超声检测通用工艺规程

超声检测通用工艺规程适用范围本规程适用于承受A型脉冲反射式超声波探伤仪，对金属原材料、零部件和焊接接头进展超声波检测。检测时机有延迟裂纹倾向的材料其焊接接头应在焊接完成24小时后才能进展检测。锻件检测原则上应在热处理后，槽孔、台阶加工前进Ra≤6.3μm。工件要求焊接接头探头移动区应由送检单位去除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它杂质，对咬边、较大的隆起和凹陷等应作适当的修磨至圆滑过渡。原材料及零件部、锻件应由送检单位打磨去除铁屑、锈蚀、油垢等其它杂质。检测外表应平坦光滑、便于探头自Ra6.3μm。探伤仪、探头和系统性能探伤仪A1～5MHz，仪器至少在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显80dB档不大于2dB，其精度为任意相邻12dB误差在±1dB以内，最大累计误差不超过1dB。水平线性误差不大于1%，垂直线5%。探头超声检测常用单直探头、单斜探头、双晶探头和聚焦探头等。晶片有效面积一般不应大于500mm2，且任一边长不应大于25mm。单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2°，主声束垂直方向不应有明显的双峰。双晶直探头性能应符合JB/T4730.3-2023附录A的要求。超声探伤仪和探头的系统性能。在到达所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余10dB。仪器和直探头组合的始脉冲宽度：对于频率为5MHz的探头，宽度不大于10mm；对于频率为2.5MHz的探头，宽15mm。直探头的远场区分力应不小于30dB，斜探头的远场区分6dB。仪器和探头的系统性能应按JB/T9214和JB/T10062的规定进展测试。超声检测一般方法检测掩盖率15%。所确定检测面应保证工件被检局部均能得到充分检查。探头的移动速度。150mm/S。当承受自动报警装置扫查时，不受此限。扫查灵敏度不得低于基准灵敏度。耦合剂承受机油、浆糊、水等透声性好且不损伤检测外表的耦合剂。灵敏度补偿耦合补偿在检测和缺陷定量时，应对由外表粗糙度引起的能量损耗进展补偿。衰减补偿在检测和缺陷定量时，应对材质衰减引起的检测灵敏度下降和缺陷定量误差进展补偿。曲面补偿对于检测面是曲面的工件，应承受曲率半径与工件一样或相近〔0.9～1.5〕的参考试块，比照进展曲率补偿。系统校准和复核一般要求系统校准应在基准试块上进展，校准中应使超声波主声束垂直对准反射体的轴线，以获得稳定的和最大的反射信号。仪器校准在仪器开头使用时，应对仪器的水平线性按JB/T10061的规定进展测定。在使用过程中，每隔3个月至少对仪器的水平线性和垂直线性进展一次测，定并作好记录〔表29－24。探头测定探头使用前应按JB/T10062的有关规定进展前沿距离、K仪器和斜探头系统，检测前应测定前沿距离、K值、主声束偏离，调整或复核扫描量程和扫查灵敏度。仪器和直探头系统，检测前应测定始脉冲宽度、灵敏度余量和区分力，调整或复核扫描量程和扫查灵敏度。使用过程中遇有下述状况应对仪器和探头系统进展复核：校准后的探头、耦合剂和仪器调整旋纽发生转变时；检测人员疑心扫描量程或扫查灵敏度有变化时；连续工作4工作完毕时。3.5.6、检测完毕前仪器和探头系统的复核⑴每次检测完毕前，应对扫描量程进展复核。假设任意一点在扫描线上的偏移超过扫描线读数的10%，则扫描量程应重调整，并对上一次复核以来全部的检测部位进展复核。⑵.距离－波幅曲线的校核不应少于3点。如曲线上一点幅度下2db，则应对上一次复核以来全部的检测部位进展复核；如幅度上升2db，则应对全部的记录信号进展重评定。3.5.7、校准、复核的有关留意事项校准、复核和对仪器进展线性检测时，任何影响仪器线性的掌握器都应放在“关”的位置或处于最低水平上。d.扫描量程的复核假设距离——波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过扫描读数的10%。则扫描量程应予以修正，并在检测记录中加以标明。距离——波幅曲线的复核3降2dB，则应对上一次以来全部的检测结果进展复检；如幅2dB，则应对全部的记录信号进展重评定。留意事项〔如抑制或滤波开关等〕平上。试块试块应承受与被检工件一样或相近似声学性能的材料制成。该材料用直探头检测时，不得有大于φ2mm平底孔当量直径的缺陷。依据不同的被检工件承受以下标准试块:aCBⅠ、CBⅡ；bCSⅠ、CSⅡ；cCSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA。比照试块的外形尺寸应能代表被检工件特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。假设涉及到两种或两种以上不同厚度部件焊接接头的检测，试块的厚度应由其最大厚度来确定。和质量分级适用范围本工艺适用于使用A型脉冲反射式超声波探伤仪,以单斜探头接触法为主进展探伤。焊接件对接处厚度8－400mm的钢制承压设备对接焊缝的超声波探伤。探伤流2工件工件探伤托付单探伤前预备工作编UT工艺卡探伤返员通入射点测定出知具缺陷回波测定折射角测定缺陷指示长度探测灵敏度缺陷部位测定对基轴校正 记录整理产品，部件合格报告图2UT操作流程图本工艺规程不适用于铸钢对接焊接接头、外径小于159mm的钢管环向对接焊接接头、内径小于或等于200mm于250mm或内外径之比小于80%的纵向对接焊接接头超声检测。A级仅适用母材厚度为8mm－46mm的对接焊接接头。可用一种K值探头承受直射波法和一次反射波法在对接焊接接头的单面单侧进展检测。一般不要求进展横向缺陷的检测。B母材厚度为8mm－46mmK焊接接头的单面双侧进展检测。 母材厚度大于46mm－120mmK接接头的双面双侧进展检测，如受几何条件限制，也可要焊接接头的双面单侧承受两种K检测。母材厚度大于120mm－400mmK值探10°。应进展横向缺陷的检测。检测时，可在焊接接头两侧边缘使探头与焊接接头中心线成10°－20°作两在焊接接头及热影响区上作两个方向的平行扫查。C承受C两侧斜探头扫查经过的母材区域要有直探头进展检测a〕母材厚度为8mm－46mm时，一般用两种K值探头采用直射波法和一次反射波法在焊接接头单面双侧进展检测。两种探头的折射角相差应不小于10°，其45°。母材厚度大于46mm－400mm时，一般用两种K值探头承受直射波法在焊接应不小于105°的窄间陷的有效检测方法。应进展横向缺陷的检测。检测时，将探头放在焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查。仪器、探头5.1.35.1.4探头K16表16 推举承受的斜探头K值板厚板厚T，mmK6～253.0～2.0(72°～60°)＞25～46＞46～120＞120～400

