测量系统线性是指在其量程范围内，偏倚应是基准值线性函数。一个测量系统不含有线性，那它不是一个合格测量系统，若一个测量系统在设计时含有线性，但在使用时发觉为非线性，这时就要查找原因，及时纠正或校准。

测量系统分析理论学习第41页测量系统线性“线性”能够用偏倚与基准值散布图和相关分析进行分析。经过“回归分析”求得参数b（斜率）。“偏倚”不但表示偏倚对基准值线性关系，而且还被定义为一个指数：测量系统分析理论学习第42页测量系统线性称其为线性度，记为%Linearity，它表示量具线性程度，其值越小越好。※说明：过程变差（零件之间变差）PV概念将在后面讲到。测量系统分析理论学习第43页第四部分测量系统波动测量系统分析理论学习第44页波动及其起源测量系统波动主要是因为量具或操作者引发。为了考查量具与操作者引发波动大小，经常要选取一些产品让操作者使用量具去测量，因为产品间差异对测量结果影响不得不考虑，故在考查量具和操作者波动时，还要考查产品之间波动。123测量系统分析理论学习第45页1、重复性（repeatability）由一个或多个操作者采取一个量具，屡次重复测量同一零件同一特征时所取得测量值变差称为量具重复性，记为EV。一个好量具应含有很好重复性，也就是它重复测量值变差是在允许范围内。测量系统分析理论学习第46页重复性计算步骤1、考查测量过程是否稳定，即测量过程波动是否仅由偶然原因引发？这可使用R控制图完成。

计算测量系统分析理论学习第47页计算测量系统分析理论学习第48页2、再现性(reproducibility)由不一样操作者，采取相同量具，测量同一产品同一特征所得重复测量均值变差称为量具再现性，记为AV。在再现性定义中，量具是相同、产品是相同，不一样是操作者。所以一个测量系统再现性主要反应操作者在测量技术上变差，简单地说，再现性就是操作者（人原因）引发测量误差。测量系统分析理论学习第49页再现性示意图操作者A操作者B操作者C再现性测量系统分析理论学习第50页预计再现性步骤（1）

假设现有k名操作者，测量n个零件，每名操作者对每个零件重复测量m次。记i名操作者测量数据以下：继续测量系统分析理论学习第51页重复号零件号12…n12…m均值…………….……………………总平均测量数据表测量系统分析理论学习第52页计算极差与操作者标准差（2）注意：这里与前面不一样在计算时使用这个参数，能够愈加简练测量系统分析理论学习第53页标准差修正（3）因为上述标准差还包含着每名操作者重复测量引发波动，故需对作出修正，此种修正要用对应方差进行。因为在独立场所方差含有可加性，而标准差不含有可加性。测量系统分析理论学习第54页标准差修正（3）若记重复性中方差为，如今每名操作者各测量nm次，故其方差要缩小nm倍，即实际重复性方差为/nm。从上述再现性方差中扣除这个重复性方差，即得再现性方差校正值：

