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文档简介

常用电子元器件故障分布常用电子元器件故障分布这里总结摘录MIL-HDBK-338B，美军可靠性设计手册来为FTA做一些支持，这里按照以下的方式介绍：

如果我们想要进行FTA的定量分析，一定要把可靠性预测先做完，在可靠性前一定要把电压分布表和温度分布先

进行初步的运算，通过下面的的表格，大概可以预计失效发生的时候故障的分配比例，以下数字仅供参考，本身

MIL-HDBK-338B是一份指导书性质的，所有的数字仅仅具有参考意义。电容失效方式分布：电容大部分是以短路形式失效的，特别钽电容，要特别注意。铝电解电容器AluminumElectrolytic短路0.&3开路0.35匝競泄诵0.1容葫变化0.02陶瓷电容器Ceramic0.49番值变化D.蝕。.或短路0.72JN-Hi-a-Micg/Glas^匿值变化0.15开路0.13渔膜电容器Plastic0.42短路0.4'容値变化0.18超电容TantalumElectrolytic|短路0.690.17容值变化0.14电阻：电阻以开路为主，混合物电阻一般为分立的电阻，薄膜电阻为SMD表贴电阻。混台物电阻.Composition1参數妾化0.660.31速路0.0?薄膜电粗Fihn0.59参数变化0.36短路0.05线绕电阻Wirewound开路0.65参数变化。・：比0.09网络电:朗Network开路0.的0.08可变电阻Variable开路0.歸1输出值皤误0.4短路0.07继电器，线圈，变压器

变圧器Transformer开賂0.42短路0.42數变化0.16线圈0.420.42感值减少0.16继电器Relay无法吸合0.550.26短路0.19二极管：短路为主。通用二极管general短路0.490..3S参数变化0.15整涼一槻管Rectifier短路0.51开路0.:29卷数变化o.i可控辞辭涼管SCR短路0.98开血0.0?参数变化0.58' 〔小信号二极管SmallS.'ignal1开路0.240.18晶闸苣TlvristorFailedOff（无搗美断）0.450.41开路0.1FailedOn舟无法打开離：0.05双向可控硅氐1証Failed （弟芙■夷断〕0.9FailedOn《无法打开）0.1电压基准齐纳管VoltageReferenceZener畫数变化0.69开路0.18路0.總电压调节器齐纳管VoltageRegulatorZener开路0.45参

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