2.5～1.5(68°～56°)2.0～1.0(60°～45°)2.0～1.0(60°～45°)试块承受的标准试块为CSK-ⅠA、ⅡA、ⅢA。CSK-ⅠA、CSK-ⅢA适用于壁厚8-120mm焊接接头探伤。3.8.3.2在满足灵敏度要求的状况下,也可承受其它形式的等效试块。检验外表预备母材金属焊缝两侧的母材外表移动区域不应有干扰检验的飞溅、锈蚀和油垢等外来杂物，外表粗糙时，应打磨平滑。焊缝金属对于能干扰检验的焊缝外表应依据检验所需的要求进展制备。耦合剂及耦合剂补偿检验和校验时所用的耦合剂要全都，可使用机油、浆糊或甘油。耦合补偿可实测或按表17的阅历数据。17外表状况致密氧化皮Ra6.3外表粗砂轮打磨补偿值〔dB〕026扫查要求斜射波扫查a〕承受一次反射法检测时,探头移动区应不小于1.25P;b〕0.75P;直射波扫查时邻近母材时,以找出影响评定斜射波扫查结果的分层或其它种类缺陷,但这个扫查不能作为验收或拒收检验,检测要点是:承受2MHz-5MHz、晶片直径10mm-25mm的直探头，将母材无缺陷处二次底波100%20%波幅高的缺陷反射体，均应在工件外表作出标记，并记录下来。距离——波幅曲线的绘制距离——波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成。距离——波幅曲线的复核复核时,校准应不少于3点,假设曲线上任何一点幅度下降2dB,则应对上一次以来全部的检测结果进展复核;假设幅度上升2dB,则应对全部的记录信号进展重评定。留意事项的掌握器〔如抑制或滤波开关等〕都应放在”关”的位置或最低水平上。18式

板厚mm 评定线

定量线

表186－46φ2×6－46φ2×φ2×φ2×CSK-Ⅱ40-18dB40-12dB40-4dBA＞46－φ2×φ2×φ2×12040-14dB40-8dB40+2dBφ1×φ1×φ1×8－156-12dB6-6dB6+2dB＞15－φ1×φ1×φ1×466-9dB6-3dB6+5dB＞46－φ1×φ1×6φ1×1001006-6dB6+10dB检测方法平板对接焊缝依据不同检测技术等级选用一种K值接头或两种K值接头为检测焊缝及热影响区的横向缺陷，应进展平行和斜平行扫查。为确定缺陷的位置、方向和外形等，可承受前后、左右、转角和围绕四种探头扫查方式。曲面工件对接焊缝可尽量按平板对接焊缝的检测方法进展检测。纵缝检测时，比照试块的曲率半径与检测面曲率10%a〕Kb〕查到整个焊缝；

选择探头Kc〕 曲面半径大于W2/4度或小于距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的误差，必要时应进展修正。环缝检测时,比照试块的曲率半径应为检测面曲0.9~1.5缺陷的定量检测灵敏度应调到定量线灵敏度。对全部波幅超过定量线的缺陷，应确定其位置、最大反射波幅、缺陷当量和指示长度△L。当用直探头检测时，缺陷当量直径以平底孔直径表示可承受公式计算，用斜探头检测时，用距离——波幅曲线和比照试块来确定当量尺寸。缺陷指示长度△L的测定承受端点6dB。缺陷的评定应留意超过评定线的信号是否具有裂纹等危害性缺陷特征，如有疑心时，应转变探头角度，增加检测面，观看动态波形并结合构造工艺特点作出判定，如不能推断时，应辅以其它检测方法作出综合判定。10mm5mm相邻两缺陷在同始终线上，其间距小于其中较小的缺陷长度时，应作为一条缺陷处理，以两缺陷长度之和作