继续测量系统分析理论学习第55页标准差修正（3）测量系统分析理论学习第56页再现性计算（4）测量系统分析理论学习第57页3、零件之间变差任意两个产品之间总是有差异，这种差异反应在它们各自测量值上。如，测量5个不一样产品某个质量特征，可得5个测量值其极差R与标准差分别为：测量系统分析理论学习第58页3、零件之间变差如使用重复测量数据，则：测量系统分析理论学习第59页4、测量系统总变差测量数据总方差由产品间方差与测量系统方差组成，其中：所以：假如对上式两端各乘以，则：测量系统分析理论学习第60页4、测量系统总变差其中TV称为总变差。称为量具重复性和再现性平方，记为（R＆R）。R＆R是表征量具好坏特征数，它愈小愈好。记R＆R在总变差TV中百分比为%R＆R。有些场所也用R＆R在公差范围T=USL-LSL中所占百分比作为%R＆R。GRR结论测量系统分析理论学习第61页5、各类变差占总变差百分比测量系统分析理论学习第62页5、各类变差占总变差百分比测量系统分析理论学习第63页5、各类变差占总变差百分比测量系统分析理论学习第64页5、各类变差占总变差百分比测量系统分析理论学习第65页尤其提醒⑴假如重复性（EV）比再现性（AV）大，原因可能是：①量具需要维护；②应重新设计量具，使其更精密，刚性更加好；③应改进量具夹紧；④零件内变差太大。测量系统分析理论学习第66页尤其提醒⑵假如再现性（AV）比大重复性（EV），原因可能是：①需要对员工进行怎样使用量具和读数培训；②量具刻度盘上刻度值不清楚；③需要某种夹具来帮助员工更为普通地使用量具。测量系统分析理论学习第67页分级数ndc计算分级数ndc计算。测量系统分析理论学习第68页6、测量系统评价测量系统是否被接收由%R＆R和ndc决定：1、%R＆R可作为评价一个测量系统能否被接收和被使用主要指标。普通对%R＆R划分为三个区域：测量系统分析理论学习第69页6、测量系统评价a)当%R＆R<10%时，测量系统能够接收；b)当%R＆R>30%时，测量系统不能使用；c)当%R＆R在10%～30%之间时，为含糊区域。可结合实际情况考虑是否接收其测量系统。测量系统分析理论学习第70页6、测量系统评价2、分级数ndc决定准则：ndc应该大于或等于5，即：ndc≥5。ndc≥5说明测量系统有足够分辨力。测量系统分析理论学习第71页实际应用说明1、测量系统分析计算过程比较复杂，实际应用中能够使用制式表格，预防出现错误。2、查表方法，比较麻烦，查表时需注意。3、能够使用MINITAB软件进行计算。测量系统分析理论学习第72页7、测量系统分析方法㈠、计量性测量系统分析1、均值极差法（见前述）；2、极差法；㈡、计数性测量系统分析1、小样法；㈢、MSA第三版说明测量系统分析理论学习第73页测量系统分析方法（计量型）

一、均值极差法尤其提醒：当测试用零件多于300件且有足够时间时，可采取均值和极差法对计量型测量系统进行分析。当测试用零件少于300件或测试用零件虽超出300件但无足够分析时间时，可采取极差法对计量型测量系统进行分析。测量系统分析理论学习第74页测量系统分析方法（计量型）

一、均值极差法测量系统分析理论学习第75页测量系统分析方法（计量型）

一、均值极差法⑴选取2～10个样品（普通选取10个），样品在过程变差实际或预期范围内；⑵由2～3名测试人员对每个样品进行2～3次随机测量，并将结果统计于重复性和再现性分析用标准表格（见附件）；⑶利用标准表格进行运算（也可利用软件计算）；⑷利用运算结果，判定测量系统是否可接收；⑸对不合格测量系统进行适当处理。测量系统分析理论学习第76页测量系统分析方法（计量型）

一、均值极差法数据搜集程序：采取附表二搜集数据，数据搜集程序以下：⑴取得包含10个零件一个样本，代表过程变差或预期范围；⑵指定操作者A，B和C，并按1至10给零件编号，使操作者不能看到这些数字；⑶让操作者A以随机次序测量10个零件，并将结果统计在附表二第1行。让操作者B和C测量这10个零件并相互不看对方数据，然后将结果分别填入第6行和第11行。测量系统分析理论学习第77页测量系统分析方法（计量型）

一、均值极差法数据搜集程序：⑷使用不一样随机测量次序重复上述操作过程，把数据填入第2、7、12行。假如需要试验3次，则将数据统计在3、8、13行。⑸假如操作者在不一样班次，为了方便能够采取以下方法：让操作者A测量10个零件，并将读数统计在第1行，然后让操作者A按照不一样次序重复测量（或调整零件编号），并把结果统计在第2、3行；B、C按一样方法测量。测量系统分析理论学习第78页测量系统分析方法（计量型）

