标准解读

《YS/T 739-2010 铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法》是一项国家标准，旨在规范使用X射线荧光光谱法对铝电解质中的分子比以及主要成分进行测定的方法。该标准适用于铝电解过程中电解质样品分析，为工业生产和科学研究提供准确的数据支持。

标准中详细描述了实验所需仪器设备的基本要求，包括X射线荧光光谱仪的技术参数等，并明确了样品制备的具体步骤，比如如何正确采集、处理待测样品以确保测试结果的有效性和准确性。此外，还规定了详细的测量条件设置与操作流程，如选择合适的激发条件、扫描方式等，这些都是为了保证不同实验室之间能够获得可比性的数据。

对于数据分析部分，《YS/T 739-2010》给出了计算方法和校正模型建立指导原则，帮助用户根据所获得的光谱信息准确地定量分析目标元素含量及其比例关系。同时，也强调了质量控制的重要性，建议通过定期使用标准物质或参与能力验证活动等方式来监控分析系统的性能状态。

最后，标准还列出了报告编写指南，要求记录所有关键参数及最终结果，以便于后续审核或其他研究者复现实验过程。


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....

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  • 废止
  • 已被废除、停止使用，并不再更新
  • 2010-11-22 颁布
  • 2011-03-01 实施
©正版授权
YS/T 739-2010铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法_第1页
YS/T 739-2010铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法_第2页
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文档简介

ICS7712010

H12..

中华人民共和国有色金属行业标准

YS/T739—2010

铝电解质分子比及主要成分的测定

X射线荧光光谱法

Determinationofcryoliterateandmaincomponentsofelectrolyte—

X-rayfluorescencespectrometricanalysismethod

2010-11-22发布2011-03-01实施

中华人民共和国工业和信息化部发布

中华人民共和国有色金属

行业标准

铝电解质分子比及主要成分的测定

X射线荧光光谱法

YS/T739—2010

*

中国标准出版社出版发行

北京复兴门外三里河北街号

16

邮政编码

:100045

网址

电话

:6852394668517548

中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷

各地新华书店经销

*

开本印张字数千字

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年月第一版年月第一次印刷

2011120111

*

书号

:155066·2-21465

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举报电话01068533533

:()

YS/T739—2010

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准由全国有色金属标准化技术委员会归口

(SAC/TC243)。

本标准由中国铝业股份有限公司贵州分公司负责起草

。

本标准由中国铝业股份有限公司青海分公司山东南山铝业股份有限公司内蒙古霍煤鸿骏铝电有

、、

限公司岛津国际贸易上海有限公司参加起草

、()。

本标准主要起草人袁艺李刚李群耿昭刘海石陈鸿钧李志辉吴静苗国玉胡晓春

:、、、、、、、、、。

Ⅰ

YS/T739—2010

铝电解质分子比及主要成分的测定

X射线荧光光谱法

1范围

本标准规定了铝电解生产过程中铝电解质的分子比及主要成分含量的测定

CaF2、MgF2、Al2O3

方法

。

本标准适用于铝电解质中分子比主要成分含量的测定测定范围分子比

、CaF2、MgF2、Al2O3。:

1.80~3.20、CaF2:1.00%~10.00%、MgF2:0.05%~5.00%、Al2O3:1.00%~10.00%。

2方法提要

将铝电解质试样研磨成粉末加压制成片用铑或铬钨靶射线管的荧光分析仪测出元素钠

,,(、)X(、

镁铝钙氧氟的射线强度用标准样品制成工作曲线计算公式求出元素的含量再根据计算公式

、、、、),()。

计算出铝电解质的分子比及的含量

CaF2、MgF2、Al2O3。

3试剂

无水乙醇分析纯

,。

4仪器和设备

41研磨机及研钵

.。

42压片机及模具压片机总压力在以上

.:10MPa。

43多道射线荧光光谱仪配有铑或铬钨靶射线管分光晶体真空系统自动脉冲高度分析

.X[(、)X、、、

器及计数器工作参数参见附录

]:A。

5试样

铝电解质

。

6分析步骤

61制样将从电解槽中取出的铝电解质试样经自然冷却后放入研钵中加入滴无水

.:(5),,(4.1),3~4

乙醇并用研磨机振动研磨使试样粒度达到以下

,,75μm。

62压片将研磨后的试样倒入模具用压片机加压至并保持压力以

.:(6.1)(4.2),(4.2)10MPa,25s

上将压成的试样压片取出待

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