标准解读

《YS/T 362-2006 纯钯中杂质元素的发射光谱分析》是一项专门针对纯钯材料中的杂质元素进行检测的标准。该标准通过发射光谱法来测定钯样品中存在的微量或痕量杂质，为评估钯材料的质量提供了科学依据。它规定了使用发射光谱技术对钯及其合金中的特定杂质（如铁、镍、铜等）进行定量分析的方法步骤，包括样品制备、仪器校准、测量条件设置以及数据分析等方面的要求。

在样品准备阶段，需要将待测钯样品转化为适合光谱仪测试的形式，通常涉及溶解或其他物理处理过程以确保样品均匀性并达到适宜的浓度范围。接下来是仪器的选择与调整，根据标准指导选择合适的激发光源和探测器，并设定正确的参数值，比如功率、曝光时间等，以优化信号强度与背景噪音比，从而提高检测灵敏度和准确性。

对于实际操作过程中遇到的各种情况，《YS/T 362-2006》还提供了一系列详细的指南，包括如何处理基体效应、如何通过内标法消除系统误差等技巧。此外，该文件也强调了质量控制的重要性，建议定期使用已知成分的标准物质来验证方法的有效性和可靠性。

整个分析流程遵循严格的操作规程，旨在保证结果的一致性和可比性。通过对纯钯中杂质含量的精确测量，可以帮助制造商更好地控制产品质量，同时也为科学研究领域提供了可靠的数据支持。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2006-05-25 颁布
  • 2006-12-01 实施
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文档简介

ICS77.040.30Y5H15中华人民共和国有色金属行业标准YS/T362—2006代替YS/T362-1994纯钯中杂质元素的发射光谱分析Determinationoftraceimpuritiesinpuritypalladiumbyatomicemissionspectrometric2006-05-25发布2006-12-01实施中华人民共和国国家发展和改革委员会发布

YS/T362—2006前本标准是对YS/T362—1994《纯钯中杂质元素的发射光谱分析》的修订本标准与YS/T362—1994相比，主要有如下变动:-增加了同时测定的杂质元素个数。-调整了测定元素的含量范围。本标准自实施之日起,同时代替YS/T362—1994.本标准由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口本标准由贵研铂业股份有限公司负责起草。本标准主要起草人：方卫、徐光、杨玉芳。本标准由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：YB925-78YS/T362-1994。

YS/T362-2006纯钯中杂质元素的发射光谱分析范围本标准规定了纯钯中杂质元素含量的测定方法本标准适用于99.95%～99.99%纯钯中杂质元素含量的测定。测定的杂质元素及含量范围见表1测定范围（质最分数）Ag、Cu、Mg0.0001~0.004Pb、Mn、Au、Ni0.0003~0.012Rh、Pt.Fe.Al、Cr.Bi、Sn0.0005~0.02r、Ru、Zn、Si0.001~0.04方法提要样品转化为粉末，加石墨粉作缓冲剂，装人杯状石墨电极中，直流电弧阳极激发，摄谱测定武剂材料3.1三次蒸水(最后一次用石英蒸雷器蒸馆)32二氧化硅粉，光谱纯3.3石墨粉·光谱纯。3.4盐酸(pl.198/mL),优级纯3.5硝酸(o1.42g/mL).优级纯3.6光谱用钯基体。3.7光谱纯氯化铵饱和溶液。3

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