DB44-T 1529.1-2015 显微镜 物镜标志 第1部分：平场

ICS.37.020

32备案号：47080-2015

DB44

显微镜

物镜标志

第1部分：平场2015-02-11

广东省质量技术监督局

发布DB44/T

前言DB44/T

DB44/T

GB/T

1.1-2009ISO

19012-1:2013

DB44/T

显微镜

物镜标志

第

1

部分：平场

范围本标准规定了在物镜上印制“Plan”字样所需的条件，以及平坦物体表面初次像面中清晰区域的

规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本

27668.1

(ISO

术语和定义GB/T

27668.1

所有子午结构的物体的物面都能够被聚焦，且在初次像面空间清晰成像。除像散、匹兹瓦曲率以

structured

image

所有弧矢结构的物体的物面都能够被聚焦，且在初次像面空间清晰成像。除像散、匹兹瓦曲率以

differenceDB44/T

平场数

plan

field

number

field

匹兹瓦曲率

petzval

curvature

要求

标志

Plan示例：物镜视场数为25的物镜：OFN25。4.2

4.3

τt

τs

分别代表沿着子午面的光轴方向，子午像面和弧矢像面到像平面的距离。平均像面距离eq

\o\ac(△,τ)=(tτs

eq

\o\ac(△,τ)

τtτs

⎜⎜⋅⎜⎜⋅

λ2

⎟⎟⋅M

02（2）⎝MTOTVIS

+

250000

⎞NA

2⋅NA

⎠式中:DB44/T

MTOT

NA

M0

0.220.250.300.320.400.45

21.55518.37214.70313.60610.4589.127

1.515)0.400.450.500.600.700.75

6.0835.2384.5933.6763.0582.819

1.515)0.100.130.160.200.120.150.16

83.47665.36150.58177.30954.424

1.515)DB44/T

obnobn⋅⎜⎜⎟⎟⎝MTOTVIS

⋅

250000NA

+

λ2⋅NA2

⎞⎠ω

=0.0014λ

=0.55

µm

5×

10×

20×0.900.951.251.301.351.40

0.7260.6710.6890.6530.6200.590

1.515)1.5151.5151.5151.5150.550.600.650.700.750.850.951.001.251.30

2.4942.2171.9931.8081.6521.4081.2241.7401.3251.265折射率

1.515)1.5151.5151.5151.5150.700.750.800.951.251.321.40

1.3511.2271.1210.880.9380.8750.812

1.515)1.5151.5151.5150.700.850.900.951.251.301.40

1.3911.0640.9850.9170.9720.9250.842

1.515)1.5151.5151.515DB44/T

40×

60×

63×

100×DB44/T

[1]

ISO

of

objectives

and

eyepieces[2]

Berek

M..

im

Mikroskop.

Ma