RD、SEM、TEM、VSM、PS、ICP等测试方法介绍

1.pcpdgwind衍射谱有时候一天也搞不定。searchmatch3而且它还有自动生成试验报告的功能!highscore,highscoresearchmatch有用。〔1〕它可以调用的数据格式更多.窗口设置更人性化，用户可以自己选择.〔3)谱线位置的显示方式，可以让你更直接地看到检索的状况〔4)手动加峰或减峰更加便利。可以对衍射图进展平滑等操作，是图更秀丽。可以更改原始数据的步长、起始角度等参数。0(9〕可以进展半定量分析。〔10)物相检索更加便利,检索方式更多.可以编写批处理命令,对于同一系列的衍射图，一键搞定。4.jadehighscore相比自动检索功能少差，但它有比之更多的功能.它可以进展衍射峰的指标化。进展晶格参数的计算。依据标样对晶格参数进展校正。轻松计算峰的面积、质心。〔5)出图更加便利，你可以在图上进展更加随便的编辑。，XX手段。X射线是一种波长很短(约为20～0.06┱)的电磁波,能穿透肯定厚度的物XX(或标识〕XX〔10—8nm〕相近，1912(M。vonLaue〕提出一个重要的科学预见:晶体可XX片上得到的衍射把戏,便可确定晶体构造。这一预见随即为试验所验证.1913年NaCl、KCl2dsinθ=nλ件来表示：nmax=2dh0k0l0/λ，dh0k0l0<λ/2只有那些间距大于波长一半的面族才可能给出衍射，以此求纳米粒子的形貌。d格定律简洁直观地表达了衍射所必需满足的条件。当X射线波长λ时〔选θ角符合布喇格条件的反射面得到反射,测出θ喇格公式即可确定点阵平面间距、晶胞大小和类型；依据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布.这便是X〔Debye—Scherrer〕法的理论根底。而在测定单晶取向的劳厄法中，所用单晶样品保持固定不变动(即θ不变XXX具有重大意义的结果。如韦斯特格伦〔A。Westgren〕(1922年〕证明α、β上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体，从而最终否认了β—Fe硬化理论。随后,在用X射线测定众多金属和合金的晶体构造的同时，在相图测定以及在固态相变和范性形变争论等领域中均取得了丰硕的成果。如对超点阵构造的觉察,X〔包括散射)已经成为争论晶体物质和某些非晶态物质微观构造的有效方法。在金属中的主要应用有以下方面:物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较量.在争论性能和各相含量的关系和检查材料的成安排比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用。周密测定点阵参数常用于相图的固态溶解度曲线的测定.溶解度的变化往往引起点阵常数的变化;当到达溶解限后，溶质的连续增加引起相的析出，不再引起点阵常数的变化.这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的周密测定可得的物理常数.取向分析包括测定单晶取向和多晶的构造〔见择优取向).测定硅钢片的取向就是一例.另外，为争论金属的范性形变过程，如孪生、滑移、滑移面的转动等，也与取向的测定有关。晶粒〔嵌镶块〕大小和微观应力的测定由衍射把戏的外形和强度可计算晶粒和微应力的大小.在形变和热处理过程中这两者有明显变化，它直接影响材料的性能.宏观应力的测定宏观残留应力的方向和大小,直接影响机器零件的使用寿方向。对晶体构造不完整性的争论包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的争论〔见晶体缺陷。合金相变包括脱溶、有序无序转变、母相相的晶体学关系，等等.原子位置等晶体学数据。量、配位数等。特别状态下的分析在高温、低温顺瞬时的动态分析.用于争论近完整晶体中的缺陷如位错线等，也得到了重视.X射线分析的进展：金属X射线分析由于设备和技术的普及已逐步变成金计算机掌握等优点,已经得到广泛的应用。但使用单色器的照相法在微量样品和70XXX〕和高灵敏度探测器的消灭以及电子计算机分析的应用，使金属X射线学获得瞬时的动态观看以及对更为微弱或精细效应的争论.X射线衍射仪是利用衍射原理,准确测定物质的晶体构造，织构及应力，准确的进展物相分析，定性分析，定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域.X射线是波长介于紫外线和γ射线间的电磁辐射。X射线管是具有阴极和阳极的真空管，阴极用钨丝制成，通电后可放射热电子,阳极〔就称靶极〕用高熔X子轰击靶极时会产生高温，故靶极必需用水冷却。XRDX-射线衍射〔WideAngleX-rayDiffraction〕主要是比照标准谱图分析纳米粒子的组成，分析粒径，结晶度等。定所制样品是否为所得。扫描电子显微镜 在化学化工里，SEM是scanningelectronmicroscope的缩写，指扫描电子显微镜是一种常用的材料分析手段。原理是用一束极细的电子束扫描样品，在样品外表激发出次级电子,次级电子的后，要喷涂上一层重金属微粒,重金属在电子束的轰击下发出次级电子信号。0.2mm0。2mm/10nm=20230X。被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时,也可产生电子-空穴对、晶格振动〔声子、电子振荡〔等离子体。原则上讲,利用电子和物质的相互作用,可以猎取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体构造、电子构造和内部电场或磁场等等.扫描电子显微镜正是x的采集，可得到物质化学成分的信息。相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射电子显微镜的区分率为0.1～0.2µ；m、光学显微镜下无法看清的构造，又称“亚显微构造”。成像原理透射电子显微镜的成像原理可分为三种状况：样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗.不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各局部不同的衍射力量,当消灭晶体缺陷时,缺陷局部的衍射力量与完整区域不同,从而使衍射钵的振幅分布不均100＆Aring;以下时，电子可以传过样品，波的振幅变化可以无视，成像来自于相位的变化.组件的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜,起到对电子束加速、加压的观看的样品,并装有倾转台，用以转变试样的角度,还有装配加热、冷却等设备.镜区分力量和成像质量的关键。中间镜：为可变倍的弱透镜，作用是对电子像进展二次放大.通过调整中间镜的电流,可选择物体的像或电子衍射图来进展放二级真空泵来对样品室抽真空、照相装置用以记录影像.应用吸取，故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最终的成像质量，必需制备50~100nm。所以用透射电子显微镜观看时的样品需要断裂法等.对于液体样品，通常是挂预处理过的铜网上进展观看。特点TEM以电子束作光源,电磁场作透镜。电子束波长与加速电压〔50~120KV〕的平方根成反比.由电子照明系统、电磁透镜成像系统、真空系统、记录系统、电源系统等5局部构成。 区分力0.2nm，放大倍数可达百万倍。高区分率〔1nm〕、高放大倍数的电子光学分析技术;用电镜〔TEM〕进展得到电子衍射把戏；TEM表征技术之一。XHertz1907,P。DInnes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球(电子能量)和照像平版做试验来记录宽带放射电子和速度的函数关系。〔光电子〕,透过现对外表元素的定性分析,包括价态。X光电子的能量,以光电子的动能为横坐标，相对强度〔脉冲/s〕为纵坐标可做出X因此被称为化学分析用电子能谱(ElectronSpectroscopyforChemicalAnalysis〕.H、He〔原子的含量或相对浓度。分布，测定外表电子的电子云分布和能级构造等。4,化合物的构造.可以对内层电子结合能的化学位移准确测量，供给化学键XPSCo。电感耦合等离子体I