一、均值极差法数据搜集后计算程序：附表2数据计算。测量系统分析理论学习第79页测量系统分析方法（计量型）

一、均值极差法附表2数据计算完成后，计算附表3数据：附表3过程和计算结果：完成量具重复性和再现性分析汇报（均值和极差法）（汇报样式见附件3）。测量系统分析理论学习第80页测量系统分析方法（计量型）

一、均值极差法假如分析是以公差而不是以变差为基础，则各类变差占总变差TV百分率应替换成各类变差占公差值T（Tolerance）百分比。即%EV、%AV、%R&R、%PV计算公式中分母由总变差TV替换成公差值T。采取何种方式应依据测量系统或用户要求而定。假如分析是以公差而不是以过程变差为基础，则《量具重复性和再现性分析汇报》（附表3）表格右侧“%总变差”应改为“%公差”。总变差TV替换成公差值T后，测量系统评价标准不变。测量系统分析理论学习第81页测量系统分析方法（计量型）

二、极差法当测试用零件多于300件且有足够时间时，可采取均值和极差法对计量型测量系统进行分析。当测试用零件少于300件或测试用零件虽超出300件但无足够分析时间时，可采取极差法对计量型测量系统进行分析。测量系统分析理论学习第82页测量系统分析方法（计量型）

二、极差法1、极差法介绍：极差法只提供测量系统总体情形，不将变异性分解成重复性和再现性。极差法优点能快速地提供一个测量变异性近似值。测量系统分析理论学习第83页测量系统分析方法（计量型）

二、极差法2、极差法应用程序：⑴选择A、B两位操作者和5个样品；⑵每个操作者随机测量每个零件各1次，测量结果统计在《量具研究表（经典极差法）》（附表五）中。⑶计算出每个样品极差Ri：Ri=|A-B|式中：A——对同一个样品，操作者A测量结果；B——对同一个样品，操作者B测量结果；测量系统分析理论学习第84页测量系统分析方法（计量型）

二、极差法2、极差法应用程序：测量系统分析理论学习第85页测量系统分析方法（计量型）

二、极差法2、极差法应用程序：测量系统分析理论学习第86页测量系统分析方法（计量型）

二、极差法2、极差法应用程序：测量系统分析理论学习第87页测量系统分析方法（计数型）

一、小样法1、计数型计量器具计数型计量器具是把各个零件与一些指定限值比较，假如满足限值则接收该零件，不然拒收。使用计量型量具，所取得质量数据为合格品数、不合格品率，不能取得详细质量特征值。最惯用计数型量含有塞规、卡规、通止规等界限量规。测量系统分析理论学习第88页测量系统分析方法（计数型）

一、小样法2、计量型测量系统分析程序⑴确定两位操作者A、B，并选择20个零件；注：在选择20个零件时，可有意识选择一些稍许低于或高于规范限值零件。⑵每位操作者随机地将每个零件测量两次，将结果统计在附表7中。表中用符号“NG”表示不合格品，“G”表示合格品。测量系统分析理论学习第89页测量系统分析方法（计数型）

