SOP可靠性测试规范E

"SOP文件编号：SOP-030-11文件名称：可靠性测试规范版本号：E变更人/核准人员变更人/核准人员变更人/核准人员变更人：核准人：变更人：核准人RevisionSummary（每次创建或修改时使用空白表格在第一行写入本次变更内容）版本号：文件生成时间：变更描述：变更原因：变更人：A2011-11-9新增新增钟鸣B2012-11-91、名为“可靠性测试规范”2、于新增“物料认可SOP”，调整相应内容以保持一致；3、整LTOL条件为PowerON/OFF；4、SL、TS后增加热测、AVF等检视手段；5、于非COB产品，材料焊在FR4板上，再进行TS、HTS、TH等试验；6、试申请由email方式，改为以《可靠性测试申请单》书面方面；变更袁友行C2013-7-41、•3中新增可靠性试验失败后的应对措施。变更袁友行D2013.12.251、实验项目WHTOL取消ON/OFF，时间由500HT1000H；2、光诵量失效判定标准0.7T0.9；3、增加色漂判定标准Du'v'>0.004；变更袁友行E2015.3.301、6.2实验项目按照不同客户、不同项目进行区分说明；2、6.3增加新产品，衍生产品的定义及其可靠性测试要求；变更袁友行会签：会签部门：签字、日期会签核准部门：签字、日期1.0目的：对可靠性测试各流程进行有效管理，确保可靠性测试结果准确；通过对公司新产品、新物料、常规产品进行可靠性测试，确保公司产品的可靠性符合客户要求；2.0范围：适用于公司所有产品（新产品、新物料、常规产品等）的各项可靠性测试项目；3.0职责：可靠性工程师：1.制定可靠性测试规范，配备相应的软硬件以实现各实验项目；按照《测试申请单》进行相应可靠性测试；采取措施，确保老化过程严格执行实验要求；当公司内部缺乏某些实验手段时，选择合格的第三方实验室执行试验总结《可靠性测试报告》；物料工程师：制定物料评估、认证计划，并负责提交试样阶段的可靠性试验申请单；研发工程师：制定新产品评估、认证计划，并负责提交试样阶段的可靠性试验申请单；品质工程师：制定常规产品可靠性评估计划，并负责提交常规产品的可靠性试验申请；4.0安全：无5.0定义：可靠性：一个系统在规定条件下，在规定时期内，能成功实现其预定功能的可能性。新产品：新增产品，即新开发产品；衍生产品：在成熟产品的基础上，根据客户需求，或者自主开发，不变更支架，只是变更芯片，荧光粉等对整体制程不产生影响的产品。6.0流程：6.1一般流程与要求研发工程师、物料工程师、品质工程师以书面形式向实验室提交《测试申请单》，提交相应样品，在申请单中详细填写实验样品的各项信息，及委托项目；

实验项目6.2.1常规SMD产品的实验项目及判定标准:No.测试项目Testitem参考标准Referencestandard测试条件Testcondition测试时间Testduration判定标准Criteria样品数UnitFailed/Tested1高温老化HT0LJESD22-A108Ts=85°C,TypicalIF1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/102高温老化HTOL2JESD22-A108Ts=105°C,TypicalIF1000h供参考0/103高温高湿老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=85°C,85%RH,TypicalIF500hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/104潮气敏感度MSLIPC/JEDECJ-STD-02085C/85%环境下吸湿12h以上9贴片9三遍回流焊无死灯、缺亮0/205温度冲击TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime100cycle无死灯、缺亮sequencefromMSL6高温存储HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/107高温高湿存储THJEITAED-4701/103Ta=60°C,90%RH1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/108静电放电人体模式ESDHBMJESD22-A114ESDHBMmode2KV@85%fornormalLED,8KV@100%forLEDwithzener供参考0/209硫渗透试验SP将1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器内，LED与硫粉不接触，密闭容器，然后将整个容器放入75°C烤箱中储存4h.8h.12h.……供参考0/1010热阻测试TRJESD51-14供参考0/2

