标准解读
《GB/T 7734-2015 复合钢板超声检测方法》与《GB/T 7734-2004 复合钢板超声波检验方法》相比，在多个方面进行了修订和更新，以适应技术进步和行业需求的变化。具体变更包括但不限于以下几个方面：
-
标准名称调整：从“复合钢板超声波检验方法”变更为“复合钢板超声检测方法”，虽然只是表述上的微调，但更准确地反映了该标准所涵盖的内容。
-
适用范围的明确化：新版标准更加清晰地定义了其应用领域，即适用于厚度不小于6mm的不锈钢-钢、镍-钢等金属复合板的超声检测，同时也增加了对于某些特定材料组合的具体要求。
-
术语定义更新：根据行业发展和技术进步，对部分专业术语进行了重新定义或新增加了一些关键术语，以便更好地指导实践操作。
-
检测设备及探头要求提高：新版本中对于使用的超声波检测仪器以及探头性能参数提出了更高标准，确保检测结果更加准确可靠。
-
检测程序优化：在原有基础上进一步细化和完善了检测前准备、实际操作流程以及数据处理分析等内容，增强了可操作性和实用性。
-
缺陷评定规则完善：针对不同类型、大小、位置的缺陷，制定了更为详尽且合理的评估标准，并提供了更多样化的示例说明，帮助用户更准确地判断产品质量状况。
-
质量控制措施加强：强调了在整个检测过程中实施严格的质量管理体系的重要性，并给出了具体的实施建议，旨在提升整体检测水平和服务质量。
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....
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- 现行
- 正在执行有效
- 2015-12-10 颁布
- 2016-11-01 实施
文档简介
ICS7704020
H26..
中华人民共和国国家标准
GB/T7734—2015
代替
GB/T7734—2004
复合钢板超声检测方法
Methodforultrasonictestingofcladsteelplates
2015-12-10发布2016-11-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布
中国国家标准化管理委员会
GB/T7734—2015
目次
前言
…………………………Ⅰ
范围
1………………………1
规范性引用文件
2…………………………1
一般要求
3…………………1
检测方法
4…………………1
对比试样
5…………………2
检测设备及其调试
6………………………3
未结合部分的评定和分级
7………………5
结果的评定
8………………5
检测报告
9…………………5
GB/T7734—2015
前言
本标准按照给出的规则起草
GB/T1.1—2009。
本标准代替复合钢板超声波检验方法与相比主要技术内
GB/T7734—2004《》,GB/T7734—2004
容变化如下
:
将标准检测范围限定为复合面的结合质量的检测
———“”;
扫查方式增加可以根据要求进行扫查的固定
———100%;
将超声声学性能相似限定在声学衰减差别应在以内
———±25%;
在未结合缺陷的分级中增加可不记录的单个缺陷指示长度和任意一平方米内不作记录的
———“”“
未结合区应不超过两处的规定
”。
本标准由中国钢铁工业协会提出
。
本标准由全国钢标准化技术委员会归口
(SAC/TC183)。
本标准起草单位钢铁研究总院爱德森厦门电子有限公司冶金工业信息标准研究院钢研纳克
:、()、、
检测技术有限公司
。
本标准主要起草人张建卫范弘林俊明董莉刘涛沈海红张克贾慧明
:、、、、、、、。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为
:
———GB7734—1987;GB/T7734—2004。
Ⅰ
GB/T7734—2015
复合钢板超声检测方法
1范围
本标准规定了复合钢板超声检测方法的一般要求检测方法对比试样检测设备及其调试未结合
、、、、
部分的评定和分级等内容
。
本标准适用于基板厚度以上的轧制复合钢板和爆炸焊接复合钢板复合面的结合质量的检
4mm
测其他规格的复合钢板的超声检测也可参照本标准
。。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件
。,()。
厚钢板超声检测方法
GB/T2970—2016
型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件
JB/T10061A
3一般要求
31被检板材表面应平整光滑厚度均匀不应有液滴油污腐蚀和其他污物
.、、,、、。
32被检板材的内部组织不应在检测时产生影响检测的干扰回波
.。
33检测场地应避开强光强磁场强振动腐蚀性气体严重粉尘等影响超声波探伤仪稳定性或检测
.、、、、
人员可靠观察的因素
。
34从事板材超声检测人员应持有由认证机构颁发的超声探伤专业级及其以上资格证书签发检测
.1,
报告者应获得由认证机构颁发的超声探伤专业级及其以上资格证书
2。
4检测方法
41用单晶片或双晶片探头纵波脉冲反射法时探头在基板或复板一侧按间距沿垂直于轧制
.,50mm、
方向移动扫查如图所示也可采用扫查使用双晶片直探头扫查时隔声层应与扫查方向
(1),100%。
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