JJG 752-1991锗γ谱仪活度标准装置

中华人民共和国国家计量检定规程

JJG752—1991

锗γ谱仪活度标准装置

ActivityStandardDeviceforGe-γ-raySpectrometer

1991-09-04发布1992-05-01实施

国家技术监督局发布

中华人民共和国

国家计量检定规程

锗γ谱仪活度标准装置

JJG752—1991

国家技术监督局发布

*

中国质检出版社出版发行

北京市朝阳区和平里西街甲号

2(100029)

北京市西城区三里河北街号

16(100045)

网址

:

服务热线

:400-168-0010

年月第二版

20181

*

书号

:155026·J-545

版权专有侵权必究

JJG752—1991

锗γ谱仪活度标准

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Ge-γ-raySpectrometer

本检定规程经国家技术监督局于年月日批准并自

19910904,1992

年月日起施行

0501。

归口单位中国计量科学研究院

:

起草单位中国计量科学研究院

:

本规程技术条文由起草单位负责解释

JJG752—1991

本规程主要起草人

:

谭金波中国计量科学研究院

()

JJG752—1991

目录

一概述

…………………(1)

二技术要求

……………(1)

三检定条件

……………(1)

四检定项目和检定方法

………………(2)

一谱仪性能试验

()γ……………………(2)

二效率校准

()……………(3)

三放射源活度的检定

()…………………(4)

五检定结果处理和检定周期

…………(5)

附录符合相加修正

1…………………(6)

附录检定证书内面格式

2……………(10)

Ⅰ

JJG752—1991

锗γ谱仪活度标准装置检定规程

本规程适用于新制造使用中和修理后的同轴锗锂谱仪或同轴高纯锗谱仪

、()γγ

活度测量标准装置的检定射线的能量范围点源活度3

。γ60~1408keV,3.7×10~

5

3.7×10Bq。

一概述

锗锂谱仪和高纯锗谱仪用于测量放射源的发射率或放射性活度

()γγγ。

锗谱仪由锗探测器高压电源前置放大器谱放大器多道脉冲幅度分析器和

γ、、、、

数据处理系统组成射线与探测器相互作用产生电脉冲信号由电子学系统分析和计

。γ,

数根据能谱中被测核素某特征射线的全吸收峰净面积计数率和探测器对该射线

。γγγ

的探测效率用标准源进行刻度可以得到此射线的发射率再根据该射线的

(),γγ,γ

发射几率便可以得到该核素的活度

,。

二技术要求

谱仪中电子学仪器的性能应符合说明书给出的指标

1γ。

探测器的能量分辨率应好于对60的射线

22.5keV(Co1332keVγ)。

谱仪系统小时内峰位漂移不超过峰净面积测量的稳定度应好于

3240.02%,

谱仪预热稳定以后

0.2%()。

谱仪要配有堆积抑制器有良好的抗堆积性能当总计数率3计数-1时

4,,≤10·s

堆积损失小于

0.15%。

谱仪要配有性能良好的计算机谱分析软件减连续谱本底求峰净面积的一致性

5,

好于

0.3%。

探测器要配有放射源支架使放射源轴向位置和在轴线的垂直方向位置的不一

6,

致性对探测效率不确定度的贡献分别小于

0.03%。

谱仪应配备有长寿命的高中低能区至少各有一条射线的监督源以监督谱

7、γ,

仪的长期稳定性

。

谱仪在能区内测量发射率的量程为35-1总不

860~1408keVγ4×10~4×10s,

确定度σ

(1.5~5)%(3)。

三检定条件

60133241点状标准源各一个效率校准用活度分别为

9Co、Ba、Amγ,,(2~4)×

45和5