6.2.2常规COB产品的实验项目及判定标准:No.测试项目Testitem参考标准Referencestandard测试条件Testcondition测试时间Testduration判定标准Criteria样品数UnitFailed/Tested1高温老化HT0LJESD22-A108Ts=85C,TypicalIF1000hdeltaflux三95%deltax/yW0.0050/32高温老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C,TypicalIF1000h供参考0/33高温高湿老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=85C,85%RH,TypicalIF1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.030/34温度冲击TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime100cycle无死灯、缺亮0/55高温存储HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000hdeltaflux三95%deltax/yW0.0050/36高温高湿存储THJEITAED-4701/103Ta=60C,90%RH1000hdeltaflux三95%deltax/yW0.0050/37静电放电人体模式ESDHBMJESD22-A114ESDHBMmode2KV@85%fornormalLED,8KV@100%forLEDwithzener供参考0/58硫渗透试验SP将1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器内，LED与硫粉不接触，密闭容器，然后将整个容器放入75°C烤箱中储存8h,24h,48h……供参考0/39热阻测试TRTESD51-14供参考0/2623TCLBLU产品的实验项目及判定标准:No.实验名称实验方法判断依据数量备注180C极限高温试验Ta=80°C；1000h；额定电流；实际散热片：平置：deltaflux三85%deltax/yW0.0155*N(N：单台整机所用LB条数；)实验后无黄化等显性不良245C高温老化试验Ta=45C；1000h:最大电流；散热片确保LED结温〈110°C:平置：deltaflux三85%deltax/yW0.0153ESDESDHBMmode，±4KV，10次，LB引脚地，不接地，不驱动灯条试验后能正常点亮54硫渗透试验SP将1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器内，LED与硫粉不接触，密闭容器，然后将整个容器放入75C烤箱中储存8hdeltaflux三80%10624创维BLU产品的实验项目及判定标准:No.测试项目Testitem测试条件Testcondition测试时间Testduration判定标准Criteria样品数UnitFailed/Tested1高温老化HTOLTa=65C,TypicalIF500hdeltaflux三70%deltaVF<10%IR<2倍初始值不可有外观性不良0/62高温存储HTSTa=85C500h0/63低温老化LTOLTa=-40°C,TypicalIF500h0/64低温存储LTSTa=-40C500h0/65高温高湿老化WHTOLTa=85C,85%RH,TypicalIF179h0/66温度冲击TS-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime100cycle无死灯、缺亮sequencefromMSL7静电人体模式ESDHBMmode接触放电，参考国际静电协会(ANSI)标准中电压等级：2级(2KV)0/26.2.5L项目的实验项目及判定标准:No.测试项目Testitem参考标准Referencestandard测试条件Testcondition测试时间Testduration判定标准Criteria样品数UnitFailed/Tested(non-COB)1高温老化JESD22-A108Ts=55°C.MaxIF1000hdeltaflux三85%0/20

HTOLdeltax/yW0.007deltaVFW10%2高温老化HTOL2JESD22-A108Ts=85°C,MaxIF1000h0/203低温老化LTOLJESD22-A108Ta=-40°C,MaxIF1000h0/204高温高湿老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=85C,85%RH,MaxIF,30minON/OFF500h0/205高温存储HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000h0/206低温存储LTSJEITAED-4701/201Ta=-40C1000h0/207温度冲击TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime300cycle无死灯、缺亮0/206.2.6光引擎产品的实验项目及判定标准：No.测试项目Testitem参考标准Referencestandard测试条件Testcondition测试时间Testduration判定标准Criteria样品数UnitFailed/Tested1高温老化HTOLJESD22-A108Ts=85C,120Vac/230Vac驱动1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/32Rapid-CycleStressTest快速循环压力测试ENERGY_STAR_Integral_LED_Lamps_Program_Requirements.V1.4Ts=85C,120Vac/230Vac驱动，2minON/OFF1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/53高温老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C,120Vac/230Vac驱动1000h供参考0/34高温高湿老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=60C,90%RH,120Vac/230Vac驱动1000hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/35温度冲击TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime100cycle无死灯、缺亮0/56高温存储HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/37高温高湿存储THJEITAED-4701/103Ta=60C,90%RH1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/38静由测试IEC61000-4-2(GBT17626)2KV供参考0/59浪涌测试供参考0/510抗雷击测试供参考0/5(备注：Rapid-CycleStressTest、HT0L2测试3000h供参考；)