一、小样法2、计量型测量系统分析程序⑶对量具进行分析评价假如每个零件测量结果（每个零件4次）一致，则接收该量具，不然应改进或重新评价该量具。假如不能改进该量具，则拒收并应找到一个可接收替换测量系统。测量系统分析理论学习第90页8、MSA第三版说明(1)⑴3月，克莱斯勒、福特、通用汽车企业出版了MSA第三版。⑵MSA第二版用5.15σ表示变差，而MSA第三版用σ表示变差，第三版k1、k2、k3是第二版对应系数值k1、k2、k3（1/5.15）倍。测量系统分析理论学习第91页8、MSA第三版说明(2)⑶就计量型测量系统而言，MSA第三版同MSA第二版比，数据搜集程序是一样。只是数据中途计算因系数不一样而有些差异，但最终结论%R&R、分级数ndc是一样。测量系统分析理论学习第92页8、MSA第三版说明(3)⑷MSA第三版中，用风险分析法（交叉表方法、信号探测法）对计数型测量系统进行分析，分析结果更精密。但不能说采取MSA第二版中“小样法”、“大样法（又称解析法）”对计数型测量系统进行分析就是错。对于普通工厂而言，用简单实用“小样法”进行计数型测量系统分析，效率会更高。测量系统分析理论学习第93页8、MSA第三版说明(4)测量系统分析理论学习第94页8、MSA第三版说明(5)测量次数23K1值0.88620.5908K1取值测量系统分析理论学习第95页8、MSA第三版说明(6)测量系统分析理论学习第96页8、MSA第三版说明(7)操作者数量23K2值0.70710.5231K2取值测量系统分析理论学习第97页8、MSA第三版说明(8)测量系统分析理论学习第98页8、MSA第三版说明(9)测量系统分析理论学习第99页8、MSA第三版说明(10)零件数量2345678910K3值0.70710.52310.44670.40300.37420.35340.33750.32490.3146K3取值测量系统分析理论学习第100页8、MSA第三版说明(11)测量系统分析理论学习第101页8、MSA第三版说明(12)测量系统分析理论学习第102页8、MSA第三版说明(13)测量系统分析理论学习第103页8、MSA第三版说明(14)测量系统分析理论学习第104页8、MSA第三版说明(15)测量系统分析理论学习第105页8、MSA第三版说明(16)测量系统分析理论学习第106页8、MSA第三版说明(17)1、极差法介绍：极差法只提供测量系统总体情形，不将变异分解成重复性和再现性。极差法经典用途是快速地验证GRR是否发生了改变。测量系统分析理论学习第107页8、MSA第三版说明(18)2、极差法应用程序：⑴选择A、B两位操作者和5个样品；⑵每个操作者随机测量每个零件各一次，测量结果统计在附表9中。⑶计算出每个样品极差Ri：Ri=|A-B|式中：A——操作者A测量结果；B——操作者B测量结果。测量系统分析理论学习第108页8、MSA第三版说明(19)测量系统分析理论学习第109页8、MSA第三版说明(20)测量系统分析理论学习第110页8、MSA第三版说明(21)测量系统分析理论学习第111页第五部分测量系统分析程序测量系统分析理论学习第112页五、测量系统分析程序1、测量系统分析时机；2、测量系统分析准备3、测量系统分析注意事项；4、测量系统分析程序案例。测量系统分析理论学习第113页1、测量系统分析时机⑴首次分析应在试生产中且在正式提交PPAP之前进行；⑵普通每间隔一年要实施一次MSA；⑶在出现以下情况时，应适当增加分析频次和重新分析：①量具进行了较大维修；②量具失按时；③用户需要时；④重新提交PPAP时；⑤测量系统发生改变时。测量系统分析理论学习第114页2、测量系统分析准备⑴、MSA计划制订在进行测量系统分析之前，要制订测量系统分析计划。测量系统分析计划内容包含：①确定需分析测量系统；②确定用于分析待测参数/尺寸或质量特征；③确定分析方法，对计量型测量系统，可采取极差法、均值极差法、方差分析法（ANOVA）；对计数型测量系统，可采取小样法、大样法（又称解析法）、风险分析法（交叉表方法、信号探测法）；继续测量系统分析理论学习第115页2、测量系统分析准备⑴、MSA计划制订④确定测试环境，应尽可能与测量系统实际使用环境条件相一致；⑤对于破坏性测量，因为不能进行重复测量，可采取模拟方法并尽可能使其靠近真实环境（如不可行，可不做MSA分析）；⑥确定分析人员和测量人员；⑦确定样品数量和重复读数次数（试验次数）。测量系统分析理论学习第116页2、测量系统分析准备⑵、量具准备①应针对详细尺寸/特征选择质量控制计划指定量具，如质量控制计划未明确要求某种编号计量器具，则应依据实际情况对现场使用1个或多个量具作MSA分析；②确保要分析量具是经校准合格；③仪器分辨力普通应小于被测参数允许差T1/10。在仪器读数中，如有可能，读数应取至最小刻度二分之一。测量系统分析理论学习第117页2、测量系统分析准备⑶测试操作人员和分析人员选择⑴在MSA分析时，测试操作人员和分析人员不能是同一个人，测试操作人员实施测量并读数，分析人员作统计并完成随即分析工作。⑵应优先选择通常情况下实际使用所选定量具实施测试操作工/检验员作为测试操作人员，以确保测试方法和测试结果与日后正式生产或过程更改实际情况相符；继续测量系统分析理论学习第118页2、测量系统分析准备⑶测试操作人员和分析人员选择⑶测试操作人员、分析人员都应经过培训，熟悉测试方法和分析方法；⑷应选择熟悉测试和MSA分析方法人员分析人员。测量系统分析理论学习第119页2、测量系统分析准备⑷分析用样品选择①样品必须从实际生产或检验过程中选择，并考虑尽可能代表实际生产中存在全部产品变差（可依据生产特点在一天或几天内生产出产品中抽取）；样本能够经过每一天取一个样本，连续若干天方法选取。这么做是必要，因为分析中这些零件被认为代表了生产过程中产品变差全部范围；继续测量系统分析理论学习第120页2、测量系统分析准备⑷分析用样品选择②假如一个量具适合用于多个规格产品尺寸/特征测量，在作该量具MSA分析时，应选择其中一个过程变差最小规格产品作为样品以防止较大零件变差造成份析结果不准确。③给每个样品编号并加上标签，但要防止测试操作人员事先知道编号以确保按随机次序测量。测量系统分析理论学习第121页3、测量系统分析注意事项⑴按要求测量程序进行测量；⑵随机抽取样品进行测量。测量人员不应知道正在被测量样品编号，以防止可能人为偏倚。但分析人员应知道正在测量哪一个样品，并记下测量数据；继续测量系统分析理论学习第122页3、测量系统分析注意事项⑶在设备读数时，测量值应统计到仪器分辨率实际程度。机械装置必须读取和统计到最小刻度单位。对于电子读数，测量计划必须为统计所显示最右有效位数建立一个通用标准。模拟装置应统计至最小刻度二分之一或灵敏度和分辨力极限。对于模拟装置，假如最小刻度为0.0001，则测量结果应统计到0.00005（最小刻度二分之一）。测量系统分析理论学习第123页4、测量系统分析程序（例）

