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文档简介

/纱线检测原理当前市场上供应的电子清纱器所应用的在线纱线测量原理两种电容式光电式两者主要的不用在于测量物理原理和对纱线纵向不匀率评估。电容式传感器考虑纱线质量的改变,而光学传感器测量纱线的直径。一些干扰疵点只有织物（梭织物或针织物）最终成形时才显示出来。又由于人眼只能感知直径的变化而不是重量的改变,所以似乎一讲到疵点，首先便是纱线的直径偏差。另一个有利于光学式测量原理的事实是在气流纺纱时疵点所呈现的特征.绝大部分的干扰疵点是有纤维沉积物以及没有纺到纱线上的纤维丛引起的.这些疵点的纤维密度会比纱线的纤维密度低得多。因此疵点的重量方面的改变低于相应的直径方面的改变。与电容式测量相反，光学式测量与原料类型及加工过的原料的含湿量是无关的。光学式判定是通过测量纱线直径进行的。最新的测量方式允许对纱线直径进行直接的测量，而不需要从另个物理变量转换过来。IQｐｌｕs测量头传感器原理IQPLＵS清纱器的工作原理,IQＰLUS直接测量投影在CＭOS直线传感器上的纱线阴影的宽度。光源发出的光经过光学调整,因而投射在传感器上的光线强度在传感器的整个有效范围内都将是相同的。光线接收器是一个ＣMＯS直线传感器,该半导体元件包含众多称为像素的微型光敏接收点。这些像素排列成一直线，纱线移动的方向正与该直线垂直.这样纱线的阴影就投射到了激活的传感列上.被阴影覆盖的像素区域的长度就等于当时位于像素列正上方的纱线直径。接着为了估计纱线的直径，只需要分出被遮蔽的像素和发亮的像素,然后将该信息转换为脉冲数据输出以备以后使用。下图为CＭOS传感器原理曝光强度评估光源光线经过光学修正，因而在一个清洁的传感器的所有范围内投射在各单独像素上的光强都是一致的。如果光源与传感器间有障碍，那么模拟信号值就决定了覆盖各单独像素的阴影程度。完全被遮蔽的像素定义了最小曝光量,而完全明亮的像素则定义了最大的曝光水平。考虑到在生产时传感器区域内总是有杂质存在，因而单颗像素的曝光强度就介于最小值和最大值之间。为了把纱线造成的阴影和由比如灰尘等造成的区部阴影区分开来，每一颗像素的输出信号都会拿到比较器中与固定的值进行比较。该值为由纱线造成的完全阴影和由灰尘造成的局部阴影的区分定义了极限值。曝光强度落在高于值的满光区内的像素被认为是没有被阴影覆盖的，而低于值的则被认为是受到

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