集成电路测量课件_第1页
集成电路测量课件_第2页
集成电路测量课件_第3页
集成电路测量课件_第4页
集成电路测量课件_第5页
已阅读5页，还剩18页未读， 继续免费阅读

下载本文档

版权说明：本文档由用户提供并上传，收益归属内容提供方，若内容存在侵权，请进行举报或认领

文档简介

集成电路的测试方法 4.3.1中小规模集成电路的一般测试 1.模拟集成电路的测试 1）线性芯片测试 掌握了对运算放大器的特性的测量原理与方法，也即掌握了对一般线性集成电路的测试方法。理想的运算放大器如图4.23所示，具有如下特性： ①输入阻抗Rin=∞；②输出阻抗Ro=0；③电压增益Av=∞；④带宽为∞；⑤当Uin--Uin+=0时，Uo=0。图4.23基本的运算放大器电路 (1)运算放大器开环输入阻抗的测量。 运算放大器的输入阻抗由两输入端之间和每个输入端与地之间的阻抗组成，如图4.24所示。

Rin称为差分输入阻抗，Rc称为共模输入阻抗。当作为反相放大器使用时，同相输入端接地，RcRin，可以近似认为差分输入阻抗即为其输入阻抗。 测量运算放大器开环输入阻抗的电路如图4.25所示。图4.25运算放大器基本测试电路 (2)运算放大器开环增益Av的测量。 Av的测量方法仍采用如图4.24所示测量运算放大器的输入阻抗的方法。因为Av=Uo/Ui，且 所以图4.26运算放大器转换速率的测量（a）测量运算放大器转换速率电路；（b）图(a)所示电路的输入和输出电压 2）一般模拟集成芯片的测试 (1)性能指标测量。 图4.27是单片集成锁相环CD4046的测试电路。图4.27CD4046性能测试电路 在图4.28所示的电路中，正常时多引脚对地电压如表4.2所示。 2.数字集成电路的测试 数字集成电路处理的都是以0、1为特征的数字电压。数字集成电路的电特性主要是数字电路的电特性，最主要的有输入电平、输出电平、输入电流、输出电流、转换时间、延迟时间、功率消耗等等。图4.28μPC1353应用电路表4.2μPC1353各引脚对地电压测量值引脚1234567891011121314电压/V4.74.75.85.38.26.15.16.411126.82.50.60.6 4.3.3大规模数字集成电路的JTAG测试 目前，中大规模集成电路的应用已十分普遍，由于专用的集成电路测试仪价格昂贵，利用它来解决这些集成电路在产品研发、生产、维修中的测试问题，对于广大普通用户来说是不现实的。 IEEE1149.1标准支持以下3种测试功能： (1)内部测试——IC内部的逻辑测试； (2)外部测试——IC间相互连接的测试； (3)取样测试——IC正常运行时的数据取样测试。 BSC起着把输入输出信号与内部逻辑隔离或连通的作用，所有的BSC在IC内部构成JTAG串联回路，如图4.29所示。图4.29可扫描设计图4.30具有JTAG接口的IC内部BSR单元与引脚关系 图4.31是一个板级的互连测试示意图。从图中我们可以看出，

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 医学制药

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论