(详见附件六)1．目标对测量系统变差进行分析评价，以确定测量系统是否满足要求要求。2．适用范围本程序适合用于证实产品符合要求要求全部测量系统。3．职责3．1质量部负责制订测量系统分析计划并实施测量系统分析。3．2APQP小组负责对检测能力不足量具适用性重新进行评价，3．3生产部配合测量系统分析工作。测量系统分析理论学习第124页4、测量系统分析程序（例）4．作业程序4．1测量系统分析范围对控制计划中要求测量系统进行分析，也包含更新量具。4．2测量系统分析频率、计划4．2．1测量系统分析频率普通为一年一次。4．2．2质量部负责制订测量系统分析计划，经管理代表同意后，由质量部组织生产部实施。测量系统分析理论学习第125页4、测量系统分析程序（例）4．2．3新产品开发过程中依据试产控制计划由质量部组织实施测量系统分析。4．3计量型量具重复性和再现性分析(R&R分析)4．3．1随机抽取胜10个零件，确定某一尺寸／特征做为评价样本。4．3．2对零件进行编号1～10，编号应覆盖且不被操作员知道某一零件详细编号。测量系统分析理论学习第126页4、测量系统分析程序（例）4．3．3指定3个操作员，每一个操作员单独地以随机次序选取零件，并对件尺寸／特征进行测量，负责组织此项研究人员观察编号并在表格中对应统计数值。3个操作员测完一次后，再从头开始重复测量1—2次。4．3．4将测量结果依次统计在《量具重复性和再现数据表》上。4．3．5负责组织此项研究人员，依据数据表和质量特征规格，按标准要求格式出具《量具重复性和再现性汇报》。测量系统分析理论学习第127页4、测量系统分析程序（例）4．3．6结果分析1)当重复性(EV)变异值大于再现性(AV)时，可采取以下办法：a)增强