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GalaxyPWi系列UPS并联接触器失效方案汇报型号：GalaxyPWi3:1100KVADC220GalaxyPWi3:1120KVADC220GalaxyPWi3:3160KVADC384GalaxyPWi3:3200KVADC384测试信息项目名称GalaxyPWi系列并联接触器失效方案汇报样机型号GalaxyPWi3:1100KVADC220GalaxyPWi3:1120KVADC220GalaxyPWi3:3160KVADC384GalaxyPWi3:3200KVADC384生产日期-06-20软件版本S1.0硬件版本主控板S1.2测试时间-3-12测试地点中山冠虹电子有限企业测试人员Leo测试仪器失效方案现两接触器并联使用，当其中一颗失效时，另一种无法自动断开，3D图如下修改方案1：改用单颗电磁接触器FUJIN10180A，3D图如下该方案中接触器与其他机型不共用，用量少，需验证可靠度修改方案2：两颗电磁接触器输出端添加FUSE，当一颗磁接触器失效或是FUSE烧掉时，此外一颗接触器输出端FUSE如超过其额定电流，则烧掉保护，3D图如下PWI31PWI33需确认该方案可靠度以及与否会影响走线保险规格如下：机型保险规格用量PWi100K31DC220FuseFWH-250A250A500V(COOPERBUSSMANN)2PWi120K31DC220FuseFWH-300A300A500V(COOPERBUSSMANN)2PWi160K33DC384FuseFWH-250A250A500V(COOPERBUSSMANN)2PWi200K33DC3

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