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文档简介

第三章测试经济学和产品质量3.1测试经济学3.2良率3.3测量品质的缺陷等级3.1测试经济学总成本（TC）=固定成本（FC）+可变成本（VC）平均成本（AC）=总成本/产量TotalCostCostperICVariablecostWaferSizeYield3.1测试经济学十倍法则：如果一个芯片故障没有在芯片测试时发现，那么在PCB级别发现故障的成本就是芯片级别的10倍。如果一个PCB故障没有在电路板测试时被发现，那么在系统级别发现错误的成本将是PCB级别的10倍。3.2良率3.3测量品质的缺陷等级缺陷级别：在通过测试的芯片中，故障芯片所占的比例。通常用每百万个芯片中的故障芯片数来表示（ppm）。EX3.1Therearesomeparametersoftwodifferentprocessofachip.Theexpectedsaleofthischipbetween100,000and500,000.canyoufigureoutthecostofperchipwith65nmand90nmprocess.Everyonecanchooseadifferentproducti

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