627RG高色域产品的实验项目及判定标准:No.测试项目Testitem参考标准Referencestandard测试条件Testcondition测试时间Testduration判定标准Criteria样品数UnitFailed/Tested1高温老化HT0LJESD22-A108Ts=85°C,TypicalIF1000hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/102高温老化HTOL2JESD22-A108Ts=105°C,TypicalIF1000h供参考0/103高温高湿老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=85°C,85%RH,TypicalIF500hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/104潮气敏感度MSLIPC/JEDECJ-STD-02085C/85%环境下吸湿12h以上9贴片9三遍回流焊无死灯、缺亮0/205温度冲击TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime100cycle无死灯、缺亮sequencefromMSL6高温存储HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/107高温高湿存储THJEITAED-4701/103Ta=60°C,90%RH1000hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/108静电放电人体模式ESDHBMJESD22-A114ESDHBMmode2KV@85%fornormalLED,8KV@100%forLEDwithzener供参考0/209硫渗透试验SP将1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器内，LED与硫粉不接触，密闭容器，然后将整个容器放入75°C烤箱中储存4h.8h.12h.……供参考0/10

628FLASH产品的实验项目及判定标准:No.测试项目Testitem参考标准Referencestandard测试条件Testcondition测试时间Testduration判定标准Criteria样品数UnitFailed/Tested(non-COB)1高温老化HT0LJESD22-A108Ts=85C,MaxIF1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/102高温老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C,MaxIF1000h供参考0/103高温高湿老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=85C,85%RH,MaxIF500hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/104PulsedoperatinglifeTa=25C,IF=MaxIFP,TON=400msandToff=3600ms30,000cyclesdeltaflux三90%deltax/yW0.005无死灯0/205潮气敏感度MSL1IPC/JEDECJ-STD-02085C/85%环境下吸湿168h以上9贴片9三遍回流焊无死灯、缺亮（供参考）0/206潮气敏感度MSLIPC/JEDECJ-STD-02085C/85%环境下吸湿12h以上9贴片9三遍回流焊无死灯、缺亮0/207温度冲击TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime100cycle无死灯、缺亮sequencefromMSL8高温存储HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/109高温高湿存储THJEITAED-4701/103Ta=60C,90%RH1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/1010静电放电人体模式ESDHBMJESD22-A114ESDHBMmode2KV@85%fornormalLED,8KV@100%forLEDwithzener供参考0/2011硫渗透试验SP将1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器内，LED与硫粉不接触，密闭容器，然后将整个容器放入75C烤箱中储存4h,8h,12h,……供参考0/1012热阻测试TRJESD51-14供参考0/26.2.9可靠性测试项目、判定标准不是一成不变的，应适应项目的实际情况，以符合客户要求为第一准则。研发工程师、物料工程师、品质工程师可以根据项目的实际情况（如客户特殊要求，特殊的加速实验条件等），设计特殊的测试项目，也可以根据实际需要申请延长测试时间；6.2.10常规实验项目的作业方法参考《环境实验标准作业规范》、《老化样品制样操作规范》；6.2.11硫渗透试验（SP,sulfurpenetratetest）:将1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器内，LED与硫粉不接触，密闭容器，然后将整个容器放入75°C烤箱中储存，每4h测试一次或按照委托单特殊要求，当光通量维持率低于80%时，实验停止。应采取措施防止硫磺粉末、硫化试验箱污染其它老化烤箱。从容器中取出LED后应立即密闭容器。新产品、衍生产品可靠性测试项目（•代表必做，O代表选做）新产品在设计总结评审完成，即设计完成后，应参考6.2或下表进行验证；衍生产品是在新产品开发初期有经过全部信赖度验证，且所用物料也经过正式评估导入的合格物料。如果衍生产品只涉及色温、亮度、显指等规格参数的变更，无需重复进行可靠性测试；如果变更支架厂商，芯片，荧光粉，封装胶水等物料，